【技术实现步骤摘要】
具有改善的量子效率的光电探测器
技术介绍
在基于X射线的成像系统中，X射线源向诸如将要成像的病人或行李的受检者或对象典型地发射辐射(即，X射线)。在下文中，术语“受检者”和“对象”可以可交换地使用来描述能被成像的任何事物。在由受检者或对象衰减后的X射线束典型地冲击在探测器的辐射探测元件的阵列上，其响应冲击的辐射生成可读信号。到达探测器的辐射束的强度典型地取决于通过扫描的受检者或对象的X射线的衰减和吸收。在某些探测器中，闪烁器转换X射线辐射为撞击探测器元件的更低能量的光量子。探测器元件的每一个之后产生指示在元件特定位点的X射线辐射量的分离的电信号。这些电信号被收集、数字化并传送到数据处理系统供分析和进一步处理以重建图像。由于图像基于传送的电信号(其基于由闪烁器发射的光量子的量而生成)重建，因此探测器系统的性能受到闪烁器的、辐射到光量子的转换的影响。具体地，探测器的量子效率，或探测器对由闪烁器发射的光子的灵敏度，影响了探测器在生成指示探测的光量子的电信号时的准确性。按照惯例，基于闪烁器的探测器直接地在像素元素的阵列(例如，TFT阵列)上装配。例如，探测器的层可沉积(例如，旋...
【技术保护点】
一种辐射探测器模块，包含：薄膜晶体管(TFT)阵列；部署在所述TFT阵列之下的光电探测器，所述光电探测器包含：????部署在所述TFT阵列之下的阴极；????部署在所述阴极之下的活性有机元件；以及????部署在所述活性有机元件之下的阳极；部署在所述光电探测器之下的闪烁器衬底，其中所述闪烁器衬底吸收通过所述TFT阵列和所述光电探测器的辐射，并响应所吸收的辐射发射光量子，以及其中所述光电探测器吸收由所述闪烁器发射的光量子并响应所吸收的光量子生成电荷。
【技术特征摘要】
2011.09.30 US 13/2505681.一种辐射探测器模块，包含 薄膜晶体管(TFT)阵列； 部署在所述TFT阵列之下的光电探测器，所述光电探测器包含部署在所述TFT阵列之下的阴极；部署在所述阴极之下的活性有机元件；以及部署在所述活性有机元件之下的阳极； 部署在所述光电探测器之下的闪烁器衬底，其中所述闪烁器衬底吸收通过所述TFT阵列和所述光电探测器的辐射，并响应所吸收的辐射发射光量子，以及其中所述光电探测器吸收由所述闪烁器发射的光量子并响应所吸收的光量子生成电荷。2.如权利要求1所述的辐射探测器模块，其中所述TFT阵列包含晶体管的阵列，每一个晶体管配置成接收由所述光电探测器生成的电荷。3.如权利要求2所述的辐射探测器模块，其中所述晶体管的阵列中的每个晶体管对应于所述光电探测器的像素。4.如权利要求2所述的辐射探测器模块，其中所述晶体管的阵列包含薄膜晶体管(TFT)的阵列。5.如权利要求1所述的辐射探测器模块，包含粘合层，其中所述TFT阵列由所述的粘合层物理地结合到所述光电探测器。6.如权利要求5所述的辐射探测器模块，其中所述粘合层是各向异性导电膏、各向异性导电膜、以及导电带中的一个或多个。7.如权利要求5所述的辐射探测器模块，其中所述粘合层大体上在垂直于所述TFT阵列的平面的z方向中导电，并且在X方向或y方向中没有显著地导电。8.如权利要求1所述的辐射探测器模块，其中所述阴极包含阴极接触垫的阵列，并且其中每个阴极接触垫对应于所述辐射探测器模块的一个像素。9.如权利要求1所述的辐射探测器模块，其中所述阴极在面向所述活性有机元件的一面是反射的，以及其中所述阴极的反射面配置成将由所述闪烁器生成的光量子反射回所述活性有机元件。10.如权利要求1所述的辐射探测器模块，其中所述阳极配置成透射从所述闪烁器冲击所述阳极的光量子的90%或更多。11.如权利要求1所述的辐射探测器模块，其中所述闪烁器包含烧结或溅射沉积陶瓷、或者烧结或溅射沉积玻璃中的一个或多个。12.如权利要求1所述的辐射探测器模块，其中所述闪烁器包含颗粒黏合闪烁器。13.如权利要求1所述的辐射探测器模块，包含部署在所述闪烁器和所述光电探测器之间的平面化层，其中所述平面化层大体上是透明的。14.如权利要求1所述的辐射探测器模块，包...
【专利技术属性】
技术研发人员：AJ库图尔，SJ杜克罗斯，JJ项，G帕塔萨拉蒂，
申请(专利权)人：通用电气公司，
类型：发明
国别省市：
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