本发明专利技术LED自动寿命测试装置及方法，属于LED测试技术领域；解决的技术问题是提供了LED自动寿命测试装置及方法，可实现老化环境温度与测试温度的可控性，设置一体化的温控器，实现环境温度与测试温度的调节与监控，确保了LED芯片寿命测试结果的准确性；采用的技术方案为：LED自动寿命测试装置及方法，LED自动寿命测试装置包括电源供应器、测试台、自动载入装置、探测器、温控器和数据处理模块，电源供应器与测试台电连接，自动载入装置将待测芯片放入测试台，测试台还连接有温控器和探测器，探测器的输出端连接有数据处理模块，LED自动寿命测试方法包括温控器控制温度，校正片校正整个装置，达到精度后放入待测芯片进行测试。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术LED自动寿命测试装置及方法，属于LED测试
技术介绍
LED被称为第四代照明光源或绿色光源，具有节能、环保、体积小等特点，广泛应 用于各种指示、显示、装饰、背光源、普通照明和城市夜景等领域，因此，其使用寿命成为LED 生产商和使用者最为重视的要素之一。 传统LED芯片寿命测试方法为：将LED芯片简易封装后，对其进行加速老化，通过 测试光电性推测其寿命。由于LED芯片对温度变化产生的材料热胀冷缩形变疲劳很敏感， 加速老化过程需严格控制环境温度。红光LED芯片光强即时测试结果受温度影响较大，为 避免老化前后测试结果有误差，通常在测试前利用校正片对测试机台进行光电性校正。该 方法对校正片的稳定性与测试温度要求较高，寿命测试结果容易受各个因素的影响，且LED 芯片老化与测试过程较繁琐。
技术实现思路
本专利技术克服了现有技术存在的不足，提供了 LED自动寿命测试装置及方法，可实 现老化环境温度与测试温度的可控性，设置一体化的温控器，实现环境温度与测试温度的 调节与监控，确保了 LED芯片寿命测试结果的准确性。 为了解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案为：LED自动寿命测试装置，包 括电源供应器、测试台、自动载入装置、探测器、温控器和数据处理模块，所述电源供应器与 测试台电连接并为测试台提供恒定的电流，所述测试台上设置有自动载入装置，所述自动 载入装置包括载入台与驱动装置，所述载入台通过驱动装置在测试台上移动，所述测试台 还连接有温控器和探测器，所述温控器内设置有温度传感器，所述温控器通过温度传感器 控制测试台内的温度，所述探测器内设置有光电转换器并将测试台产生的光信号转换为电 信号，所述探测器的输出端连接有数据处理模块，所述数据处理模块将探测器输出的数据 进行处理和分析。 所述测试台外侧设有用于遮挡外界杂散光的遮光箱。 所述测试台连接有用于获取影像资料的图像控制器。 LED自动寿命测试方法，按照以下步骤进行： a、 将校正片放入自动载入装置； b、 提供电流源，设定温控器的控制温度为20±2°C ; c、 自动载入校正片，点亮校正片； d、 温控器和探测器将信号输入数据处理模块； e、 数据处理模块分析输入信号并输出曲线和数据； f、 根据输出的数据对装置进行矫正； g、 当输出的校正片的校正值在±2%的范围内波动时，装置校正完成； h、 将校正片取出，放入待测LED芯片； i、 对待测LED芯片进行测试并通过数据处理模块输出测试数据。 本专利技术与现有技术相比具有的有益效果是： 本专利技术采用温控器，将测试的环境温度和测试温度控制在最佳值，减少了环境对测试 结果的影响，减少了校正片的测试次数，提高了校正效率，避免了校正片使用频率过高而导 致的校正片损坏；同时，采用自动载入装置和数据处理模块，实现全程自动测量和校正数据 计算，在确保老化前后测试条件一致的前提下，使得校正操作过程更加快速、便捷。【附图说明】 下面结合附图对本专利技术做进一步的说明。 图1为本专利技术的控制原理图。【具体实施方式】 如图1所示，本专利技术LED自动寿命测试装置，包括电源供应器、测试台、自动载入装 置、探测器、温控器和数据处理模块，所述电源供应器与测试台电连接并为测试台提供恒定 的电流，用以点亮芯片，进行光电性的量测，所述测试台上设置有自动载入装置，所述自动 载入装置包括载入台与驱动装置，所述载入台通过驱动装置在测试台上移动，将待测校正 片或芯片运送至收光头下。 所述测试台还连接有温控器和探测器，所述温控器内设置有温度传感器，所述温 控器通过温度传感器控制测试台内的温度，所述探测器内设置有光电转换器并将测试台产 生的光信号转换为电信号，所述探测器的输出端连接有数据处理模块，所述数据处理模块 对接收到的测试电信号进行降噪、放大等预处理，对校正片的测试数据进行计算分析，得出 校正值并修正测试结果。 所述测试台外侧设有用于遮挡外界杂散光的遮光箱，所述遮光箱能避免环境中的 杂散光对测试数据的影响，为校正与LED芯片的测试提供了有效的环境。 所述测试台连接有用于获取影像资料的图像控制器，利用图像控制器测试人员可 随时监控测试情况。 LED自动寿命测试方法，按照以下步骤进行： a、 将校正片放入自动载入装置； b、 提供电流源，设定温控器的控制温度为20±2°C ; c、 自动载入校正片，点亮校正片； d、 温控器和探测器将信号输入数据处理模块； e、 数据处理模块分析输入信号并输出曲线和数据； f、 根据输出的数据对装置进行矫正； g、 当输出的校正片的校正值在±2%的范围内波动时，装置校正完成； K将校正片取出，放入待测LED芯片； i、对待测LED芯片进行测试并通过数据处理模块输出测试数据。 具体校正结果，如下表所示：【主权项】LLED自动寿命测试装置，其特征在于：包括电源供应器、测试台、自动载入装置、探测 器、温控器和数据处理模块，所述电源供应器与测试台电连接并为测试台提供恒定的电流， 所述测试台上设置有自动载入装置，所述自动载入装置包括载入台与驱动装置，所述载入 台通过驱动装置在测试台上移动，所述测试台还连接有温控器和探测器，所述温控器内设 置有温度传感器，所述温控器通过温度传感器控制测试台内的温度，所述探测器内设置有 光电转换器并将测试台产生的光信号转换为电信号，所述探测器的输出端连接有数据处理 模块，所述数据处理模块将探测器输出的数据进行处理和分析。2. 根据权利要求1 LED自动寿命测试装置，其特征在于：所述测试台外侧设有用于遮 挡外界杂散光的遮光箱。3. 根据权利要求1 LED自动寿命测试装置，其特征在于：所述测试台连接有用于获取 影像资料的图像控制器。 4. LED自动寿命测试方法，其特征在于：按照以下步骤进行： a、 将校正片放入自动载入装置； b、 提供电流源，设定温控器的控制温度为20±2°C ; c、 自动载入校正片，点亮校正片； d、 温控器和探测器将信号输入数据处理模块； e、 数据处理模块分析输入信号并输出曲线和数据； f、 根据输出的数据对装置进行矫正； g、当输出的校正片的校正值在±2%的范围内波动时，装置校正完成； K将校正片取出，放入待测LED芯片； i、对待测LED芯片进行测试并通过数据处理模块输出测试数据。【专利摘要】本专利技术LED自动寿命测试装置及方法，属于LED测试
；解决的技术问题是提供了LED自动寿命测试装置及方法，可实现老化环境温度与测试温度的可控性，设置一体化的温控器，实现环境温度与测试温度的调节与监控，确保了LED芯片寿命测试结果的准确性；采用的技术方案为：LED自动寿命测试装置及方法，LED自动寿命测试装置包括电源供应器、测试台、自动载入装置、探测器、温控器和数据处理模块，电源供应器与测试台电连接，自动载入装置将待测芯片放入测试台，测试台还连接有温控器和探测器，探测器的输出端连接有数据处理模块，LED自动寿命测试方法包括温控器控制温度，校正片校正整个装置，达到精度后放入待测芯片进行测试。【IPC分类】G01R31-26【公开号】CN104808128【申请号】CN201510147536【专利技术人】段丽娟 【申请人】山西南烨立碁光电有限本文档来自技高网...
【技术保护点】
LED自动寿命测试装置，其特征在于：包括电源供应器、测试台、自动载入装置、探测器、温控器和数据处理模块，所述电源供应器与测试台电连接并为测试台提供恒定的电流，所述测试台上设置有自动载入装置，所述自动载入装置包括载入台与驱动装置，所述载入台通过驱动装置在测试台上移动，所述测试台还连接有温控器和探测器，所述温控器内设置有温度传感器，所述温控器通过温度传感器控制测试台内的温度，所述探测器内设置有光电转换器并将测试台产生的光信号转换为电信号，所述探测器的输出端连接有数据处理模块，所述数据处理模块将探测器输出的数据进行处理和分析。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：段丽娟，
申请(专利权)人：山西南烨立碁光电有限公司，
类型：发明
国别省市：山西;14
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