用于预测芯片寿命的芯片内建自检电路系统技术方案
An internal self inspection circuit system used to predict the life of the chip
The invention proposes a chip built in self checking circuit for predicting the life of chips, which provides maintenance basis for maintainers, and prevents them in advance, and reduces unnecessary losses. The structure is built on the chip, including the threshold setting module, the parameter detection module, the comparison module, the information sending module and so on. The threshold setting module for selection can be used to detect the state of the chip module and the failure value; the parameter detection module is used to obtain real-time chip working state parameter; the comparison module, the numerical chip parameters and thresholds compared to the instant; information sending module, you can compare the results sent to the relevant personnel and equipment, the staff decided by the specific maintenance work content.
【技术实现步骤摘要】
用于预测芯片寿命的芯片内建自检电路系统
本专利技术涉及集成电路领域，尤其涉及整机工作系统功率器件、高可靠性器件等领域。
技术介绍
随着商业系统和工业的飞速发展，各界对电路系统的要求也越来越高。从以前的功能需求慢慢转变成可靠性需求。为了应对日益升高的工业界需要，电路系统的工作模式和机制也在有着不同程度的改进。对于一些对国民生产生活有较大影响的行业，如电力系统、水利系统等，尤其需要保证工作系统的可靠性，否则将带来难以估量的损失。众所周知，一个大的电路系统，归根结底，其核心为控制芯片以及相关的功率器件、高可靠性器件。这些元件的工作与否直接影响到整个系统能否正常运转。因此，保证这些关键部件的正常使用是保证整个系统正常运转的前提，如何维持这些关键部件的正常使用也越来越受到业界重视。基于下述考虑，芯片的自检电路受到业界的广泛关注：1，对高可靠性器件而言，需要长期稳定的工作。一旦出现损坏且未及时更换，将会对整个系统产生不良影响，造成巨大损失。；2，对于芯片、功率器件和高可靠性器件，有时因为技术水平所限，无法制造出长寿命的器件。为了应对工作系统的需要，常常采用定期更换的方法来简介...
【技术保护点】
一种用于预测芯片寿命的芯片内建自检电路系统，其特征在于，包括：阈值设置模块，参数检测模块，比较模块，信息发送模块以及各模块间的连接电路；四个模块以及连接电路构成芯片自检电路整体；整个电路有输出和输入端口，便于获取和发送信息。
【技术特征摘要】
1.一种用于预测芯片寿命的芯片内建自检电路系统，其特征在于，包括：阈值设置模块，参数检测模块，比较模块，信息发送模块以及各模块间的连接电路；四个模块以及连接电路构成芯片自检电路整体；整个电路有输出和输入端口，便于获取和发送信息。2.如权利要求1所述的电路系统，其特征在于，所述阈值设置模块包含参数种类选择部分以及数值设定部分；参数种类选择将要检测的参数，数值设定则用于设置检测阈值，即用于与实际值相比较的标准。3.如权利要求1所述的电路系统，其特征在于，所述参数检测模块...
【专利技术属性】
技术研发人员：陆宇，陈昭，程玉华，
申请(专利权)人：上海北京大学微电子研究院，
类型：发明
国别省市：上海,31
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