【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及ー种，特别是涉及ー种模拟和数模混合集成电路测试。
技术介绍
现今，随着芯片设计水平的不断提高和加工エ艺的日趋完善，单芯片的管脚数越来越多，功能也越来越复杂。这就给测试工程师提出了新的难题面对功能如此复杂的芯片，怎样才能编写出全面、有效，且基本覆盖芯片大多数功能的测试图形文件呢？而且在编写完成后，文件的录入也将是一件繁琐的工作。因此，迫切需要在电子设计自动化(EDA)エ具与自动测试设备(ATE)平台之间进行灵活转换的方法。 VCD文件是改值转储(Value Change Dump)的简称,它是硬件描述语言仿真结果的标准输出格式，VCD文件是包含有时间量程，范围定义，堆放了的时间类型和随着时间的增加实际值的改变等信息的ASCII文件。正是因为它包含了信号的变化信息，就相当于记录了整个仿真的信息。我们可以这个文件来再现仿真，正可以作为EDA与ATE之间交流的桥梁文件使用。然而现有的数字电路的测试方案，因处理不了模拟电路和数模混合电路芯片的晶体管级网表，从而无法生成测试所需的VCD文件，搭建不了 EDA软件和ATE测试平台之间的桥梁。现有技术，如附图I所示...
【技术保护点】
一种集成电路测试方法，包括设计指标参数确定、电路图输入、前仿真、版图设计、版图验证&寄生参数提取、后仿真、流片，其特征在于，前仿真和后仿真使用晶体管级SPICE网表，该晶体管级SPICE网表能转换为自动测试平台所需文件。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：郝乐，宿晓慧，韩郑生，罗家俊，
申请(专利权)人：中国科学院微电子研究所，
类型：发明
国别省市：
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