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本实用新型公开了一种倒装发光二极管测试设备。所述倒装发光二极管测试设备包括测试部，所述测试部包括，第一安装部，设置有第一导轨和第二导轨；所述第一导轨平行于第二导轨；所述第一导轨与第二导轨之间设置有第一安装孔；承料部，同时连接于第一导轨和第二...
该专利属于深圳市矽电半导体设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市矽电半导体设备有限公司授权不得商用。

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