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本发明提出一种集成电路测试数据查询系统，包括一查询设备、一与所述查询设备相连的测试仪阵列、一与所述测试仪阵列相连的测试机台阵列、一与所述测试机台阵列相连的被测器件阵列。本发明还公开了一种集成电路测试数据查询方法。本发明解决了查询设备和测试仪...
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