【技术实现步骤摘要】
Cu-Ni-Si系合金及其制造方法本申请是申请日为2012年4月4日的专利技术名称为“Cu-Ni-Si系合金及其制造方法”、国家申请号为201280042580.X的专利技术专利申请的分案申请。
本专利技术涉及适宜作为连接器、端子、继电器、开关等的导电性弹簧材料的、具有优异的强度、弯曲加工性的铜合金及其制造方法。
技术介绍
近年来,伴随电子仪器的小型化,电气・电子部件的小型化不断发展。而且,对于用于这些部件的铜合金,要求良好的强度、导电率。在车载用端子中,伴随小型化,对所使用的铜合金也要求良好的强度、导电率。进而,车载用母端子多在加压弯曲加工前对弯曲内面实施被称为局部冲裁(notching)加工的切口加工。这是为提高加压弯曲加工后的形状精度而进行的加工。伴随产品小型化,存在为了进一步提高端子的形状精度而使局部冲裁加工加深的倾向。因此,对于用于车载用母端子的铜合金,除了良好的强度、导电率之外,还要求良好的弯曲加工性。进而,在继电器端子中,伴随小型化,为了获得所期望的强度而对材料实施密合弯曲,因而对于材料也要求良好的弯曲加工性。对应于这些要求,使用具有高的强度和导电率 ...
【技术保护点】
Cu‑Ni‑Si系合金,其含有1.0~4.5质量%的Ni和0.2~1.0质量%的Si,且剩余部分由铜和不可避免的杂质构成,在进行EBSD(Electron Back‑Scatter Diffraction:电子背散射衍射)测定并分析结晶取向时,Cube取向{0 0 1}<1 0 0>的面积率为5%以上,Brass取向{1 1 0}<1 1 2>的面积率为20%以下,Copper取向{1 1 2}<1 1 1>的面积率为20%以下,加工硬化指数为0.2以下。
【技术特征摘要】
2011.08.29 JP 2011-1859621.Cu-Ni-Si系合金,其含有1.0~4.5质量%的Ni和0.2~1.0质量%的Si,且剩余部分由铜和不可避免的杂质构成,在进行EBSD(ElectronBack-ScatterDiffraction:电子背散射衍射)测定并分析结晶取向时,Cube取向{001}<100>的面积率为5%以上,Brass取向{110}<112>的面积率为20%以下,Copper取向{112}<111>的面积率为20%以下,加工硬化指数为0.2以下。2.权利要求1所述的Cu-Ni-Si系合金,其含有以总量计为0.005~2.5质量%的Sn、Zn、Mg、Fe、Ti、Zr、Al、P、Mn、Co、Cr和Ag之中的1种以上。3.权利要求1或2所述的Cu-Ni-Si系合金的制...
【专利技术属性】
技术研发人员:长野真之,
申请(专利权)人:JX日矿日石金属株式会社,
类型:发明
国别省市:日本,JP
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