【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于芯片封装
,具体涉及一种指纹产品封装结构的金线打线方法。
技术介绍
在指纹识别封装领域,为了获得更好的指纹信号,金线线弧高度必须控制在60μm以下。传统半导体封装使用金线进行芯片功能连接,常规焊线制程的线弧高度需要控制在75μm以上。原因是当线弧高度低于75μm时,线弧由于过于紧绷,张力增加,易拉伤线弧,当线弧张力超过线材本身延展力时,会使线弧断裂。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种指纹产品封装结构的金线打线方法,可以使得金线线弧高度最终低于60μm,以便在超低线弧高度的情况下完成指纹产品的封装,获得更好的指纹信号。为实现上述专利技术目的,本专利技术采用了如下技术方案:一种指纹产品封装结构的金线打线方法,所述指纹产品封装结构包括:一基板;一芯片,堆叠于所述基板的顶面上;所述芯片和基板之间用胶带粘接;封装结构的封装空间内填充有绝缘树脂,所述芯片通过金线键合技术电性连接至所述基板,其特征在于,所述金线的打线方法包括以下步骤:(1)在将焊球焊在焊垫上之后,瓷嘴沿Z方向放出大约35~45μm的金线作为线弧的基础高度;所述Z方向为基板往芯片的垂直向上的方向;所述瓷嘴为毛细管劈刀;垂直放出的金线能最大程度上减少瓷嘴在放线过程中对金线的损伤,以最大化保持金线的韧性,避免后续的线弧动作破坏线弧结构。(2)当瓷嘴达到距离焊垫35~45μm时,瓷嘴停止Z方向运动,开始沿基板往芯片方向放出约5~10μm的金线;该段金线用于保证最终线弧形成后,线弧最高点在焊垫上方。反向放线量过小,线弧会呈现出前倾的现象,线弧内部张力增加,容易拉断线弧;反向放线量过大,线 ...
【技术保护点】
一种指纹产品封装结构的金线打线方法,所述指纹产品封装结构包括:一基板;一芯片,堆叠于所述基板的顶面上;所述芯片和基板之间用胶带粘接;封装结构的封装空间内填充有绝缘树脂,所述芯片通过金线键合技术电性连接至所述基板,其特征在于,所述金线的打线方法包括以下步骤:(1)在将焊球焊在焊垫上之后,瓷嘴沿Z方向放出大约35~45μm的金线作为线弧的基础高度;所述Z方向为基板往芯片的垂直向上的方向;所述瓷嘴为毛细管劈刀;(2)当瓷嘴达到距离焊垫35~45μm时,瓷嘴停止Z方向运动,沿基板往芯片方向放出约5~10μm的金线;(3)停止放线,瓷嘴向Z反方向压低3~5μm,将线弧压出轻微弧度;(4)继续沿Z方向放出10~15μm的金线;(5)停止放线,沿芯片往基板方向移动5~10μm,使瓷嘴再次回到焊垫正上方;(6)利用瓷嘴向下压10~15μm,使最终的金线线弧高度达到<60μm。
【技术特征摘要】
1.一种指纹产品封装结构的金线打线方法,所述指纹产品封装结构包括:一基板;一芯片,堆叠于所述基板的顶面上;所述芯片和基板之间用胶带粘接;封装结构的封装空间内填充有绝缘树脂,所述芯片通过金线键合技术电性连接至所述基板,其特征在于,所述金线的打线方法包括以下步骤:(1)在将焊球焊在焊垫上之后,瓷嘴沿Z方向放出大约35~45μm的金线作为线弧的基础高度;所述Z方向为基板往芯片的垂直向上的方...
【专利技术属性】
技术研发人员:倪俊阳,
申请(专利权)人:力成科技苏州有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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