本申请公开一种轨道板、传送轨道及光学检测设备，该轨道板包括主板体和导向块，所述主板体具有相对的第一端部和第二端部；所述第一端部和/或所述第二端部分别安装有所述导向块，通过所述导向块对进入的工件提供导向，使所述主板体不受进入的工件的撞击。...

本技术涉及一种支架组件及视觉检测设备，所述支架组件包括连接臂、摆臂、支撑杆、固定架；所述连接臂上设置有第一旋转关节，所述摆臂的一端可转动地设置在所述第一旋转关节上；所述摆臂的另一端设置有第二旋转关节，所述支撑杆可转动地设置在所述第二旋转...

本技术公开一种脚杯及设备，属于水平调节机构的领域，其中，脚杯包括设有球槽的底座、转动式安装在所述球槽内的球体、与所述球体连接的支撑螺杆，以及与所述支撑螺杆螺纹连接的支撑螺母；所述底座具有抵接面，所述抵接面的中央区域开设有避空槽。本技术的...

本申请公开一种移动平台及AOI光学检测设备，移动平台包括相互垂直的X向移动机构以及Y向移动机构，Y向移动机构包括相互平行的两Y向导轨，与Y向导轨平行的设置有Y向驱动机构，X向移动机构通过X向龙门横梁设在两Y向导轨上，X向龙门横梁为挤压铝...

本申请公开一种图像采集组件及成像装置，所述成像装置包括：框架、至少两组图像采集组件和光源组件，所述框架的侧面设置有安装位；每组所述图像采集组件均可拆卸地安装于所述安装位上，且两组所述图像采集组件安装于所述框架上后能够在检测板上形成大小不...

本公开涉及AOI检测技术领域，公开一种基于AOI的器件抽检方法及AOI检测设备。方法包括：获取目标PCB板的器件视觉图像，器件视觉图像包括布设在目标PCB板上的各个器件对应的像素区域，每个器件配置有器件信息标签及至少两种AOI算法模型，...

本申请公开了一种传感器控制方法、装置、光学检测设备及存储介质。该方法包括：获取待检测物的位置信息以及成像系统的状态信息；状态信息包括成像系统的位置状态信息和工作状态信息；在根据位置信息确定待检测物到达目标检测区域时，根据位置状态信息和工...

本申请公开了目标识别方法、装置、设备及计算机可读存储介质，该目标识别方法包括：获取模板图像和待测图像；确定待测图像中多个窗口图像分别与模板图像的第一相似度，并根据第一相似度确定待定目标图像；基于相同的预设划分方式，将模板图像划分为多个第...

本申请公开了一种元器件的配参方法、配参装置、配参设备及存储介质，该配参方法包括:获取电路板的光学检测图像；获取光学检测图像中的待检测元器件的信息；基于待检测元器件的信息，从元器件库中查找出与待检测元器件关联的检测参数，元器件库中预先存储...

本发明公开了一种色环电阻检测方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取待检测色环电阻的第一图像和所述待检测色环电阻对应的参考模板图像；将所述第一图像和所述参考模板图像进行拼接，得到所述待检测色环电阻对应的目标图像；根据所述目标图像确定...

本实用新型公开一种光源安装结构及检测设备，其中，光源安装结构包括安装顶板、上层光源组件和下层光源组件。安装顶板上设置有第一条形槽、第二条形槽和弧形槽，上层光源组件通过穿过第二条形槽的第三固定件可移动设置于安装顶板上，下层光源组件通过穿过...

本发明公开了一种校正方法

本发明实施例公开了一种标定方法

本发明公开了一种锡膏区域确定方法

本发明公开了一种

本公开公开一种

本申请公开了一种电路板保护层的厚度检测方法

本申请公开了焊点检测方法

本实用新型公开一种AOI光源组件，包括壳体、发光组件和漫射板，壳体呈碗状，发光组件和漫射板均位于壳体内，且发光组件设置于漫射板和壳体的侧壁之间。其中发光组件上设置有UV(紫外线)

本申请公开了一种浮高检测装置、检测系统及检测方法，该浮高检测装置包括：运动机构以及数据采集机构；数据采集机构设置在运动机构上，数据采集机构包括成像组件和高度测量组件，成像组件和高度测量组件的光轴平行，高度测量组件在运动机构的带动下到达至...