一种水平电极倒装红光LED芯片及其制备方法技术

技术编号:14030227 阅读:58 留言:0更新日期:2016-11-19 18:47
一种水平电极倒装红光LED芯片及其制备方法,涉及LED芯片的生产技术领域。本发明专利技术方法无需在ODR介质层内开孔,而是利用整面ODR介质层与键合层形成ODR全方位反射镜,使P面保证较高的反射水平;通过湿法腐蚀从N面刻蚀至P‑GaP层,在P‑GaP电流扩展层上淀积金属,光刻实现P‑Pad 中心电极的制作,最后形成水平电极结构的AlGaInP倒装红光芯片。本发明专利技术工艺简单、合理,可使RGB混合应用端封装成本较低。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及LED芯片的生产

技术介绍
目前提高AlGaInP四元系红光芯片光效的最有效方式为采用晶圆键合(Wafer bonding)的衬底转移技术,并结合制作P面全方位反射镜(ODR)及N面粗化工艺,结合这三种工艺可使得制备的AlGaInP红光LED芯片光效为传统正装结构芯片的3~4倍;但是,在制作高反射率的ODR时,常采用SiO2或MgF2作为介质层,这两种材质均不导电,为使P极载流子顺利通过介质层并到达有源区,需要在介质层中刻蚀出一定大小和数量的孔洞,并填充金属导电欧姆接触材料,介质孔的存在会大幅降低ODR对从有源区射向P面的光的反射率,此外工艺上由于ODR介质孔内导电金属与P面GaP欧姆接触难以控制,容易造成芯片局部电流集中,顺向电压Vf偏高,抗静电等可靠性差的问题;而且其N、P电极在芯片的上下两侧,为垂直结构,与蓝绿光芯片电极结构上的差异,使RGB混合应用端封装成本提高。
技术实现思路
本专利技术目的是提出一种N、P电极在芯片的同侧,芯片顺向电压Vf较低、抗静电性能较好的水平电极倒装红光LED芯片。本专利技术在衬底的同一侧依次设置有键合层、ODR介质层、P-Ga本文档来自技高网...
一种<a href="http://www.xjishu.com/zhuanli/59/201610725210.html" title="一种水平电极倒装红光LED芯片及其制备方法原文来自X技术">水平电极倒装红光LED芯片及其制备方法</a>

【技术保护点】
一种水平电极倒装红光LED芯片,包括衬底、键合层,其特征在于在键合层上依次设置ODR介质层和P‑GaP电流扩展层,在一小部分P‑GaP电流扩展层上设置P面P‑Finger扩展电极和P‑Pad 中心电极,在大部分P‑GaP电流扩展层上依次设置P‑Space限制层、MQW有源区、N‑Space限制层和N‑AlGaInP粗化层;在部分N‑AlGaInP粗化层上设置N‑GaAs欧姆接触层,在N‑GaAs欧姆接触层上设置N面N‑Finger扩展电极和N‑Pad 中心电极。

【技术特征摘要】
1.一种水平电极倒装红光LED芯片,包括衬底、键合层,其特征在于在键合层上依次设置ODR介质层和P-GaP电流扩展层,在一小部分P-GaP电流扩展层上设置P面P-Finger扩展电极和P-Pad 中心电极,在大部分P-GaP电流扩展层上依次设置P-Space限制层、MQW有源区、N-Space限制层和N-AlGaInP粗化层;在部分N-AlGaInP粗化层上设置N-GaAs欧姆接触层,在N-GaAs欧姆接触层上设置N面N-Finger扩展电极和N-Pad 中心电极。2.如权利要求1所述水平电极倒装红光LED芯片的制备方法,其特征在于包括以下步骤:1)采用MOCVD方法,在一临时衬底的同一侧依次生长N-Ga0.5In0.5P腐蚀停层、N-GaAs欧姆接触层、N-AlGaInP粗化层、N-Space限制层、MQW有源区、P-Space限制层和P-GaP电流扩展层,取得外延片;2)在外延片的P-GaP电流扩展层上依次...

【专利技术属性】
技术研发人员:石峰杨凯林鸿亮赵宇田海军李波张双翔
申请(专利权)人:扬州乾照光电有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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