放射线检测器制造技术

提供一种能够进行校正以不受荧光的残光影响而准确地确定γ射线的入射位置的放射线检测器。根据本发明专利技术，具备：强度数据获取部(11)，其随时间的经过每隔固定的采样间隔Sa获取由光检测器(3)输出的表示荧光的强度的强度数据(S)；以及校正值获取部(14)，其获取用于校正由荧光的残光引起的强度数据(S)的变动的校正值(A)，累计部(15)利用校正值(A)进行强度数据(S)的校正。通过设为这种结构，能够不受荧光的残光成分的影响而准确地确定荧光的位置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种对湮灭放射线对的检测信号进行校正的放射线检测器，特别是涉及一种在将放射线转换为荧光并测量该荧光的结构的放射线检测器中能够通过校正来消除荧光的残光的影响的放射线检测器。
技术介绍
对以往的使放射线药剂的分布成像的正电子发射断层摄影装置(PET)的具体结构进行说明。以往的PET装置具备将检测放射线的放射线检测器圆环状地排列构成的检测器环。该检测器环对从被检体内的放射性药剂放出的彼此为相反方向的一对Y射线(湮灭放射线对)进行检测。说明放射线检测器51的结构。如图9所示，放射线检测器51具备:三维地排列闪烁体晶体而得到的闪烁体52和对从被闪烁体52吸收的Y射线发出的荧光进行检测的光检测器53。光检测器53具备在矩阵上排列多个光检测元件而得到的检测面。而且，将光检测器53的检测面与闪烁体52的一面以光学方式进行连接(参照专利文献1、专利文献2)。入射到闪烁体52的放射线被转换为多个光子而朝向光检测器53。此时，光子一边在空间中扩散一边进入闪烁体52的内部，从而入射到排列在矩阵上的光检测器53的各个检测面。也就是说，由荧光产生的多个光子同时被分配给多个光检测元件来进行检测。放本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.09.06 JP 2010-1991851.一种放射线检测器，其特征在于，具备: (A)闪烁体，其由将放射线转换为荧光的闪烁体晶体排列而成； (B)光检测器，其检测荧光； (C)强度数据获取单元，其随时间的经过每隔固定的采样间隔获取由上述光检测器输出的表示荧光的强度的强度数据； (D)强度数据累积单元，其累积由上述强度数据获取单元获取到的强度数据； (E)存储单元，其存储多个阈值； (F)事件检测单元，其将相继获取的强度数据与强度数据比较用的事件阈值进行比较，当强度数据超过事件阈值时识别出发生了放射线入射到上述闪烁体的事件，并获取发生该事件的时刻即事件发生时刻； (GD校正值获取单元，其从上述强度数据累积单元读出在上述事件发生时刻之前检测到的强度数据，基于读出的强度数据、双重事件阈值以及多重事件阈值获取校正值，该校正值用于校正由荧光的残光引起的强度数据的变动；以及 (H)累计单元，其对在上述事件发生时刻以前和上述事件发生时刻以后检测到的强度数据进行累计，并且利用校正值进行校正来计算出累计值。2.根据权利要求1所述的放射线检测器，其特征在于， 在所获取到的校正值为上述双重事件阈值以上的情况下，上述校正值获取单元基于存储在上述存储单元中的将校正值与对应值相关联而得到的表来获取与校正值对应的对应值， 上述累计单元基于上述对应值来进行强度数据的校正。3.根据权利要求2所述的放射线检测器，其特征在于， 在所获取到的校正值为表示比上述双重事件阈值高的强度的多重事件阈值以上的情况下，上述校正值获取单元不进行动作，累计单元不进行校正就计算出累计值。4.一种放射线检测器，其特征在于，具备: (A)闪烁体，其由将放射线转换为荧光的闪烁体晶体排列而成； (B)光检测器，其检测荧光； (C)强度数据获取单元，其随时间的经过每隔固定的采样间隔获取由上述光检测器输出的表示荧光的强度的强度数据； (E)存储单元，其存储多个阈值； (F)事件检测单元，其将相继获取的强度数据与强度数据比较用的...

【专利技术属性】
技术研发人员：大井淳一，佐藤允信，古田雅史，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：
国别省市：