【技术实现步骤摘要】
用于修正掩模的倾角的设备以及基质处理设备
本专利技术涉及一种用于修正掩模的倾角的设备,所述掩模用于通过使用激光束使基质图案化,所述用于修正掩模的倾角的设备应用于基质处理设备。
技术介绍
根据有机电致发光装置的材料和工艺,有机电致发光显示装置可以分为使用湿法工艺的高分子装置和使用沉积工艺的低分子装置。在使高分子发光层或低分子发光层图案化的方法之中的喷墨印刷方法的情况下,除了发光层之外的有机层在材料上受到限制,并且不便于在基质上形成用于喷墨印刷的结构。而且,当发光层通过沉积工艺得到图案化时,由于金属掩模的使用而难以制造大型装置。 作为图案化方法的替代技术,使用激光诱导热成像(13861 111(11106(1 1111叫1118,1111)方法。III!方法被定义为这样一种方法,其中从光源产生的激光束被转换成热能,并且随后用于形成图案的材料由于热能而传递到基质上以在基质上形成图案。为此,施体薄膜具有这样一种结构,其中作为受体的基质完全由施体薄膜覆盖,并且施体薄膜和基质被固定到载物台上。施体薄膜和基质通过层压工艺进一步彼此附接,并且随后通过使用激光束传递到基质上以使基质完全图案化。也就是说,当激光被照射到发光层先前形成于其上的施体薄膜或施体基质上时,发光层与施体薄膜或施体基质分离并且随后被传递到受体基质上以形成像素。 图1是使用激光束的基质处理设备的视图。 使用激光束的基质处理设备10包含激光源300,所述激光源300用于产生激光束;投影透镜400,所述投影透镜400设置在激光源300的下方;以及掩模1,所述掩模1设置在激光源30 ...
【技术保护点】
一种用于修正掩模的倾角的设备,其特征在于,所述设备包括:掩模支撑主体,所述掩模支撑主体经配置以支撑其上形成有图案的掩模;掩模支撑主体移动单元,所述掩模支撑主体移动单元经配置以改变所述掩模支撑主体的XY平面的倾角;照相机单元,所述照相机单元为穿过设置在基质支撑件上的基质的激光束拍照,以产生激光束穿透图像;以及控制单元,所述控制单元经配置以控制所述掩模支撑主体移动单元,由此改变所述掩模的所述XY平面的所述倾角,以使得当所述激光束穿透图像偏离参考焦点图像时,所述激光束穿透图像与所述参考焦点图像匹配。
【技术特征摘要】
2013.08.28 KR 10-2013-01024781.一种用于修正掩模的倾角的设备,其特征在于,所述设备包括: 掩模支撑主体,所述掩模支撑主体经配置以支撑其上形成有图案的掩模; 掩模支撑主体移动单元,所述掩模支撑主体移动单元经配置以改变所述掩模支撑主体的XY平面的倾角; 照相机单元,所述照相机单元为穿过设置在基质支撑件上的基质的激光束拍照,以产生激光束穿透图像;以及 控制单元,所述控制单元经配置以控制所述掩模支撑主体移动单元,由此改变所述掩模的所述XY平面的所述倾角,以使得当所述激光束穿透图像偏离参考焦点图像时,所述激光束穿透图像与所述参考焦点图像匹配。2.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述照相机单元设置在所述基质支撑件中。3.根据权利要求2所述的设备,其特征在于,所述照相机单元包括红外线照相机和近红外线照相机中的一者。4.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述掩模支撑主体包括: 掩模固持器,所述掩模固持器具有中心部分穿透的框架形状,所述掩模固持器具有第一顶点、第二顶点、第三顶点和第四顶点,其中所述掩模放置在所述掩模固持器上,并且所述掩模固持器的所述XY平面的倾角是变化的; 掩模状态,所述掩模状态经配置以支撑其顶部表面上的所述掩模固持器;以及倾角变化模块,所述倾角变化模块经配置以单独地调节所述掩模固持器的所述顶点的Z轴高度,以改变所述XY平面的所述倾角。5.根据权利要求4所述的设备,其特征在于,所述倾角变化模块包括: 高度调节部分,所述高度调节部分经配置以使所述掩模固持器的所述第一顶点、所述第二顶点和所述第三顶点的所述Z轴高度能够单独地升高或降低;以及 支撑主体,所述支撑主体经配置以将所述掩模固持器的所述第四顶点连接到掩模载物台上。6.根据权利要求5所述的设备,其特征在于,所述高度调节部分是在其纵向方向上长度可变地调节的电动机,并且其纵向方向上的两端分别连接到所述掩模载物台和所述掩模固持器的所述顶点上。7.根据权利要求5所述的设备,其特征在于,所述高度调节部分包括: 第一高度调节部分,所述第一高度调节部分经配置以使所述掩模固持器的所述第一顶点的所述Z轴高度能够升高或降低; 第二高度调节部分,所述第二高度调节...
【专利技术属性】
技术研发人员:梁相熙,白圣焕,金戊一,金镐岩,
申请(专利权)人:AP系统股份有限公司,
类型:发明
国别省市:韩国;KR
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