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提供一种能够进行校正以不受荧光的残光影响而准确地确定γ射线的入射位置的放射线检测器。根据本发明，具备：强度数据获取部(11)，其随时间的经过每隔固定的采样间隔Sa获取由光检测器(3)输出的表示荧光的强度的强度数据(S)；以及校正值获取部(1...
该专利属于株式会社岛津制作所所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社岛津制作所授权不得商用。

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