【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及一种辅助测试电路及具有该辅助测试电路的芯片及电路板。一种辅助测试电路，用于辅助测量芯片的多个引脚及对应的功能电路的电连接状态，该辅助测试电路包括引脚选择单元、分压单元及测试结果输出端，该分压单元包括测试电压输入端、电压输出端及连接于该测试电压输入端与电压输出端之间的分压元件，该测试电压输入端用于接收测试电压，该引脚选择单元连接于该多个引脚与该电压输出端之间，该引脚选择单元用于根据外部控制信号控制该多个引脚其中之一与该电压输出端电连接，该电压输出端直接或间接连接至该测试结果输出端。本专利技术辅助测试电路检测过程简单且测试点较少。【专利说明】辅助测试电路及具有该辅助测试电路的芯片及电路板
本专利技术涉及一种辅助测试电路及具有该辅助测试电路的芯片及电路板。
技术介绍
电路板上集成很多芯片，目前，检测这些芯片各引脚所连接的功能电路是正常、开路还是短路时通常利用一个测试点和一个引脚电性相连，然后用测试设备测量该测试点的电压值来判断该引脚所连接的功能电路是正常、开路还是短路。然而，当芯片引脚的数目较多时，所需要的测试点也相应增多，测试时需要人...
【技术保护点】
一种电路板，该电路板包括至少一芯片，该芯片包括多个引脚及多个分别对应该多个引脚连接的功能电路，其特征在于，该电路板还包括用于辅助检测该多个引脚及对应的功能电路的电连接状态的辅助测试电路，该辅助测试电路包括引脚选择单元、分压单元及测试结果输出端，该分压单元包括测试电压输入端、电压输出端及连接于该测试电压输入端与电压输出端之间的分压元件，该测试电压输入端用于接收测试电压，该引脚选择单元连接于该多个引脚与该电压输出端之间，该引脚选择单元用于根据一控制信号控制该多个引脚其中之一与该电压输出端电连接，该电压输出端直接或间接连接至该测试结果输出端。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：舒礼盛，庄宗仁，翁世芳，
申请(专利权)人：富泰华工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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