本发明专利技术公开了一种沟槽型双层栅MOS的多晶硅间的热氧介质层的形成方法，包括步骤：1）生长第一氮化膜；2）沟槽刻蚀；3）生长介质层；4）生长第一层多晶硅；5）第一层多晶硅第一步反刻蚀；6)第一层多晶硅光刻及第二步反刻蚀，并去除第一层多晶硅上方的沟槽侧壁介质层；7）淀积第二氮化膜后，刻蚀，露出第一层多晶硅；8）生长热氧介质层；9）去除氮化膜；10）栅极氧化层生长；11）第二层多晶硅淀积与反刻蚀；12）形成基极和源极；13）形成接触孔、金属和钝化层。本发明专利技术可解决了两层多晶硅之间介质层厚度难以控制的问题，提高MOS器件性能的稳定性；同时，能避免因为多晶硅尖的两头产生的强电场削弱栅源击穿电压。
【技术实现步骤摘要】
沟槽型双层栅MOS的多晶硅间的热氧介质层的形成方法
本专利技术涉及一种半导体领域中的热氧介质层的形成方法，特别是涉及一种沟槽型双层栅MOS中的多晶硅之间的热氧介质层的形成方法。
技术介绍
在功率器件中，沟槽型双层栅功率MOS器件具有击穿电压高、导通电阻低、转换效率高、开关速度快的特性。通常，第一层多晶硅电极作为屏蔽电极与源极短接或者通单独引出，第二层多晶硅电极作为栅极。两层多晶硅电极之间的氧化层厚度需要严格控制，否则会形成漏电或较低的击穿电压。目前，现有工艺中的两层多晶硅电极之间的氧化层的制备方法，是在第一层多晶硅反刻之后，生长高密度等离子体(HDP)氧化膜，生长的HDP氧化膜要足够厚可以将沟槽(Trench)填满，再进行CMP (化学机械研磨)、光刻、HDP氧化膜反刻，最终在第一层多晶硅上面留下2500埃的HDP作为两层多晶硅之间的介质层。其中，具体的工艺流程如下:I)在沟槽刻蚀前长一层氧化层作为阻挡层，然后进行沟槽刻蚀；2)沟槽内介质层生长；3)第一层多晶娃生长；4)第一层多晶娃第一步反刻蚀；5)第一层多晶娃光刻及第二步反刻蚀；6)高密度等离子体(HDP)氧化膜淀积；7 ) HDP氧化膜CMP (化学机械研磨)至剩余3000埃；8)湿法腐蚀，使沟槽内的第一层多晶硅上剩余2500埃HDP氧化膜；9)栅极氧化层生长；10)第二层多晶硅淀积与反刻蚀；11)形成基极(BODY)和源极(Source)；12)形成接触孔、金属和钝化层。其中，现有工艺中的沟槽刻蚀前生长一层氧化层作为阻挡层的cell (M0SFET的原胞)区断面图，如图1所示；现有工艺中的第一层多晶硅两次刻蚀及去除侧壁氧化层后的cell区断面图，如图2所示；现有工艺中的HDP氧化膜生长后的cell区断面图，如图3所示；现有工艺中的HDP氧化膜湿法刻蚀后的cell区断面图，如图4所示。对于现有工艺，第一层多晶硅第二次刻蚀深度为硅表面以下1.15μπι时，HDP氧化硅淀积厚度约1.5 μ m，HDP氧化硅CMP研磨量约1.2 μ m，由于HDP氧化膜生长厚度和CMP研磨厚度都很大，所以CMP之后的残余膜厚波动很大。另外，CMP研磨速率在硅片面内不同位置和硅片间存在差异，这也导致了 CMP之后的残余膜厚的均一性很差。以上两点导致两层多晶该之间的介质膜厚度的均一性和稳定性都很差。由于HDP氧化膜在CMP之后残留厚度存在起伏和波动，所以HDP氧化膜反刻之后的残留厚度很难控制，这样会使器件的性能很不稳定。因此，需解决两层多晶硅之间介质层厚度难以控制的问题，以提高沟槽型双层栅功率MOS器件性能的稳定性。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种沟槽型双层栅MOS中的多晶硅之间的热氧介质层的形成方法。通过该方法，可解决了两层多晶硅之间介质层厚度难以控制的问题，提高MOS器件性能的稳定性；同时，能避免因为多晶硅尖的两头产生的强电场削弱栅源击穿电压。为解决上述技术问题，本专利技术的沟槽型双层栅MOS中的多晶硅之间的热氧介质层的形成方法，包括步骤:I)在硅基板上，生长第一氮化膜；2)在硅基板上，进行沟槽刻蚀；3 )在沟槽内，生长介质层；4)在介质层上，生长第一层多晶硅；5)对第一层多晶硅进行第一步反刻蚀；6)对第一层多晶硅进行光刻及第二步反刻蚀，并去除第一层多晶硅上方的沟槽侧壁介质层；7)在沟槽的底部和侧壁以及硅基板表面淀积第二氮化膜后，刻蚀去除沟槽底部的第二氮化膜，露出第一层多晶娃;8)在第一层多晶硅上，生长热氧介质层；9)去除沟槽侧壁的第二氮化膜和硅基板表面的第一、二氮化膜；10)栅极氧化层生长；11)第二层多晶硅淀积与反刻蚀；12)形成基极(BODY)和源极(Source)；13)形成接触孔、金属和钝化层。所述步骤I)中，生长第一氮化膜的方法包括:低压化学气相沉积或等离子体增强式化学气相沉积；第一氮化膜的材质包括:氮化硅；第一氮化膜的厚度为500?3000埃。所述步骤3)中，介质层为氧化膜，厚度为500?3000埃；介质层的生长方式包括:热氧或低压化学气相沉积方式。所述步骤4)中，生长第一层多晶硅的方法包括:低压化学气相沉积；第一层多晶硅的厚度为足以填满沟槽内部。所述步骤5)中，第一步反刻蚀时,直至刻蚀至娃表面。所述步骤6)的对第一层多晶硅进行光刻及第二步反刻蚀中，对第一层多晶硅进行光刻，保护住需要接出源极多晶硅的位置，剩余的第一层多晶硅位置进行第二步多晶硅反刻蚀，直至刻蚀至硅表面以下所需深度。所述步骤7)中，第二氮化膜淀积的方法包括:低压化学气相沉积或等离子体增强式化学气相沉积；第二氮化膜的材质包括:氮化硅；第二氮化膜的厚度为500?3000埃；刻蚀的方法为干法刻蚀。所述步骤8)中，生长热氧介质层的的方法为通过热氧方式生长热氧介质层；其中，热氧方式中的工艺温度为高于950°C ;热氧介质层的厚度为500?3000埃。所述步骤9)中，去除的方式包括:湿法刻蚀。本专利技术通过在沟槽刻蚀前，生长一层氮化层，并保留到第一层多晶硅电极刻蚀至硅表面以下之后，在沟槽表面生长一层氮化膜，然后利用干法刻蚀各向异性原理，形成氮化硅侧壁，并与之前保留在硅基板表面的氮化硅层连在一起，形成侧壁及顶部的保护层。利用热氧化在多晶硅沟槽底部的多晶硅表面生成热氧化层，再去除侧壁及顶部氮化硅，形成沟槽型双层栅MOS结构两层多晶硅之间热氧介质层。由于本专利技术利用氮化膜作为长两层多晶硅间热氧隔离介质层的保护层，使得在同样隔离性能的情况下，较现有的形成氧化硅介质层工艺大大简化，省略多次HDP以及CMP等高成本工艺流程，且不存在HDP氧化膜难以控制的风险，大大简化工艺控制难度，即本专利技术解决了两层多晶硅之间介质层厚度难以控制的问题，提高器件性能的稳定性。更为重要的是，该方法因为使用热氧化工艺作为介质层，使得下方的源极多晶硅(第一层多晶硅)的形貌从两端尖的凹形变为了两端圆的凸形，从而避免因为多晶硅尖的两头产生的强电场削弱栅源击穿电压。【附图说明】下面结合附图与【具体实施方式】对本专利技术作进一步详细的说明:图1是现有工艺中的沟槽刻蚀前生长一层氧化层作为阻挡层的cell区断面图；图2是现有工艺中的第一层多晶硅两步反刻蚀及去除侧壁氧化层后的cell区断面图；图3是现有工艺中的HDP氧化膜生长后的cell区断面图；图4是现有工艺中的HDP氧化膜湿法刻蚀后的cell区断面图；图5是本专利技术的沟槽刻蚀前生长一层氮化层作为阻挡层的cell区断面图；图6是本专利技术的第一层多晶硅两步反刻蚀及去除侧壁氧化层后的cell区断面图；图7是本专利技术的生长一层氮化膜后的cell区断面图；图8是本专利技术的刻蚀形成侧壁氮化膜保护层的cell区断面图；图9是本专利技术的在第一层多晶硅上生长热氧介质层后的cell区断面图；图10是本专利技术的去除沟槽侧壁及硅基板表面的氮化膜后的cell区断面图。图中附图标记说明如下:I为娃基板,2为氧化层,3为第一氮化膜,4为介质层,5为第一层多晶娃,6为第二氮化膜，7为热氧介质层。【具体实施方式】本专利技术的沟槽型双层栅MOS中的多晶硅之间的热氧介质层的形成方法，其步骤如下:I)在硅基板I上，通过低压化学气相沉积或等离子体增强式化学气相沉积方法，生长第一氮化膜3,即氮化娃层,第一氮化膜3的厚度为500?3000埃本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种沟槽型双层栅MOS中的多晶硅之间的热氧介质层的形成方法，其特征在于，包括步骤：1）在硅基板上，生长第一氮化膜；2）在硅基板上，进行沟槽刻蚀；3）在沟槽内，生长介质层；4）在介质层上，生长第一层多晶硅；5）对第一层多晶硅进行第一步反刻蚀；6）对第一层多晶硅进行光刻及第二步反刻蚀，并去除第一层多晶硅上方的沟槽侧壁介质层；7）在沟槽的底部和侧壁以及硅基板表面淀积第二氮化膜后，刻蚀去除沟槽底部的第二氮化膜，露出第一层多晶硅；8）在第一层多晶硅上，生长热氧介质层；9）去除沟槽侧壁的第二氮化膜和硅基板表面的第一、二氮化膜；10）栅极氧化层生长；11）第二层多晶硅淀积与反刻蚀；12）形成基极和源极；13）形成接触孔、金属和钝化层。
【技术特征摘要】
1.一种沟槽型双层栅MOS中的多晶硅之间的热氧介质层的形成方法，其特征在于，包括步骤: 1)在硅基板上，生长第一氮化膜； 2)在硅基板上，进行沟槽刻蚀； 3)在沟槽内，生长介质层； 4)在介质层上,生长第一层多晶娃； 5)对第一层多晶娃进行第一步反刻蚀； 6)对第一层多晶娃进行光刻及第二步反刻蚀，并去除第一层多晶娃上方的沟槽侧壁介质层； 7)在沟槽的底部和侧壁以及硅基板表面淀积第二氮化膜后，刻蚀去除沟槽底部的第二氮化膜，露出第一层多晶娃; 8)在第一层多晶娃上,生长热氧介质层； 9)去除沟槽侧壁的第二氮化膜和硅基板表面的第一、二氮化膜； 10)栅极氧化层生长； 11)第二层多晶硅淀积与反刻蚀； 12)形成基极和源极； 13)形成接触孔、金属和钝化层。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于:所述步骤I)中，生长第一氮化膜的方法包括:低压化学气相沉积或等离子体增强式化学气相沉积；第一氮化膜的材质包括:氮化硅；第一氮化膜的厚度为500?3000埃。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于:所述步骤3)中，介质层为氧化膜，厚度为500?3000埃；介质层的生长方式...
【专利技术属性】
技术研发人员：李陆萍，张博，
申请(专利权)人：上海华虹宏力半导体制造有限公司，
类型：发明
国别省市：
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