粉体层体积测定装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种粉体层体积测定装置，其具备摄像头(21)、使摄像头在垂直方向上移动的升降装置(23)、被配置在与摄像头相向的位置处的背光部件(30)、被配置在摄像头和背光部件之间的透明或半透明的圆筒形容器(104)、和实施动作控制的控制装置(40)。升降装置具备位移量测定装置(42)，位移量测定装置(42)对摄像头从控制装置所设定的初始设定位置起的垂直方向位移量进行检测。摄像头拍摄的图像由图像分析装置(41)进行分析，并测量圆筒形容器内的粉体层的粉体面位置，并根据初始设定位置和粉体面位置来计算粉体层的体积。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种粉体层体积测定装置。
技术介绍
粉体的物性值，以休止角、崩溃角、刮铲角、松密度/振实密度、压缩度、凝聚度、分散度、差角等各种参数来测定。关于对这些物性值进行测定的装置，可以在专利文献I中了解到其示例。专利文献I公开了一种对粉体的堆积密度进行测定的装置。在专利文献I记载的装置中，将放入有粉体试样的测定用杯(量筒)设置在敲击台上，该敲击台被设置在该测定装置所具备的用于实施测定的局部空间、即测定室内的底部。在所述测定室的顶棚上，于测定用杯的正上方的位置处设置有天窗，且在其上设置有传感器盒匣。被配置在传感器盒匣中的非接触型传感器对测定用杯中的粉体面高低进行测定。用传感器来对该测定用杯内为空状态时的情况进行测定，从而预先求取基准值(高度O)。然后将试样粉体放入测定用杯内，用传感器来测量粉体面高低H。在此，利用测定用杯的底面面积A和粉体面高低的测定值(距离测定用杯的底部的高度)H的乘积，来求取试样粉体的体积。在先技术文献专利文献专利文献1:日本专利第4368738号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的课题在使用量筒作为测定用杯时，作为与投入到量筒内的试样粉体的压缩性相关的评价方法，具有对振实密度(也称作敲击密度)和体积减小度进行测定的方法。作为振实密度的测定方法，具有如下方法，即，将预定量的试样粉体放入量筒内之后，以预定的冲程量以及预定的振动频率(每单位时间内的敲击次数)实施预定次数或预定时间的敲击，从而求取振实密度的方法。当采用例如美国药典(USP)敲击法和美国材料与试验协会(ASTM)敲击法时，用投入到量筒内的试样粉体的质量除以敲击后的试样粉体的体积来求取振实密度。另外，在川北方程粉体压缩评价法中，也利用相同方法进行敲击，当敲击前的试样粉体的体积为Vci,敲击后的试样粉体的体积为V时，利用(Vc1-V) /V0来求取体积减小度。如此，无论在哪一种测定方法中，均通过对敲击前和/或敲击后的量筒内的粉体层的体积进行测定，从而求取振实密度和体积减小度。此时的体积测定优选为，以不压迫粉体层的非接触方式来实施。当然，虽然使用专利文献I记载的装置那样的非接触型传感器，但根据试样粉体的种类和粒子直径、或粉体面的凹凸情况，有时会存在采用超声波传感器这种非接触型传感器难以进行高精度体积测定的情况。本专利技术是鉴于上述点而完成的，其目的在于，提供一种能够对透明或半透明的圆筒形容器内的粉体层的体积进行高精度测定的粉体层体积测定装置。用于解决问题的方法本专利技术的粉体层体积测定装置具备摄像头；背光部件，其被配置在与所述摄像头相向的位置处；圆筒形容器，其为透明或半透明的，且被配置在所述摄像头和所述背光部件之间；升降装置，其使所述摄像头在垂直方向上移动；控制装置，其实施对所述摄像头和所述升降装置的动作控制；位移量测定装置，其对所述摄像头从所述控制装置所设定的初始设定位置起的垂直方向位移量进行检测，并输出至所述控制装置；图像分析装置，其对所述摄像头拍摄的、所述容器内的粉体层的图像进行分析，并将分析结果输出至所述控制装置；运算单元，其根据所述摄像头从所述初始设定位置起的垂直方向位移量来计算粉体层的体积。在本专利技术的粉体层体积测定装置中，所述圆筒形容器被安装在设定了冲程量和振动数的敲击装置的敲击台上。在本专利技术的粉体层体积测定装置中，所述圆筒形容器由量筒构成。专利技术效果根据本专利技术，由于圆筒形容器内的粉体层的图像由图像分析装置进行分析，并对摄像头从初始设定位置起的垂直方向位移量进行检测，从而根据该垂直方向位移量来计算粉体层的体积，因此能够进行高精度的体积测定。附图说明图1为粉体物性测定装置的概要主视图。图2为粉体物性测定装置的概要侧视图。图3为粉体物性测定装置的概要剖视图。图4为背光部件的概要剖视图，且为从侧面观察时的图。图5为对图像处理的概念进行说明的说明图。图6为粉体层体积测定装置的结构框图。图7为用于对振实密度或体积减小度测定进行说明的概要剖视图。符号说明I粉体物性测定装置2本体3盖10测定室20摄像装置21摄像头23升降装置30背光部件41图像分析装置42位移量测定装置50敲击装置51尚支击台52敲击轴104圆筒形容器具体实施例方式本专利技术所涉及的粉体层体积测定装置，作为能够对投入至透明或半透明的圆筒形容器内的试样粉体的振实密度和体积减小度进行测定的粉体物性测定装置I而实现。构成粉体物性测定装置I的外观的二大要素为，本体2和遮盖其前部的盖3。本体2为，使用板金制的筐体4将图未示的架台结构的外侧包围而成的构件，其通过高度可调的多个支承脚5而支承在支承面上。盖3的主要部分由透明的合成树脂形成，并通过左右一对臂6而被安装在本体2的左右两个侧面上。臂6的前端成为与本体2连结的支点部7，盖3以支点部7为中心而在垂直面内转动。当放下盖3时将成为图2中的实线的状态。此时，被盖3包围的空间成为图3所示的测定室10。如上所述，由于盖3的主要部位是透明的，因此，即使在放下了盖3的状态下也能够看穿到测定室10的内部。作业者能够在以目视来确认试样的状况等的同时，在不受粉尘影响的条件下进行测定作业。在盖3的正面形成有把手部3a，用手抓住把手部3a，从而能够将盖3提起至图2的虚线位置。当提起至图2的点划线位置时，即使将手放开，盖3仍将停留在该位置。在以这种方式使测定室10处于开放状态的基础上，作业者再实施对测定结束的试样或用于测定的用具的整理、新的测定作业的设定、保养检修作业等。在不需要预先使测定室10处于开放状态时，则放下盖3。在通过支点部7来支承盖3的轴上组合有阻尼器，从而在放下的中途将手放开时，盖3将缓慢地下降，由此将在不会发生冲击的条件下安静地关闭。在本体2外侧的、从正面观看时的左侧位置处，配置有摄像装置20。在测定室10的内部配置有背光部件30。背光部件30被安装在从测定室10的进深侧的内壁突出的托架31上。透明或半透明的圆筒形容器104被配置在摄像装置20和背光部件30之间，对此将在后文进行详细说明。摄像装置20具备摄像头21，其具备C-MOS或C⑶这种固体摄像元件；立柱22，其对摄像头21进行支承。立柱22竖立在从本体2的所述未图示的架台结构突出的托架2a的上表面上。摄像装置20上附带有使摄像头21沿着立柱22在垂直方向上移动的升降装置23。升降装置23由固定在立柱22的侧面上的垂直的直线导轨24、能够沿着直线导轨24升降的滑块25、连结在滑块25上并通过自身旋转而使滑块25升降的垂直的滚珠丝杆26、使滚珠丝杆26旋转的附带减速装置的步进电机27构成。摄像头21以被保持在滑块25上的方式进行升降。作为背光部件30的光源的是发光二极管(以下称作“LED”)。LED被构成为LED灯32 (参照图4)。LED灯32具备细长的容器33，其具备透明或半透明的盖板33a ;多个LED34，其在容器33的内部被配置为一列。LED34为通常使用的类型的二极管，优选使用白色 LED。LED灯32被配置为，将其长度方向设置为垂直，并使光的出射方向朝向摄像装置20。方筒状的灯罩35包围该LED灯32。灯罩35由乳白色的丙烯酸树脂形成，将多个LED34各自发出的光转变为均匀的面状光。并且，灯罩35的材料并不限于丙烯酸树脂。摄像头21将信号输出至控制装置40(参照图6)本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种粉体层体积测定装置，具备以下的结构：摄像头；背光部件，其被配置在与所述摄像头相向的位置处；圆筒形容器，其为透明或半透明的容器，且被配置在所述摄像头和所述背光部件之间；升降装置，其使所述摄像头在垂直方向上移动；控制装置，其实施对所述摄像头和所述升降装置的动作控制；位移量测定装置，其对所述摄像头从所述控制装置所设定的初始设定位置起的垂直方向位移量进行检测，并输出至所述控制装置；图像分析装置，其对所述摄像头拍摄的、所述容器内的粉体层的图像进行分析，并将分析结果输出至所述控制装置；运算单元，其根据所述摄像头从所述初始设定位置起的垂直方向位移量来计算粉体层的体积。

【技术特征摘要】
2011.10.17 JP 2011-2278501.一种粉体层体积测定装置，具备以下的结构 摄像头； 背光部件，其被配置在与所述摄像头相向的位置处； 圆筒形容器，其为透明或半透明的容器，且被配置在所述摄像头和所述背光部件之间； 升降装置，其使所述摄像头在垂直方向上移动； 控制装置，其实施对所述摄像头和所述升降装置的动作控制； 位移量测定装置，其对所述摄像头从所述控制装置所设定的初...

【专利技术属性】
技术研发人员：笹边修司，清水健司，藤见利幸，毛利顺一，
申请(专利权)人：细川密克朗集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：