粉体层体积测定装置制造方法及图纸

技术编号:8592433 阅读:234 留言:0更新日期:2013-04-18 05:32
本发明专利技术提供一种粉体层体积测定装置,其具备摄像头(21)、使摄像头在垂直方向上移动的升降装置(23)、被配置在与摄像头相向的位置处的背光部件(30)、被配置在摄像头和背光部件之间的透明或半透明的圆筒形容器(104)、和实施动作控制的控制装置(40)。升降装置具备位移量测定装置(42),位移量测定装置(42)对摄像头从控制装置所设定的初始设定位置起的垂直方向位移量进行检测。摄像头拍摄的图像由图像分析装置(41)进行分析,并测量圆筒形容器内的粉体层的粉体面位置,并根据初始设定位置和粉体面位置来计算粉体层的体积。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种粉体层体积测定装置
技术介绍
粉体的物性值,以休止角、崩溃角、刮铲角、松密度/振实密度、压缩度、凝聚度、分散度、差角等各种参数来测定。关于对这些物性值进行测定的装置,可以在专利文献I中了解到其示例。专利文献I公开了一种对粉体的堆积密度进行测定的装置。在专利文献I记载的装置中,将放入有粉体试样的测定用杯(量筒)设置在敲击台上,该敲击台被设置在该测定装置所具备的用于实施测定的局部空间、即测定室内的底部。在所述测定室的顶棚上,于测定用杯的正上方的位置处设置有天窗,且在其上设置有传感器盒匣。被配置在传感器盒匣中的非接触型传感器对测定用杯中的粉体面高低进行测定。用传感器来对该测定用杯内为空状态时的情况进行测定,从而预先求取基准值(高度O)。然后将试样粉体放入测定用杯内,用传感器来测量粉体面高低H。在此,利用测定用杯的底面面积A和粉体面高低的测定值(距离测定用杯的底部的高度)H的乘积,来求取试样粉体的体积。在先技术文献专利文献专利文献1:日本专利第4368738号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的课题在使用量筒作为测定用杯时,作为与投入到量筒内的试样粉体的压缩性相关的评价方本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种粉体层体积测定装置,具备以下的结构:摄像头;背光部件,其被配置在与所述摄像头相向的位置处;圆筒形容器,其为透明或半透明的容器,且被配置在所述摄像头和所述背光部件之间;升降装置,其使所述摄像头在垂直方向上移动;控制装置,其实施对所述摄像头和所述升降装置的动作控制;位移量测定装置,其对所述摄像头从所述控制装置所设定的初始设定位置起的垂直方向位移量进行检测,并输出至所述控制装置;图像分析装置,其对所述摄像头拍摄的、所述容器内的粉体层的图像进行分析,并将分析结果输出至所述控制装置;运算单元,其根据所述摄像头从所述初始设定位置起的垂直方向位移量来计算粉体层的体积。

【技术特征摘要】
2011.10.17 JP 2011-2278501.一种粉体层体积测定装置,具备以下的结构 摄像头; 背光部件,其被配置在与所述摄像头相向的位置处; 圆筒形容器,其为透明或半透明的容器,且被配置在所述摄像头和所述背光部件之间; 升降装置,其使所述摄像头在垂直方向上移动; 控制装置,其实施对所述摄像头和所述升降装置的动作控制; 位移量测定装置,其对所述摄像头从所述控制装置所设定的初...

【专利技术属性】
技术研发人员:笹边修司清水健司藤见利幸毛利顺一
申请(专利权)人:细川密克朗集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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