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本发明提出用于预测芯片寿命的芯片内建自检电路，为维护人员提供维护依据，提前做好防范，减小不必要的损失。该结构建立于芯片上，包括：阈值设置模块，参数检测模块，比较模块，信息发送模块等。所述阈值设置模块，用以选择可以用来检测芯片状态的模块以及失...
该专利属于上海北京大学微电子研究院所有，仅供学习研究参考，未经过上海北京大学微电子研究院授权不得商用。

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