粉体基础物性测定仪制造技术

一种粉体基础物性测定仪由：主体１；包括贮料罐２和过料筒３的分散度测试部；包括振动筛５和振源及漏斗６的休止角测试部；包括电机、凸轮７、顶杆８、标准容器９和支承座１０的固密度测试部；包括立导轴１１、承托支架１２、装载盘１３、立轴１４、载物板条１５和震锤１６的抹角测试部；及包括电机启停控制、计数和振源产生的电气控制部组成。它可以定量测定表征粉体物理特性的几乎全部参数，适用于粉体工学研究领域。（*该技术在2003年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及粉体颗粒物理特性的测定仪器。属于测试仪器领域。目前我国的粉体工学仍处于初创阶段，由于缺少良好的仪器，很难进行粉体颗粒物理特性的定量测试工作。为了进一步提高我国粉体工学的基础研究水平，提高固体药物制剂的质量，有必要设计科学化的测定仪器。本技术的目就是设计一种可定量测试表征粉体物理特性，如休止角、分散度、抹角、固密度等参数的测定仪器。本技术的目的是通过以下方式实现的粉体基础物理测定仪由主体、固定于主体上的分散度测试部、休止角测试部、固密度测试部、抹角测试部和电气控制部组成，其中分散度测试部由上部敞口下部出料的贮料罐及位于其下方的过料筒组成；休止角测试部由振动筛和位于其下方的漏斗组成；固密度测试部由电机、凸轮、上部带托盘的顶杆、托盘上的标准容器及支承和引导顶杆的支承座组成；抹角测试部由立导轴、通过边缘上的孔套在立导轴上的承托支架、支架上承托的装载盘、立轴、套在立轴上的“ ”形载物板条和震锤组成；电气控制部包括电机启停控制、计数和振源产生三部分。电机启停控制由串接于电机定子回路的可控硅、控制可控硅的与门、作为该与门两个输入信号的定时器控制和控制开关组成；计数由分置于凸轮两边的发光二极管和光电三极管、输入信号分别从光电三极管和控制开关接出的与非门、计数脉冲取之与非门输出的计数显示单元组成；振源产生由可控硅触发移相环节、可控硅及与之串联的铁心电感组成。以下结合附图对本技术作详细描述。附图说明图1是本技术正视图图2是本技术左视图图3是本技术俯视图图4是本技术中电机启停控制原理图图5是本技术中计数显示原理图图6是本技术中振源产生电路图图1～图3中所示的粉体基础物理测定仪由主体1、固定于主体1上的分散度测试部、休止角测试部、固密度测试部、抹角测试部和电气控制部组成。其中分散度测试部由上部敞口下部出料的贮料罐2、轴线与贮料罐重合并位于其下方的两端敞口圆柱形过料筒3组成。过料筒的口径大于贮料罐的出料口，两者固定在与主体连接的立架4上；休止角测试部由出料口呈漏斗形的振动筛5、与该筛子连接的振动源17及固定于主体正面位于振动筛下方的漏斗6组成。漏斗6的下方有一个圆托板18，该板通过立柱与下面的矩形集粉盘19连接；固密度测试部由电机29、凸轮7、上部带托盘的顶杆8、托盘上的标准容器9、支承和引导顶杆并与主体连接的杯形支承座10组成。顶杆8插入支承座10底部的通孔触及凸轮7，标准容器9上罩有容器罩20；抹角测试部由立导轴11、通过边缘上的孔套在立导轴上的承托支架12、该支架上承托的装载盘13、立轴14、套在该立轴上的“ ”形载物板条15和震锤16组成；立导轴和立轴固定在主体1的上表面上，承托支架12底部连接支柱21，并插入主体1的上表面对应部位开设的孔中，承托支架上还设有可将自身锁于立导轴11上的锁紧装置。电气控制部位于主体1体内，该部包括电机启停控制、计数和振源产生三部分。22是电气参数指示面板。图4中所示的电机启停控制由串接于电机定子回路的双向可控硅23、控制该可控硅的与门24、作为该与门两个输入信号的定时器控制和双刀开关K1组成。在图5中，计数由分置于凸轮两边的发光二极管25和光电三极管26、输入信号分别从光电三极管输出和双刀开关K1接出的与非门27、计数脉冲取之与非门输出的计数显示单元组成。在图6的电路中，振源产生由包括可变电阻Rw、电阻R和电容C的可控硅触发移相环节、可控硅28及与之串联的铁心电感17组成。通过调节可变电阻Rw以改变相移，可改变可控硅28的导通角，即可调节铁心电感17的振幅，铁心电感作为振动源与振动筛5连接。开关K2作为振源产生的电源开关。本仪器工作原理如下分散度及其相应参数测定－－在过料筒3下方置一承接皿，将一定量粉体装入贮料罐2中，开启其出料口，粉体便通过标准过料筒3落到承接皿中，根据承接皿中的粉体残留量便可计算出分散度。休止角及堆密度和有关参数测定－－将粉体注入振动筛5，接通启动开关K2，铁芯电感组成的振动源17便带动振动筛5以每秒50周频率振动，粉体通过规定目数的筛网，经漏斗6落到圆托板18上，至圆托板上的粉体呈小山样堆起，并从该板边缘向下落粉为止，此时的角度即为休止角；若使通过筛网的粉体落到一定容积的装样杯内，装满为止，称量杯内粉体，即可求出堆密度。固密度及有关参数测定－－置标准容器9于顶杆8的托盘上，接通双刀启动开关K1，与门24使可控硅23导通，于是电机29工作，并带动凸轮7和顶杆8撞击标准容器9，边撞击操作人员边向容器中添加粉料，直至定时器控制信号为0即定时器时间到或断开开关K1时，可控硅被关断，电机停车，此后称量杯内粉料重量即为固密度。在双刀开关K1接通电机工作的同时，计数显示电路中的与非门27被打开，计数显示单元同时投入工作，这样在撞击过程中，凸轮的每次转动都将从发光二极管25射向光电三极管26的光线阻断一次，光电三极管将此信号经与非门27送往计数显示单元，对撞击次数进行计数和显示。抹角及有关参数测定－－将承托支架12上移，直至装载盘13与载物板条15底面相触为止，向装载盘中充入粉体直至载物板条被粉体覆盖，再将承托支架12轻缓下移，此时测量载物板条上所带粉体的坡角，将震锤16提起后再使其自由落下撞击载物板，再次测量板上滞留粉体的坡角。根据两次测量值可求出粉体抹角。本仪器可以定量测试粉体颗粒的几乎所有物理特性，测量准确科学，是各个行业粉体特性基础研究必不可少的量化仪器，尤其适用于制药业的粉体工学基础研究。权利要求1.粉体基础物理测定仪由主体(1)、固定于主体(1)上的分散度测试部、休止角测试部、固密度测试部、抹角测试部组成，其特征在于该测定仪还包括电气控制部，其中分散度测试部由上部敞口下部出料的贮料罐(2)、轴线与贮料罐重合并位于其下方的两端敞口过料筒(3)，将两者与主体连接的立架(4)组成；休止角测试部由振动筛(5)、与该筛连接的振动源(17)及位于振动筛下方的漏斗(6)组成；固密度测试部由电机(29)、凸轮(7)、上部带托盘的顶杆(8)、托盘上的标准容器(9)、支承引导顶杆并与主体连接的支承座(10)组成；抹角测试部由立导轴(11)、通过边缘上的孔套在立导轴上的承托支架(12)、支架(12)上承托的装载盘(13)、立轴(14)、套在立轴(14)上的“”形载物板条(15)和震锤(16)组成；电气控制部包括电机启停控制、计数和振源产生三部分，电机启停控制由串接于电机定子回路的可控硅(23)、控制可控硅的与门(24)、作为该与门两个输入信号的定时器控制和控制开关组成；计数由分置于凸轮(7)两边的发光二极管(25)和光电三极管(26)、输入信号分别从光电三极管和控制开关接出的与非门(27)、计数脉冲取之与非门输出的计数显示单元组成；振源产生由可控硅触发移相环节、可控硅(28)及与之串联的铁心电感组成。2.根据权利要求1所述的粉体基础物性测定仪，其特征在于所说漏斗(6)的下方有一圆托板(18)，该板通过立柱与下面的集粉盘(19)连接。3.根据权利要求1所述的粉体基础物性测定仪，其特征在于所说标准容器(9)上罩有容器罩(20)。4.根据权利要求1所述的粉体基础物性测定仪，其特征在于在所说承托支架(12)底部连接支柱(21)本文档来自技高网...

【技术保护点】
粉体基础物理测定仪由主体（１）、固定于主体（１）上的分散度测试部、休止角测试部、固密度测试部、抹角测试部组成，其特征在于该测定仪还包括电气控制部，其中：分散度测试部由上部敞口下部出料的贮料罐（２）、轴线与贮料罐重合并位于其下方的两端敞口过料筒（３），将两者与主体连接的立架（４）组成；休止角测试部由振动筛（５）、与该筛连接的振动源（１７）及位于振动筛下方的漏斗（６）组成；固密度测试部由电机（２９）、凸轮（７）、上部带托盘的顶杆（８）、托盘上的标准容器（９）、支承引导顶杆并与主体连接的支承座（１０）组成；抹角测试部由立导轴（１１）、通过边缘上的孔套在立导轴上的承托支架（１２）、支架（１２）上承托的装载盘（１３）、立轴（１４）、套在立轴（１４）上的“＊”形载物板条（１５）和震锤（１６）组成；电气控制部包括电机启停控制、计数和振源产生三部分，电机启停控制由串接于电机定子回路的可控硅（２３）、控制可控硅的与门（２４）、作为该与门两个输入信号的定时器控制和控制开关组成；计数由分置于凸轮（７）两边的发光二极管（２５）和光电三极管（２６）、输入信号分别从光电三极管和控制开关接出的与非门（２７）、计数脉冲取之与非门输出的计数显示单元组成；振源产生由可控硅触发移相环节、可控硅（２８）及与之串联的铁心电感组成。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张秀珍，赵棣华，
申请(专利权)人：国家医药管理局天津药物研究院，
类型：实用新型
国别省市：12[中国|天津]