一种圆柱包围面扫描测试的目标散射中心提取方法技术

本发明专利技术公开了一种圆柱包围面扫描测试的目标散射中心提取方法，其包含：步骤S1、采用天线对目标进行近场圆柱面散射特性扫描测试；步骤S2、将圆柱坐标系下的扇形柱面数据插值到直角坐标系，然后对插值后的频域数据进行逆傅里叶变换，得到目标在3个维度方向上的散射成像；步骤S3、通过3个方向上的一维距离像提取对应维度下的一维散射中心位置，将这些位置组成三维散射中心的候选位置，然后采用CLEAN算法对候选位置进行幅度参数估计，得到目标三维散射中心模型；步骤S4、对步骤S3中的散射中心进行聚类，合并位置和幅度参数，生成目标的散射中心模型和重构散射数据。本发明专利技术对圆柱包围面扫描测试数据进行建模，保证了建模精度，建模速度更为快速。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及雷达目标特征提取，具体涉及一种圆柱包围面扫描测试的目标散射中心提取方法。

技术介绍

1、散射中心模型可以描述雷达目标的电磁散射特性，在目标特性测试技术中，圆柱包围面测试可以在较小的测试空间内完成测试，避免了测试场地等外界环境因素的影响，通过对圆柱包围面扫描测试，获取目标的三维测试数据，提取散射中心参数，完成对目标的电磁特性建模，参数模型可以应用于rcs(雷达散射截面)重构，从而为回波生成、目标识别等提供技术支撑。

2、在实际的散射中心提取过程中，如何确定散射中心的位置和幅度是目标建模的关键和难题。

技术实现思路

1、本专利技术的目的在于克服现有技术的缺陷，提出一种圆柱包围面扫描测试的目标散射中心提取方法，能够提高目标建模的效率。

2、为了实现以上目的，本专利技术通过以下技术方案实现：

3、一种圆柱包围面扫描测试的目标散射中心提取方法，包括：

4、步骤s1、采用天线对目标进行近场圆柱面散射特性扫描测试，得到柱面散射数据；

<p>5、其中，所述近本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种圆柱包围面扫描测试的目标散射中心提取方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的目标散射中心提取方法，其特征在于，所述步骤S1包括：

3.根据权利要求2所述的目标散射中心提取方法，其特征在于，所述步骤S2包括：

4.根据权利要求3所述的目标散射中心提取方法，其特征在于，所述步骤S3包括：

5.根据权利要求4所述的目标散射中心提取方法，其特征在于，所述步骤S4包括：

【技术特征摘要】

1.一种圆柱包围面扫描测试的目标散射中心提取方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的目标散射中心提取方法，其特征在于，所述步骤s1包括：

3.根据权利要求2所述的目标散射中心提取方...

【专利技术属性】
技术研发人员：鲁童童，虞海静，贺新毅，童广德，李永晨，张润俊，
申请(专利权)人：上海无线电设备研究所，
类型：发明
国别省市：