一种倒装发光二极管测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种倒装发光二极管测试设备。所述倒装发光二极管测试设备包括测试部，所述测试部包括，第一安装部，设置有第一导轨和第二导轨；所述第一导轨平行于第二导轨；所述第一导轨与第二导轨之间设置有第一安装孔；承料部，同时连接于第一导轨和第二导轨，使承料部能够相对于第一安装部沿第一方向运动；积分球组件，安装于所述第一安装孔；通过第一安装部设置第一安装孔的方式取代常规在第一安装部设置悬臂梁的方式，悬臂梁结构易于受到设备振动的干扰，从而影响LED晶粒的光参数测试；承料部能够沿第一方向运动到正对应积分球组件的位置。

A Flip Light Emitting Diode Testing Equipment

【技术实现步骤摘要】
一种倒装发光二极管测试设备
本技术涉及一种倒装发光二极管测试设备。
技术介绍
倒装的LED晶粒，电极端背离发光端，为了测试方便需要将探针安装在上方与电极接触，从而发光端向下，为了测试LED晶粒的光参数，需要将积分球安装在承片台的下方。现有的技术方案是安装一悬臂机构，使积分球相对于承片台的侧方安装；由于是悬臂结构，积分球易因设备振动而改变收光位置。
技术实现思路
为解决现有倒装LED晶粒测试，积分球安装悬臂机构影响光参数测试的问题；本技术提出一种倒装发光二极管测试设备。本技术的技术方案为：1.一种倒装发光二极管测试设备，包括测试部，所述测试部包括，第一安装部，设置有第一导轨和第二导轨；所述第一导轨平行于第二导轨；所述第一导轨与第二导轨之间设置有第一安装孔；承料部，同时连接于第一导轨和第二导轨，使承料部能够相对于第一安装部沿第一方向运动；积分球组件，安装于所述第一安装孔。进一步的，所述积分球组件包括，积分球，用于收集光线；第一调节部，穿过所述第一安装孔并连接于所述第一安装部；所述积分球连接于所述第一调节部；通过调节所述第一调节部，使积分球穿过所述第一安装孔相对于承料部运动。进一步的，所述第一调节部包括，第二安装部，用于安装积分球；第三安装部，安装于第一安装部；第三安装部与第二安装部同时通过第三导轨和驱动气缸连接，在驱动气缸作用下，所述第二安装部相对于所述第三安装部沿第三导轨运动。进一步的，所述驱动气缸替换成电机驱动螺杆机构。进一步的，所述第一安装孔为“凸”字形；所述第三安装部包括引导部和贴合安装部，所述引导部相对于贴合安装部垂直连接；所述引导部贴合所述第一安装孔内壁，所述贴合安装部贴合并连接于所述第一安装部。进一步的，加强部同时连接于所述引导部和贴合安装部。进一步的，所述第一安装孔包括小孔部和大孔部；所述引导部穿过第一安装孔小孔部；所述积分球穿过所述第一安装孔大孔部。进一步的，所述测试部包括第一驱动部，同时连接于所述第一安装部和承料部，用于驱动所述承料部相对于所述第一安装部运动。进一步的，所述第一驱动部位于第一导轨和第二导轨之间。进一步的，所述承料部包括，第四安装部，连接于第一导轨与第二导轨；固料台，用于固定物料；所述固料台通过螺杆滑轨连接于第四安装部，所述固料台能够相对于所述第四安装部沿第二方向运动。本技术的有益效果在于：通过第一安装部设置第一安装孔的方式取代常规在第一安装部设置悬臂梁的方式，悬臂梁结构易于受到设备振动的干扰，从而影响LED晶粒的光参数测试；承料部能够沿第一方向运动到正对应积分球组件的位置。附图说明图1为本技术倒装发光二极管测试设备结构示意图；图2为测试部第一视角示意图；图3为测试部第二视角示意图；图4为积分球组件结构示意图；图5为承料部结构示意图。具体实施方式为便于本领域技术人员理解本技术的技术方案，下面将本技术的技术方案结合具体实施例作进一步详细的说明。如图1、图2、图3、图4和图5所示，一种倒装发光二极管测试设备100，包括测试部20，用于实现对LED晶粒的光参数和电参数测试，所述测试部20包括，第一安装部21，设置有第一导轨221和第二导轨222；所述第一导轨221平行于第二导轨222；所述第一导轨221与第二导轨222之间设置有第一安装孔211；承料部23，同时连接于第一导轨221和第二导轨222，使承料部23能够相对于第一安装部21沿第一方向a运动，由第一导轨221和第二导轨222共同限定第一方向a，采用多个导轨（包括第一导轨221和第二导轨222）有利于承料部23运动平稳；积分球组件24，安装于所述第一安装孔211，通过第一安装部21设置第一安装孔211的方式取代常规在第一安装部21设置悬臂梁的方式，悬臂梁结构易于受到设备振动的干扰，从而影响LED晶粒的光参数测试；承料部23能够沿第一方向a运动到正对应积分球组件24的位置。如图1、图2、图3、图4和图5所示，所述积分球组件24包括，积分球241，用于收集光线，连接光参数测试设备实现对LED晶粒光参数的测试；第一调节部242，穿过所述第一安装孔211并连接于所述第一安装部21，使积分球组件24从第一安装部21的底部安装，从而减小第一安装部21上方需要留置的空间，便于实现倒装发光二极管测试设备100小型化；所述积分球241连接于所述第一调节部242；通过调节所述第一调节部242，使积分球241穿过所述第一安装孔211相对于承料部23运动，便于所述积分球241的安装、拆卸和调整。如图1、图2、图3、图4和图5所示，所述第一调节部242包括，第二安装部2421，用于安装积分球241；第三安装部2422，安装于第一安装部21；第三安装部2422与第二安装部2421同时通过第三导轨2423和驱动气缸2424连接，在驱动气缸2424作用下，所述第二安装部2421相对于所述第三安装部2422沿第三导轨2423运动，从而实现积分球241相对于第一安装部21的可控调节，调节方便、使用安全可靠。如图1、图2、图3、图4和图5所示，所述驱动气缸2424替换成电机驱动螺杆机构；当然本实施例并不限定为上述两种方案，对于能够实现直线驱动的方案，比如直线电机等能够与上述方案等同的技术方案应该也属于本实施例公开的内容。如图1、图2、图3、图4和图5所示，所述第一安装孔211为“凸”字形；所述第三安装部2422包括引导部24221和贴合安装部24222，所述引导部24221相对于贴合安装部24222垂直连接，满足限位要求和固定要求；所述引导部24221贴合所述第一安装孔211内壁，实现限位功能；所述贴合安装部24222贴合并连接于所述第一安装部21，实现第一调节部242的固定；通过相互垂直的限位和连接，能够更好保证所述第一调节部242安装结构的稳定性。如图1、图2、图3、图4和图5所示，加强部24223同时连接于所述引导部24221和贴合安装部24222，增强所述导部24221和贴合安装部24222之间自身结构的稳定性，加强部24223具有加强筋的效果。如图1、图2、图3、图4和图5所示，所述第一安装孔211包括小孔部和大孔部，所述大孔部和小孔部两者相互作为参考，并不限定具体的尺寸；所述引导部24221穿过第一安装孔211小孔部；所述积分球241穿过所述第一安装孔211大孔部；为了在满足使用要求的前提下减小第一调节部242的尺寸和重量，设置成引导部24221宽度小于积分球241直径；将第一调节部242穿过小孔部连接，积分球241能够通过大孔部穿过，从而保证第一调节部242具有限位功能，安装人员也能够通过所述结构简易判断安装方向，从而防止安装错误。如图1、图2、图3、图4和图5所示，所述测试部20包括第一驱动部25，同时连接于所述第一安装部21和承料部23，用于驱动所述承料部23相对于所述第一安装部21运动；实现承料部23相对于第一安装部21位置可调，满足承料部23位置调节需求。如图1、图2、图3、图4和图5所示，所述第一驱动部25位于第一导轨221和第二导轨222之间，从而实现对承料部23运动平稳调节，运动精度高、提高倒装发光二极管测试设备100的可调性。如图1、图2、图3、图4和图5所示，所述承料部23包括，第四安本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种倒装发光二极管测试设备（100），包括测试部（20），其特征在于：所述测试部（20）包括，第一安装部（21），设置有第一导轨（221）和第二导轨（222）；所述第一导轨（221）平行于第二导轨（222）；所述第一导轨（221）与第二导轨（222）之间设置有第一安装孔（211）；承料部（23），同时连接于第一导轨（221）和第二导轨（222），使承料部（23）能够相对于第一安装部（21）沿第一方向（a）运动；积分球组件（24），安装于所述第一安装孔（211）。

【技术特征摘要】
1.一种倒装发光二极管测试设备（100），包括测试部（20），其特征在于：所述测试部（20）包括，第一安装部（21），设置有第一导轨（221）和第二导轨（222）；所述第一导轨（221）平行于第二导轨（222）；所述第一导轨（221）与第二导轨（222）之间设置有第一安装孔（211）；承料部（23），同时连接于第一导轨（221）和第二导轨（222），使承料部（23）能够相对于第一安装部（21）沿第一方向（a）运动；积分球组件（24），安装于所述第一安装孔（211）。2.根据权利要求1所述的倒装发光二极管测试设备（100），其特征在于：所述积分球组件（24）包括，积分球（241），用于收集光线；第一调节部（242），穿过所述第一安装孔（211）并连接于所述第一安装部（21）；所述积分球（241）连接于所述第一调节部（242）；通过调节所述第一调节部（242），使积分球（241）穿过所述第一安装孔（211）相对于承料部（23）运动。3.根据权利要求2所述的倒装发光二极管测试设备（100），其特征在于：所述第一调节部（242）包括，第二安装部（2421），用于安装积分球（241）；第三安装部（2422），安装于第一安装部（21）；第三安装部（2422）与第二安装部（2421）同时通过第三导轨（2423）和驱动气缸（2424）连接，在驱动气缸（2424）作用下，所述第二安装部（2421）相对于所述第三安装部（2422）沿第三导轨（2423）运动。4.根据权利要求3所述的倒装发光二极管测试设备（100），其特征在于：所述驱动气缸（2424）替换成电机驱动螺杆机构。5.根据权利要求3所述的倒装发光二极...

【专利技术属性】
技术研发人员：韦日文，李景均，
申请(专利权)人：深圳市矽电半导体设备有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44