晶圆级摄像模组WLC自动测试插座制造技术

本实用新型专利技术公开了一种晶圆级摄像模组WLC自动测试插座，包括底座、模组放置结构和光源单元，所述底座与PCB转接板连接，所述底座包括安装于插座保持框内的测试单元，所述测试单元包括复数根测试探针以及沿远离PCB转接板的方向依次分布的探针保持主体和探针保持板，所述模组放置结构包括放置保持框和浮动板，所述放置保持框上设有至少一模组放置槽，所述浮动板设置于模组放置槽和探针保持主体之间，所述光源单元包括置于暗箱内的LED灯板和标准图版，所述模组放置槽、连接在放置保持框上的镜头、LED灯板和标准图版沿远离PCB转接板的方向依次分布。本实用新型专利技术能与不同测试机台兼容，实现对WLC模组的自动、高效、准确的测试，且不会损伤模组和芯片。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开了一种晶圆级摄像模组WLC自动测试插座，包括底座、模组放置结构和光源单元，所述底座与PCB转接板连接，所述底座包括安装于插座保持框内的测试单元，所述测试单元包括复数根测试探针以及沿远离PCB转接板的方向依次分布的探针保持主体和探针保持板，所述模组放置结构包括放置保持框和浮动板，所述放置保持框上设有至少一模组放置槽，所述浮动板设置于模组放置槽和探针保持主体之间，所述光源单元包括置于暗箱内的LED灯板和标准图版，所述模组放置槽、连接在放置保持框上的镜头、LED灯板和标准图版沿远离PCB转接板的方向依次分布。本技术能与不同测试机台兼容，实现对WLC模组的自动、高效、准确的测试，且不会损伤模组和芯片。【专利说明】晶圆级摄像模组WLC自动测试插座
本技术涉及一种芯片测试设备，特别是一种晶圆级摄像模组WLC自动测试插座。
技术介绍
晶圆级摄像模组WLC系列是目前美国APTINA IMAGING公司和昆山西钛QTECH研发的一种新型CMOS芯片成像集成系统，其用于CMOS图像传感器的封装，是由硅通孔技术TSV(Through Silicon Via)和晶圆级摄像镜头WLO(Wafer Level Optical)WL0组装起来形成的摄像对模组。目前由于大多数的CMOS成像模组是采用加载柔性线路板，进行SMT组装，结构上比较复杂，由于元器件较多，所实现功能没有WLC成像模组直接，可靠。相应所催生的现有模组测试插座是适用于现有摄像模组的结构，进行功能测试，一般采用ICT探针进行检测，结构复杂，容易产生开路和短路现象；稳定性较差，同时测试寿命大大降低；对现有的机构，基本采用手动测试，自动测试系统由于其机构复杂，没有完全实现；此外，目前市场上少有的测试插座会采用SEM1-CONTACTOR探针(P0G0 PIN)进行检测，由于其测试点为柔性线路板，接触点上定位比较困难，可靠性上存在很大的问题，测试效率不高。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种晶圆级摄像模组WLC自动测试插座，其能与不同测试机台兼容，实现对WLC模组的自动、高效、准确的测试，且不致损伤模组和芯片，从而克服了现有技术中的不足。为实现上述技术目的，本技术采用了如下技术方案:一种晶圆级摄像模组WLC自动测试插座，包括底座、模组放置结构和光源单元，所述底座与PCB转接板连接，所述底座包括安装于插座保持框内的测试单元，所述测试单元包括复数根测试探针以及沿远离PCB转接板的方向依次分布的探针保持主体和探针保持板，所述模组放置结构包括放置保持框和浮动板，所述放置保持框上设有至少一模组放置槽，所述浮动板设置于模组放置槽和探针保持主体之间，所述光源单元包括置于暗箱内的LED灯板和标准图版，所述模组放置槽、连接在放置保持框上的镜头、LED灯板和标准图版沿远离PCB转接板的方向依次分布。进一步的，所述测试探针采用半导体测试探针。所述测试探针内设有弹簧。本技术的工作原理在于，通过将被测试WLC模组(以下简称“测试模组”)置于该插座内，随着暗室内光源的明暗变化，该模组中的CSP芯片通过WL0镜头(即，测试镜头)对图像的采集，将光学信号输入CSP芯片中的感光区，将光学信号转成电流信号，并由测试探针将信号传输到PCB转接板，并将电流信号输入外设测试设备，在外设测试设备内将电流信号转成数字信号，重新生成图像信号；通过对适时生成的图像参数和原有的标准图像进行对比，判断是否满足设计要求。前述测试探针采用的是半导体测试用探针(P0G0 PIN)，可实现信号的微衰减，确保了测试的稳定性和可靠性；通过设置前述探针保持架，可解决操作人员和机台操作时放置测试模组精确定位问题，同时放置易操作，机台操作方便性大大增强，通过和测试机台的配合，满足产品测试达到产能要求:小时测试量高于4KPCS芯片。与现有技术相比，本技术至少具有如下优点:(1)该测试插座操作简单，使用方便，适用于WLC模组的测试和功能验证:(2)该测试插座中采用定位精确的浮板结构，能有效保护测试模组和芯片的结构不被测试损坏，延长探针的使用寿命；(3)该测试插座中上盖部分材料优选采用铝合金，其能利用高精度的CNC加成，确保了各项使用功能要求，而底座部分材料优选采用符合环保要求的T0RL0N4203，其亦可通过高精度的CNC加成完成，确保了各项尺寸精度要求；(4)该测试插座可以满足10万次的1C检测寿命，且小时测试量达到3KPCS以上，并能满足配合不同厂家的机台测试要求。【专利附图】【附图说明】图1是本技术一较佳实施例的结构示意图；图2是本技术一较佳实施例中底座的结构示意图；图3是本技术一较佳实施例中模组放置结构示意图；图4是本技术一较佳实施例中光源部分的结构示意图；图5是本技术一较佳实施例于非测试状态下的结构示意图；图6是本技术一较佳实施例于测试状态下的结构示意图；附图标记说明:PCB转接板1、探针保持主体2、浮动板3、插座保持框4、探针保持板5、测试探针6、放置保持框7、模组放置槽8、LED灯板9、标准图版10、暗箱11、自动调节焦距刻度尺12、测试插座A、模组放置结构B、设备分度盘C、图像采集区Z。【具体实施方式】以下结合附图及一较佳实施例对本技术的技术方案作进一步的说明。参阅图1，本实施例所涉及的一种晶圆级摄像模组WLC自动测试插座A,包括底座、模组放置结构B和光源单元，所述底座与PCB转接板1连接，其中，所述底座包括安装于插座保持框4内的测试单元，所述测试单元包括复数根测试探针6以及沿远离PCB转接板的方向依次分布的探针保持主体2和探针保持板5，所述模组放置结构包括放置保持框7和浮动板3，所述放置保持框上设有至少一模组放置槽8，所述浮动板设置于模组放置槽和探针保持主体之间，所述光源单元包括置于暗箱11内的LED灯板9和标准图版10，所述模组放置槽、连接在放置保持框上的镜头、LED灯板和标准图版沿远离PCB转接板的方向依次分布。进一步的,所述底座还包括设备连接板，所述设备连接板与PCB转接板连接，通过此设备连接板的设置，可使该插座与外设测试设备的联接简单化，如，仅仅用螺丝紧固即可。前述底座(SOCKET)部分可以采用T0RL0N4203材料，使得防静电等级达到1014Ohm.cm 等级。进一步的，所述测试探针内设有弹簧，并且，当上盖与底座完全盖合时，所述弹簧被压缩，并与被测试芯片上的锡球充分接触。而前述探针保持主体、探针保持板和探针保持框的组合，可使测试探针的放置和取出极为方便，并使得测试模组能自如的放入或取出。作为较为优选的实施方案之一，前述测试探针的工作过程可以为:(1)测试状态:当测试探针在受压时(模组放入放置槽内，同时上盖LID下压)内部弹簧压缩，预期设定的压缩值会使弹簧和被测试芯片上的锡球充分接触，而不会将被测试芯片的上锡球(常规直径在0.2?0.5mm,高度在0.1?0.25mm)扎破，且不会出现偏斜现象；(2)非测试状态:当测试探针在没受到外力压制的情况下，保持松弛状态，如此确保探针处于非受压状态，保证探针的使用寿命和寿命期内的导通功能正常，减少测试费用。优选的，所述测试探针可采用半导体探针，如此可以更好的实现对芯片中锡本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种晶圆级摄像模组WLC自动测试插座，包括底座、模组放置结构和光源单元，所述底座与PCB转接板连接，其特征在于，所述底座包括安装于插座保持框内的测试单元，所述测试单元包括复数根测试探针以及沿远离PCB转接板的方向依次分布的探针保持主体和探针保持板，所述模组放置结构包括放置保持框和浮动板，所述放置保持框上设有至少一模组放置槽，所述浮动板设置于模组放置槽和探针保持主体之间，所述光源单元包括置于暗箱内的LED灯板和标准图版，所述模组放置槽、连接在放置保持框上的镜头、LED灯板和标准图版沿远离PCB转接板的方向依次分布。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：朱小刚，柳慧敏，
申请(专利权)人：苏州创瑞机电科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：