显示模组点灯测试装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种显示模组点灯测试装置及方法，该装置用于对待测显示模组进行点灯测试，包括：存储器、外围电路及现场可编程门阵列芯片，其中，现场可编程门阵列芯片内集成有微处理器和显示界面控制器，微处理器用于输出初始化信息，且微处理器连接显示界面控制器，现场可编程门阵列芯片通过显示界面控制器而连接待测显示模组，以输出初始化信息至待测显示模组从而对待测显示模组进行初始化操作，并输出处理后的图片数据至待测显示模组，从而对待测显示模组进行点灯测试。通过上述方式，本发明专利技术能够简化点灯测试装置的硬件部分，减少外围电路设计，降低电子元器件的使用数量，提升点灯装置的稳定性，方便研发人员维护。

Lighting test device and method for display module

The invention discloses a display module lighting test device and method, the device for measuring display module for lighting test, including: memory, peripheral circuit and field programmable gate array chip, wherein, a field programmable gate array chip microprocessor and display interface controller, microprocessor for output initialization information, and the microprocessor is connected with the display interface controller, FPGA chip through the display interface controller is connected to the output display module to be tested, initialization information display module to be tested and tested on display module initialization operation, and outputting the processed image data to be measured to display module, display module and tested for lighting test. By the way, the hardware part of the invention can simplify the lighting test device, reduce the peripheral circuit design, reduce the number of electronic components, enhancing the stability of the lighting device, convenient maintenance of R & D personnel.

【技术实现步骤摘要】
显示模组点灯测试装置及方法
本专利技术涉及显示领域，特别是涉及一种显示模组点灯测试装置及方法。
技术介绍
目前小尺寸面板厂商在手机面板组成模组后，会对手机模组进行相应的功能测试，例如模组光学的品味，模组整体的功耗，伽马调试等测试。这些相关测试都需要模组点灯测试平台来实现，大多数小尺寸面板厂商所采用的点灯测试装置的中的元器件数量较多，成本比较高，且容易影响模组测试的进度。
技术实现思路
本专利技术主要解决的技术问题是提供一种显示模组点灯测试装置及方法，能够简化点灯测试装置的硬件部分，减少外围电路设计，降低电子元器件的使用数量，提升点灯装置的稳定性，方便研发人员对点灯测试装置的维护。为解决上述技术问题，本专利技术采用的一个技术方案是：提供一种显示模组点灯测试装置，用于对待测显示模组进行点灯测试，包括：存储器，用于存储进行点灯测试所需的图片数据；外围电路，接收用户指令并根据用户指令而输出对应的控制指令；现场可编程门阵列芯片(Field-ProgrammableGateArray，FPGA)，与存储器与外围电路连接以接收图片数据和控制指令，根据控制指令而产生对应的控制参数，并根据控制参数对图片数据进行处理以输出处理后的待测显示模组进行点灯测试所需的图片数据至待测显示模组，从而对待测显示模组进行点灯测试；其中，现场可编程门阵列芯片内集成有微处理器和显示界面控制器，微处理器用于输出初始化信息，且微处理器连接显示界面控制器，现场可编程门阵列芯片通过显示界面控制器而连接待测显示模组，以输出初始化信息至待测显示模组从而对待测显示模组进行初始化操作，并输出处理后的待测显示模组进行点灯测试所需的图片数据至待测显示模组，从而对待测显示模组进行点灯测试。其中，现场可编程门阵列芯片内集成的微处理器中配置有用户指令，且微处理器通过总线接口而连接外围电路，以将用户指令输出至外围电路。其中，外围电路进一步连接至一个用于供用户输入用户指令的控制装置，以通过外围装置而接收用户指令。其中，现场可编程门阵列芯片内进一步包括：存储控制器，与存储器连接以读取存储器内存储的图片数据；I2C(InterIntegratedCircuit)从控制器，与外围电路连接以接收外围电路所输出的控制指令；参数配置控制器，与I2C从控制器连接以根据控制指令而产生对应的控制参数；图片产生器；PG产生器，其中，图片产生器和PG产生器分别与存储控制器连接以分别接收存储器所输出的图片数据，且图片产生器和PG产生器进一步分别与参数配置控制器，以分别根据控制参数而对图片数据进行处理；模式选择控制器，分别连接图片产生器和PG产生器，以根据其选择的工作模式而选择图片产生器和PG产生器之一所输出的处理后图片数据作为处理后的待测显示模组进行点灯测试所需的图片数据进行输出，且模式选择控制器进一步连接显示界面控制器，以通过显示界面控制器而输出选择的图片产生器和PG产生器之一所输出的处理后图片数据至待测显示模组。其中，模式选择控制器进一步连接微处理器以接收微处理器所输出的模式选择指令并根据模式选择指令而工作在对应的工作模式下。其中，进一步包括：功率控制模块，其连接在现场可编程门阵列芯片与待测显示模组之间，以接收现场可编程门阵列芯片所输出的功率控制参数，并根据功率控制参数而输出对应的电源电压至待测显示模组，以控制待测显示模组在不同功率下进行点灯测试。其中，现场可编程门阵列芯片内进一步包括：功率控制器，其与参数配置控制器和功率控制模块连接，其中，参数配置控制器所产生的控制参数包括功率控制参数，功率控制器接收功率控制参数，并根据功率控制参数而产生对应的功率控制指令，并将其输出至功率控制模块以控制功率控制模块输出对应的电源电压。其中，存储器包括SD卡(SecureDigitalMemoryCard，安全数码卡)和至少一个DDR存储器(DoubleDataRate，双倍速率同步动态随机存储器)。其中，现场可编程门阵列芯片内进一步包括：SD卡控制器，与SD卡连接以读取SD卡内存储的图片数据；DDR控制器，与DDR存储器连接以读取DDR存储器内存储的图片数据；其中，SD卡控制器进一步连接DDR控制器并通过DDR控制器而连接至图片产生器及PG产生器。为解决上述技术问题，本专利技术采用的另一个技术方案是：提供一种显示模组点灯测试方法，该方法可应用于以上任一项点灯测试装置，该方法包括：通过现场可编程门阵列芯片内集成的微处理器而输出初始化信息，并通过现场可编程门阵列芯片内集成的显示界面控制器而将初始化信息输出至待测显示模组以对待测显示模组进行初始化操作；通过现场可编程门阵列芯片读取存储在存储器内的进行点灯测试所需的图片数据；通过外围电路而接收用户指令并根据用户指令而输出对应的控制指令；通过现场可编程门阵列芯片接收控制指令，根据控制指令而产生对应的控制参数，并根据控制参数对图片数据进行处理，并通过现场可编程门阵列芯片内集成的显示界面控制器而输出处理后的待测显示模组进行点灯测试所需的图片数据至待测显示模组，从而对待测显示模组进行点灯测试。以上方案，把微处理器和显示界面控制器整合到现场可编程门阵列芯片中，简化了点灯测试装置的硬件部分，减少了外围电路设计，降低了电子元器件的使用数量，提升了点灯装置的稳定性，方便了研发人员对点灯测试装置的维护。附图说明图1是本专利技术显示模组点灯测试装置一实施方式的结构示意图；图2是本专利技术显示模组点灯测试装置另一实施方式的结构示意图；图3是本专利技术显示模组点灯测试装置再一实施方式的结构示意图；图4是本专利技术显示模组点灯测试装置又一实施方式的结构示意图；图5是本专利技术显示模组点灯测试方法一实施方式的流程示意图。具体实施方式下面结构附图和实施方式对本专利技术进行详细说明。请参阅图1，图1是本专利技术显示模组点灯测试装置一实施方式的结构示意图。应当理解，此处所描述的具体实施方式仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定于本专利技术。本实施方式中，该显示模组点灯测试装置用于对待测显示模组进行点灯测试，该显示模组点灯测试装置10包括：存储器11、外围电路12、现场可编程门阵列芯片13。其中，现场可编程门阵列芯片13包括：微处理器131和显示界面控制器132。其中，现场可编程门阵列芯片13分别与存储器11与外围电路12连接。具体地，现场可编程门阵列芯片13内集成有微处理器131，且微处理器131还与显示界面控制器132连接，显示界面控制器132与待测显示模组14连接。具体地，存储器11用于存储进行点灯测试所需的图片数据。外围电路12用于接收用户指令并根据用户指令而输出对应的控制指令。现场可编程门阵列芯片13用于接收存储器11与外围电路12发送的图片数据和控制指令，并根据控制指令而产生对应的控制参数，进而根据控制参数对图片数据进行处理以输出处理后的待测显示模组14进行点灯测试所需的图片数据至待测显示模组14，从而对待测显示模组14进行点灯测试。具体地，微处理器131用于输出初始化信息，显示界面控制器132用于输出该初始化信息至待测显示模组14，从而对待测显示模组14进行初始化操作。此外，现场可编程门阵列芯片13进一步通过显示界面控制器132而输出其处理后的待测显示模组14进行点灯测试所需的图片数据至待测显示模组14，从而对待测显示模组14本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种显示模组点灯测试装置，用于对待测显示模组进行点灯测试，其特征在于，包括：存储器，用于存储进行所述点灯测试所需的图片数据；外围电路，接收用户指令并根据所述用户指令而输出对应的控制指令；现场可编程门阵列芯片，与所述存储器与所述外围电路连接以接收所述图片数据和所述控制指令，根据所述控制指令而产生对应的控制参数，并根据所述控制参数对所述图片数据进行处理以输出处理后的所述待测显示模组进行点灯测试所需的图片数据至所述待测显示模组，从而对所述待测显示模组进行点灯测试；其中，所述现场可编程门阵列芯片内集成有微处理器和显示界面控制器，所述微处理器用于输出初始化信息，且所述微处理器连接所述显示界面控制器，所述现场可编程门阵列芯片通过所述显示界面控制器而连接所述待测显示模组，以输出所述初始化信息至所述待测显示模组从而对所述待测显示模组进行初始化操作，并输出处理后的所述待测显示模组进行点灯测试所需的图片数据至所述待测显示模组，从而对所述待测显示模组进行点灯测试。

【技术特征摘要】
1.一种显示模组点灯测试装置，用于对待测显示模组进行点灯测试，其特征在于，包括：存储器，用于存储进行所述点灯测试所需的图片数据；外围电路，接收用户指令并根据所述用户指令而输出对应的控制指令；现场可编程门阵列芯片，与所述存储器与所述外围电路连接以接收所述图片数据和所述控制指令，根据所述控制指令而产生对应的控制参数，并根据所述控制参数对所述图片数据进行处理以输出处理后的所述待测显示模组进行点灯测试所需的图片数据至所述待测显示模组，从而对所述待测显示模组进行点灯测试；其中，所述现场可编程门阵列芯片内集成有微处理器和显示界面控制器，所述微处理器用于输出初始化信息，且所述微处理器连接所述显示界面控制器，所述现场可编程门阵列芯片通过所述显示界面控制器而连接所述待测显示模组，以输出所述初始化信息至所述待测显示模组从而对所述待测显示模组进行初始化操作，并输出处理后的所述待测显示模组进行点灯测试所需的图片数据至所述待测显示模组，从而对所述待测显示模组进行点灯测试。2.根据权利要求1所述的点灯测试装置，其特征在于，所述现场可编程门阵列芯片内集成的所述微处理器中配置有所述用户指令，且所述微处理器通过总线接口而连接所述外围电路，以将所述用户指令输出至所述外围电路。3.根据权利要求1所述的点灯测试装置，其特征在于，所述外围电路进一步连接至一个用于供用户输入所述用户指令的控制装置，以通过所述外围装置而接收所述用户指令。4.根据权利要求1所述的点灯测试装置，其特征在于，所述现场可编程门阵列芯片内进一步包括：存储控制器，与所述存储器连接以读取所述存储器内存储的所述图片数据；I2C从控制器，与所述外围电路连接以接收所述外围电路所输出的所述控制指令；参数配置控制器，与所述I2C从控制器连接以根据所述控制指令而产生对应的控制参数；图片产生器；PG产生器，其中，所述图片产生器和所述PG产生器分别与所述存储控制器连接以分别接收所述存储器所输出的所述图片数据，且所述图片产生器和所述PG产生器进一步分别与所述参数配置控制器，以分别根据控制参数而对所述图片数据进行处理；模式选择控制器，分别连接所述图片产生器和所述PG产生器，以根据其选择的工作模式而选择所述图片产生器和所述PG产生器之一所输出的处理后图片数据作为处理后的所述待测显示模组进行点灯测试所需的图片数据进行输出，且所述模式选择控制器进一步连接所述显示界面控制器，以通过所述显示界面控制器而输出选择的所述图片产生...

【专利技术属性】
技术研发人员：安泰生，
申请(专利权)人：武汉华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42