USB芯片的系统测试方法技术方案

本发明专利技术公开了一种USB芯片的系统测试方法，用于对USB3.0芯片进行系统测试，其包括如下步骤：a检测编码模块将标准USB3.0芯片内的所有逻辑状态按顺序依次标记，产生对应的标记函数；b检测编码模块按照设定的编码规则，将芯片内部逻辑状态所对应的标记函数进行编码，形成标准编码值，将标准编码值记录到标准文件库中；c在待测USB3.0芯片仿真过程中，检测模块将待测USB3.0芯片内部逻辑状态按照相同的编码规则进行编码，将获得的编码值记录到临时文件中，将编码值内容与标准编码值内容进行对比，查找对比结果不一致的编码值内容。本发明专利技术的USB芯片的系统测试方法，投资成本低，在测试过程与逻辑仿真同步进行，因而能够快速的对USB3.0芯片内部逻辑状态进行实时监控和错误定位。

【技术实现步骤摘要】
USB芯片的系统测试方法
本专利技术涉及芯片系统测试领域，更具体地涉及一种USB芯片的系统测试方法。
技术介绍
现有的USB3.0芯片的系统测试技术主要是通过FPGA板、USB3.0逻辑分析仪尔后利用相关的USB3.0标准测试函数对USB3.0芯片进行系统测试，其主要采取设计完成后的硬件成品测试，用USB3.0逻辑分析仪对连接USB3.0主机和从机设备的系统进行相关协议的测试，无法做到在逻辑设计的同时就对协议处理的逻辑状态实时纠错和定位。且现有技术USB3.0芯片的系统测试方式的缺点是投资成本高，因为逻辑分析仪与相关测试板(如FPGA板)成本较高，并且无法对USB3.0芯片内部逻辑状态做到实时监控和错误定位，只能对外部数据进行检查，因此错误定位速度慢，定位时间晚。因此，有必要提供一种改进的USB芯片的系统测试方法克服上述缺陷。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种USB芯片的系统测试方法，用于对USB3.0芯片进行系统测试，本专利技术的USB芯片的系统测试方法投资成本低，在测试过程与逻辑仿真同步进行，因而能够快速的对USB3.0芯片内部逻辑状态进行实时监控和错误定位。为实现上述目的，本专利技术提供一种USB芯片的系统测试方法，用于对USB3.0芯片进行系统测试，其包括如下步骤：a.检测编码模块将标准USB3.0芯片内的所有逻辑状态按顺序依次标记，且产生对应的标记函数；b.检测编码模块按照设定的编码规则，将芯片内部逻辑状态所对应的标记函数进行编码，形成标准编码值，并将标准编码值记录到标准文件库中；c.在待测USB3.0芯片仿真过程中，检测模块将待测USB3.0芯片内部逻辑状态按照相同的编码规则进行编码，将编码后获得的编码值记录到临时文件中，且将临时文件中的编码值内容与标准文件库中的标准编码值内容进行对比，查找对比结果不一致的编码值内容。较佳地，所述步骤c中的编码规则与所述步骤b中的编码规则相同。较佳地，在所述步骤c中，通过测试逻辑代码对待测USB3.0芯片进行系统测试。较佳地，在所述步骤c中，当临时文件中的编码值内容与标准文件库中记录的标准编码值内容对比的结果不一致时，中止对比，根据所述标记函数定位不一致的编码值内容，查找出错误所在待测USB3.0芯片中的位置。较佳地，所述标记函数存储于测试平台一固定数据库内。与现有技术相比，本专利技术的USB芯片的系统测试方法，通过将临时文件中的编码值内容与标准文件库中记录的标准编码值内容依次进行对比，实现对被测USB3.0芯片的实时监控，当对比结果不一致时，即可判断被测USB3.0芯片出错，从而通过对比结果即可判断被测USB3.0芯片是否有出错，且通过对比结果不一致的位置可准确地定位USB3.0芯片出错的位置，可快速地对错误进行定位。通过以下的描述并结合附图，本专利技术将变得更加清晰，这些附图用于解释本专利技术。附图说明图1为本专利技术USB芯片的系统测试方法的流程图。具体实施方式现在参考附图描述本专利技术的实施例，附图中类似的元件标号代表类似的元件。如上所述，本专利技术提供了一种USB芯片的系统测试方法，用于对USB3.0芯片进行系统测试，本专利技术的USB芯片的系统测试方法投资成本低，在测试过程与逻辑仿真同步进行，因而能够快速的对USB3.0芯片内部逻辑状态进行实时监控和错误定位。请参考图1，图1为本专利技术USB芯片的测试方法的流程图。如图1所示，所述USB芯片的测试方法，在本专利技术中具体为USB3.0芯片的测试方法，包括如下步骤：步骤S101，检测编码模块将标准USB3.0芯片内的所有逻辑状态按顺序依次标记，且产生对应的标记函数；在本步骤中，检测平台的检测编码模块将标准USB3.0芯片的所有逻辑状态按照顺序依次进行标记，并产生对应的标记函数；例如将逻辑状态LTSSM、SS.Disabled、SS.Inactive、Rx.Detect、Polling、compliance、Recovery、U0、U1、U2、U3、loopback、HotReset依次标记成0x1001、0x1002、0x1003、0x1004、0x1005、0x1006、0x1007、0x1008、0x1009、0x100a、0x100b、0x100c，且其他逻辑状态编码类似；另外，在本专利技术的优选实施方式中采用perl、C等编写的测试函数库对待测芯片内部的各个逻辑状态自动添加相关监控点。步骤S102，检测编码模块按照设定的编码规则，将芯片内部逻辑状态所对应的标记函数进行编码，形成标准编码值，并将标准编码值记录到标准文件库中；在本步骤中，所述检测编码模块在USB3.0协议的规定下，对通过标记产生的标记函数进行编码，从而形成标准编码值，并将标准编码值记录到测试平台的标准文件库中；其中所述编码规定为USB3.0协议下的常用编码规则，在此不再细述。例如在USB3.0芯片正常的枚举数据传输过程中，LTSSM相关协议中的逻辑状态为：SS.Disabled--Rx.Detect--Polling--U0，将各个逻辑状态首先标记成0x1001、0x1003、0x1004、0x1007，然后再将各个逻辑状态进行编码，存储到标准文件库中；另外，在本专利技术的优选实施方式中，所述标记函数存储于测试平台一固定数据库内，从而使得所述标准文件库中的标记函数可在多次测试中使用。步骤S103，在待测USB3.0芯片仿真过程中，检测模块将待测USB3.0芯片内部逻辑状态按照相同的编码规则进行编码，将编码后获得的编码值记录到临时文件中，且将临时文件中的编码值内容与标准文件库中的标准编码值内容进行对比，查找对比结果不一致的编码值内容；在本步骤中，利用测试逻辑代码对待测USB3.0芯片进行系统测试，在测试进行中通过测试检测模块将待测USB3.0芯片内部逻辑状态按照与步骤S102相同的编码规则进行编码，将编码后的编码值记录到测试平台的临时文件中，并将临时文件中的编码值内容与标记文件记录的标准编码值内容依次进行对比，其中编码值内容具体包括USB3.0芯片中各个逻辑值、所在模块位置、不应该出现的错误数值等信息。在本专利技术的优选实施方式中，当临时文件中的编码值内容与标准文件库中记录的标准编码值内容对比的结果不一致时，说明当前待测USB3.0芯片存在错误，从而中止对比，且根据所述标记函数定位不一致的编码值内容，查找出错误所在待测USB3.0芯片中的位置，即对当前待测USB3.0芯片的错误定位；当临时文件中的编码值内容与标准文件库中记录的标准编码值内容对比的结果一致时，则说明当前待测USB3.0芯片通过测试，不存在问题。本专利技术的USB芯片的测试方法，具体为USB3.0芯片的测试方法通过在测试平台上调用预先准备好的测试函数库对待测USB3.0芯片进行系统测试，且在测试过程中不需要使用FPGA板和USB3.0逻辑分析仪，因而投资成本低；另外，本专利技术的USB芯片的系统测试方法的测试过程与逻辑仿真几乎是同步的，因而能够快速的对芯片内部的逻辑状态进行实时监控并进行错误定位。以上结合最佳实施例对本专利技术进行了描述，但本专利技术并不局限于以上揭示的实施例，而应当涵盖各种根据本专利技术的本质进行的修改、等效组合。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种USB芯片的系统测试方法，用于对USB3.0芯片进行系统测试，其特征在于，包括如下步骤：a.检测编码模块将标准USB3.0芯片内的所有逻辑状态按顺序依次标记，且产生对应的标记函数；b.检测编码模块按照设定的编码规则，将芯片内部逻辑状态所对应的标记函数进行编码，形成标准编码值，并将标准编码值记录到标准文件库中；c.在待测USB3.0芯片仿真过程中，检测模块将待测USB3.0芯片内部逻辑状态按照相同的编码规则进行编码，将编码后获得的编码值记录到临时文件中，且将临时文件中的编码值内容与标准文件库中的标准编码值内容进行对比，查找对比结果不一致的编码值内容。

【技术特征摘要】
1.一种USB芯片的系统测试方法，用于对USB3.0芯片进行系统测试，其特征在于，包括如下步骤：a.检测编码模块将标准USB3.0芯片内的所有逻辑状态按顺序依次标记，且产生对应的标记函数；b.检测编码模块按照设定的编码规则，将芯片内部逻辑状态所对应的标记函数进行编码，形成标准编码值，并将标准编码值记录到标准文件库中；c.在待测USB3.0芯片仿真过程中，检测模块将待测USB3.0芯片内部逻辑状态按照相同的编码规则进行编码，将编码后获得的编码值记录到临时文件中，且将临时文件中的编码值内容与标准文件库中的标准编码值内容...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾月珑，王刚，
申请(专利权)人：四川和芯微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51