【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于在线编程
，更为具体地讲，涉及。
技术介绍
1、集成电路的测试美国TI公司宣布研制出世界上第一块IC芯片至今已经将近六十多年了。随着集成电路技术及其产业的发展，其推动了计算机技术、软件技术、通信技术、信息技术等高新技术，为国民经济各个产业的发展和现代化建设提供了良好的基础。如今集成电路产品在社会生活中应用越来越广泛，诸如通信设备、航空航天、国防设备、工业制造、数码产品甚至各类家用电器和玩具，集成电路已经成为现代高科技工业的基础。集成电路测试是保证集成电路性能的关键手段之一，在芯片的设计、制造和具体应用的每一个环节，都需要对集成芯片进行测试和检验。一方面，目前芯片的需求量越来越大，另一方面，针对各种各样的应用场合，集成电路的种类也越来越多。目前各个厂家推出的集成电路型号上千种，而每只集成电路在出厂前都必须经过严格测试。因此如何快速且有效地测试各类集成电路对目前集成电路发展具有重要意义。为了满足日益增长的集成电路数量和种类，集成电路测试仪应具有以下特点(1)、快速的进行集成电路测试。O)、用户根据不同集成电路的测试需求，编写测试程序并下载到集成电...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：詹惠琴，商洪亮，杨建军，周建，王寅，古军，罗时雨，康波，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：
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