【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种SRAM存储器以及位单元追踪方法,所述SRAM存储器的存储电路包括SRAM阵列,包括成行和成列设置的SRAM位单元;两个跟踪行,分别置于两部分SRAM阵列上部;两个跟踪列,分别置于SRAM阵列的两侧;两个dummy?cell,用来启动跟踪位线信号;两个dummy?SA读出放大器;跟踪位线,穿过跟踪列,与dummy?SA连接;跟踪字线,穿过跟踪行,与dummy?cell连接。本专利技术采用两条追踪路径,比较两个追踪路径的延迟时间,取其较大的来控制普通存储单元对应的读出放大器打开。因此,本专利技术的主要优点是能同时跟踪左右BL,wL,cell的情况,减少工艺波动、电压、温度对SRAM读操作的影响。【专利说明】—种SRAM存储器以及位单元追踪方法
本专利技术涉及集成电路领域,具体涉及一种SRAM存储器以及位单元追踪方法。
技术介绍
近年来,静态随机存储器(SRAM)因为它的速度快、系统设计简单等优点,得到了大量而广泛的应用。SRAM单元通常是一个6晶体管单元,该晶体管单元具有两个相连的反相器以形成锁存器。只要有能量持续供给器件,横 ...
【技术保护点】
一种SRAM存储器,其特征在于,所述SRAM存储器的存储电路包括关于INTERNAL?CLK对称分布的若干个SRAM阵列。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:李力南,翁宇飞,
申请(专利权)人:苏州宽温电子科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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