【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体内存芯片测试
,尤其是涉及ー种半导体内存芯片多功能复用测试座。
技术介绍
半导体芯片生产后需要进行功能、性能测试,目前市场上同类产品只能应用ー种封装尺寸的芯片,不同尺寸的芯片需要不同种测试座,产品不能实现不同封装尺寸产品的复用;造成大量购买,测试成本提高,需要大量后续维护成本。
技术实现思路
一种半导体内存芯片多功能复用测试座,包括盖、接触器、底座、插销和插销弹 簧,所述接触器固定在底座上,插销通过插销弹簧固定在接触器上,盖置于最上层,并设有突块,突块正对接触器和插销,接触器和插销在突块的作用下张开连接。进一歩,作为优选方案,在盖和接触器之间还包括一个适配器,适配器开口和接触器相适应。进ー步,作为优选方案,在适配器和接触器之间还包括ー个滑盖。进ー步,作为优选方案,在所述滑盖下面装有滑盖弹簧。进ー步,作为优选方案,在底座四个角上各装有ー个盖弹簧。进ー步,作为优选方案,在底座下面装有ー个塞子,塞子下面装有一个引导器。由于采用通用结构,本技术能适应多尺寸及多引脚复用测试,降低购买及保有数量,降低测试维护成本。附图说明图I是具体实施例结构图。具体实施方式以下结合附图和实施例,对本技术的具体实施方式作进ー步详细描述。以下实施例用于说明本技术,但不用来限制本技术的范围。如图I所示,一种半导体内存芯片多功能复用测试座,包括盖I、接触器4、底座5、插销8和插销弹簧10,所述接触器4固定在底座5上,插销8通过插销弹簧10固定在接触器4上,盖I置于最上层,并设有突块,突块正对接触器4和插销8,接触器4和插销8在突块的作用下张开连接。在盖I和接触器4之间还包括一 ...
【技术保护点】
一种半导体内存芯片多功能复用测试座,其特征在于,包括:盖(1)、接触器(4)、底座(5)、插销(8)和插销弹簧(10),所述接触器(4)固定在底座(5)上,插销(8)通过插销弹簧(10)固定在接触器(4)上,盖(1)置于最上层,并设有突块,突块正对接触器(4)和插销(8),接触器(4)和插销(8)在突块的作用下张开连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:钱院生,
申请(专利权)人:海太半导体无锡有限公司,
类型:实用新型
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。