【技术实现步骤摘要】
本技术涉及集成电路芯片测设
，尤其是一种基于ARM和CPLD的 集成芯片测试仪。
技术介绍
随着计算机技术在各个行业的应用不断发展与普及，相应的集成电路芯片在各 种领域的技术应用也日益增多，对集成电路芯片检测设技术及其测试仪的应用也不断发 展，测试需求呈多元化状态。目前，除了生产厂家与专业测试机构外，更多的是用户 中专业技术人员在维护集成电路芯片时的实时测试，尤其在野外作业时；例如野外维 修设备，通常需要判断电路板上数字集成芯片功能是否正确，或者识别其故障类型，以 便为设备维修提供依据。过去传统意义上的单片机实现的集成电路测试虽可以满足测 试要求，但运算能力较差，需要增加外围器件，并且没有数据采集功能，不能和上位机 通信，不能和其它测试设备互联。在野外或者移动中工作测试极其不方便。在一些工 业测控现场检测大型设备时也有类似不便。例如，从现场到机房有一定的距离，模拟 信号传导且易受工业环境的干扰，数据采集会有不同程度的衰减，而单纯用由微控制器 (MCU)为核心的数据采集系统时，把数据采集器置于被监测的设备处，虽然可以避免模 拟信号的衰减和被干扰，但在这种数据...
【技术保护点】
一种基于ＡＲＭ和ＣＰＬＤ的集成芯片测试仪，包括机壳、面板，在机壳内安装有ＰＣ工控机（１）、集成电路测试板（２）、集成电路适配器（３）、ＣＰＬＤ模块（４），可调电压源（５）；所述集成电路测试板（２）包括ＣＰＵ控制单元（２．１）、ＵＳＢ接口单元（２．２）、逻辑数据分析处理单元（２．３），集成电路适配器（３）包括ＤＩＰ插座（３．１）、Ｉ／Ｏ输出切换单元（３．２），其特征是：所述ＣＰＬＤ模块（４）包括２×２０位并行端口模块（４．２）以及适配器电压选择模块（４．３）；所述ＣＰＬＤ模块（４）通过地址与数据总线（ＡＤ总线）与集成电路测试板（２）上的ＣＰＵ控制单元（２．１）连接、通过数据总...
【技术特征摘要】
1.一种基于ARM和CPLD的集成芯片测试仪，包括机壳、面板，在机壳内安装有PC 工控机(1)、集成电路测试板(2)、集成电路适配器(3)、CPLD模块(4)，可调电压源 (5)；所述集成电路测试板(2)包括CPU控制单元(2.1)、USB接口单元(2.2)、逻辑数据 分析处理单元(2.3)，集成电路适配器(3)包括DIP插座(3.1)、I/O输出切换单元(3.2)， 其特征是所述CPLD模块(4)包括2X20位并行端口模块(4.2)以及适配器电压选择模 块(4.3)；所述CPLD模块⑷通过地址与数据总线(AD总线)与集成电路测试板(2)上 的CPU控制单元(2.1)连接、通过数据总线与集成电路适配器DIP插座(3.1)连接。2.根据权利要求1所述...
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