The invention discloses a complex environment of flexible circuit board fast testing device for testing circuit board flexible test, the device comprises a flexible probe assembly comprises a plurality of contact pins, a plurality of contact terminals are respectively connected to the needle test circuit board assembly; positioning column, used for measuring circuit board for guiding treatment; quick lock assembly for locking the test circuit board; the housing assembly, the housing assembly comprising a main casing and a connector, wherein the main housing for installation of flexible components, and probe positioning column quick lock assembly and connector; the connector pin contact is connected with the. The invention utilizes spring force to ensure the reliability of each test point contact under various complicated environment conditions, greatly improves the testing efficiency and improves the testing reliability in complex environment.
【技术实现步骤摘要】
一种复杂环境下电路板柔性快速测试装置
本专利技术涉及电路板测试领域,具体涉及一种复杂环境下电路板柔性快速测试装置。
技术介绍
在军工电子产品领域,需要在多种复杂环境下(如高温、低温、振动等)对装配完成的电路板进行多次测试,以确保其高可靠性。目前,对含接线柱类的电路板为保证测试可靠性,一般采用接线柱焊线方式对电路板进行测试,待所有测试完成后再对电路板解焊进行后续装配。这种人工焊线测试的方法,非常耗费人力,效率也极为低下,随着军工产品订单的不断增长,此种方法已经越来越难以满足测试需求。申请号为201310676513.X的专利文献公开了一种电路板测试器,利用上、下压针夹紧电路板测试点进行测试及锁紧的测试装置。申请号201310025296.8的专利文献公开了一种柔性测试装置及其测试方法,利用带凸点的柔性基板与底座夹持电路板,凸点与测试点接触来实现电路板测试的装置。申请号200810149660.0的专利文献公开了一种柔性测试夹具,利用上、下探针盘夹紧电路板测试点进行测试,每个探针都进行了冗余设计,可保证接触可靠性。上述专利文献中测试探针或凸点相互关联,同步运动,当电路板接线柱高低不均,不在同一平面时,无法保证所有测试点可靠接触;同时夹紧方式很难适应振动条件下测试。申请号201610005554.X的专利文献公开了一种测试工装,利用电磁吸合力锁紧柔性探针的电路板测试装置,此装置需要外接电源提供电磁力,不适合进行各种环境试验,同时电磁环境可能会对电路敏感器件产生影响。申请号201610053300.5的专利文献公开了一种线路板测试用自动夹紧定位装置,利用轴传动带动 ...
【技术保护点】
一种复杂环境下电路板柔性快速测试装置,其特征在于,用于对待测试电路板进行柔性测试,该装置包含:柔性探针组件,包含若干个接触针,所述的若干个接触针分别连接待测试电路板的接线柱;定位柱组件,用于对待测电路板进行导向定位;快锁组件,用于锁紧待测试电路板;壳体组件,所述的壳体组件包含主壳体及接插件,所述的主壳体用于装设柔性探针组件、定位柱组件、快锁组件及接插件;所述的接插件与所述的接触针连接。
【技术特征摘要】
1.一种复杂环境下电路板柔性快速测试装置,其特征在于,用于对待测试电路板进行柔性测试,该装置包含:柔性探针组件,包含若干个接触针,所述的若干个接触针分别连接待测试电路板的接线柱;定位柱组件,用于对待测电路板进行导向定位;快锁组件,用于锁紧待测试电路板;壳体组件,所述的壳体组件包含主壳体及接插件,所述的主壳体用于装设柔性探针组件、定位柱组件、快锁组件及接插件;所述的接插件与所述的接触针连接。2.如权利要求1所述的复杂环境下电路板柔性快速测试装置,其特征在于,所述的壳体组件还包含底盖,所述的底盖设置在所述的主壳体的下方,并与所述的主壳体连接。3.如权利要求2所述的复杂环境下电路板柔性快速测试装置,其特征在于,所述的主壳体及底盖均由铝合金材质制成。4.如权利要求1所述的复杂环境下电路板柔性快速测试装置,其特征在于,所述的柔性探针组件还包含:接触座,所述的接触座呈台阶形,并且在接触座的顶部设有凹槽,凹槽的边沿上设有若干个台阶通孔,所述的接触座设置在所述的主壳体的上方,并与所述的主壳体连接;固定盖,所述的固定盖设置在所述的凹槽内;顶盖,所述的顶盖设置在所述的固定盖的上方,并且顶盖的顶部平面高于所述待测试电路板所在的平面;压紧盖,所述的压紧盖设置在所述的固定盖的下方,所述的压紧盖上设有与台阶通孔位置对应的压紧盖通孔;其中,接触针的一端为接触端部,另一端为焊线尾端,所述的接触端部穿过所述的台阶通孔与待测试电路板的接线柱连接,所述的焊线尾端穿过所述的压紧盖通孔与所述的接插件连接;若干个接触针弹簧,接触针弹...
【专利技术属性】
技术研发人员:王斌,杜敏俊,龚玉亚,韩子良,贝沪斌,
申请(专利权)人:上海无线电设备研究所,
类型:发明
国别省市:上海,31
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