【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及集成电路测试技术,特别是。
技术介绍
当前传统的集成电路测试分为中测和成测两类，测试系统比较类似，均采用电脑控制测试仪接收测试向量代码，并控制探针台或机械臂移动测试负载板，接触晶圆上的芯片Die或成品封装好的芯片，进行测试并接收测试结果，电脑和测试仪的连接采用串行或并行排线的方式。上述测试系统在通讯方面使用排线，好处是成本较低，但也有不利之处，具体体现在每台电脑仅能控制一台测试仪，而且考虑到排线有电气损耗，长度一般比较短，使得电脑 一般靠近测试仪等设备摆放，不利于空间管理，加大布线难度，且无法实现无线控制及数据查询。
技术实现思路
一种集成电路测试数据查询系统，包括一查询设备、一与所述查询设备相连的带无线通讯模块的测试仪阵列、一与所述带无线通讯模块的测试仪阵列相连的测试机台阵列、一与所述测试机台阵列相连的被测器件阵列，所述测试仪阵列包括N个带无线通讯模块的测试仪，所述测试机台阵列包括N个测试机台，所述被测器件阵列包括N个被测器件，其中N > 1，所述带无线通讯模块的测试仪、所述测试机台、所述被测器件一一对应串行连接。所述查询设备是能进行无线网络连...
【技术保护点】
一种集成电路测试数据查询系统，其特征在于：所述集成电路测试系统数据查询系统包括一查询设备、一与所述查询设备相连的带无线通讯模块的测试仪阵列、一与所述测试仪阵列相连的测试机台阵列、一与所述测试机台阵列相连的被测器件阵列，所述带无线通讯模块的测试仪阵列包括N个带无线通讯模块的测试仪，所述测试机台阵列包括N个测试机台，所述被测器件阵列包括N个被测器件，其中N≥1，所述带无线通讯模块的测试仪、所述测试机台、所述被测器件一一对应串行连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：徐正元，
申请(专利权)人：成都市中州半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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