可自动夹紧的测试基座制造技术

本发明专利技术揭示了一种可自动夹紧的测试基座，包括底座，底座的轴心浮动设置有一用于测试芯片的检测台，底座上设置有用于限定芯片位置的夹紧装置，夹紧装置包括夹紧部和驱动部，夹紧部至少包括一对相对于检测台对称设置的夹爪，夹爪的两侧与底座枢轴连接；驱动部包括驱动板和驱动杆，驱动板弹性插设于底座内并可相对底座做轴向移动，驱动杆穿设于驱动板的底部和夹爪的尾端，且驱动杆的两端滑动嵌设于底座侧壁上的导向槽内，驱动板通过轴向移动驱动所述驱动杆沿导向槽移动，同时两个夹爪由驱动杆驱动同步相对检测台做旋转运动，以夹紧或松开芯片。本发明专利技术中的最大程度优化了芯片的放置和定位流程切换的流畅性，提高芯片放置和取出的工作效率。作效率。作效率。

【技术实现步骤摘要】
可自动夹紧的测试基座


[0001]本专利技术涉及芯片测试设备
，具体地涉及一种可自动夹紧的测试基座。

技术介绍

[0002]为了保证芯片的良品率，芯片在制造完成后需要进行测试。如中国专利201410443449.5所揭示的，现有的芯片测试机构基本需要先打开上盖，再采用机械手或者吸头等抓取装置抓取芯片，移送至测试基座上，然后移开抓取装置，盖上上盖来对芯片进行定位，最后进行测试。
[0003]现有技术中，芯片测试中的芯片放置和芯片定位环节是分布操作的，为了便于芯片的放置，上盖和测试基座之间基本设置成分体式结构，因此需要另外设置提升机构来控制上盖的打开和闭合，既增加了设备机构，提高了制造成本，又增加了操作步骤，限制了测试效率。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是克服现有技术存在的不足，提供一种可自动夹紧的测试基座。
[0005]本专利技术的目的通过以下技术方案来实现：可自动夹紧的测试基座，包括底座，所述底座的轴心浮动设置有一用于测试芯片的检测台，所述底座上设置有用于限定所述芯片位置的夹紧装置，所述夹紧装本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.可自动夹紧的测试基座，其特征在于：包括底座（1），所述底座（1）的轴心浮动设置有一用于测试芯片（100）的检测台（2），所述底座（1）上设置有用于限定所述芯片（100）位置的夹紧装置，所述夹紧装置包括夹紧部和驱动部，所述夹紧部至少包括一对相对于所述检测台（2）对称设置的夹爪（3），所述夹爪（3）的两侧与所述底座（1）枢轴连接；所述驱动部包括驱动板（4）和驱动杆（5），所述驱动板（4）弹性插设于所述底座（1）内并可相对所述底座（1）做轴向移动，所述驱动杆（5）穿设于所述驱动板（4）的底部和所述夹爪（3）的尾端，且所述驱动杆（5）的两端滑动嵌设于所述底座（1）侧壁上的导向槽（101）内，所述驱动板（4）通过轴向移动驱动所述驱动杆（5）沿所述导向槽（101）移动，同时两个所述夹爪（3）由所述驱动杆（5）驱动同步相对所述检测台（2）做旋转运动，夹紧状态下，所述驱动杆（5）位于所述导向槽（101）的顶端，两个所述夹爪（3）的前端下压以将所述芯片（100）限定于所述检测台（2）上；松开状态下，所述驱动杆（5）位于所述导向槽（101）的底端，两个所述夹爪（3）的前端上翘并远离所述检测台（2）。2.根据权利要求1所述的可自动夹紧的测试基座，其特征在于：所述导向槽（101）包括相连通的竖直延伸段（1011）和倾斜延伸段（1012），所述倾斜延伸段（1012）向所述底座（1）的外侧倾斜，所述驱动杆（5）驱动两个所述夹爪（3）相对所述检测台（2）同时做旋转运动和径向移动，夹紧状态下，所述驱动杆（5）位于所述竖直延伸段（1011）的顶端；松开状态下，所述驱动杆（5）位于所述倾斜延伸段（1012）的底端。3.根据权利要求2所述的可自动夹紧的测试基座，其特征在于：所述驱动板（4）的轴心具有开口，所述驱动板（4）与所述底座（1）之间的四个边角处分别相对设置有限位槽（6），两个相对的所述限位槽（6）内嵌设有一复位弹簧，所述复位弹簧的弹力始终对所述驱动板（4）施加向上的驱动力，以使得所述夹爪（3）保持夹紧状态。4.根据权利要求3所述的可自动夹紧的测试基座，其特征在于：所述驱动板（4）的底部两侧至少对称设置有一对竖直向下延伸的连杆（401），所述底座（1）的两侧内凹形成与所述连杆（401）相匹配的插槽（102），所述连杆（401）插设于所述插槽（102）内并沿所述插槽（102）的内壁轴向移动，每个所述连杆（...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘鑫培，朱小刚，赵中山，
申请(专利权)人：苏州创瑞机电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：