本实用新型专利技术公开了一种微细探针测试治具，包括测试针、针盘面、底座以及至少二块移动板，所述移动板中心、所述针盘面中心和所述底座中心均设有复数个测试针孔，所述测试针一端与针盘面中心测试针孔连接，另一端穿过移动板中心测试针孔后与底座中心测试针孔连接。本实用新型专利技术结构简单、装配快捷且测试精准度高。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术设计ー种微细探针测试治具。
技术介绍
近年来，随着PCB印刷电路板、半导体产业的线路愈益细微化其产品亦是小而薄，以现有的测试方式无法有效达到测试目的，由于使用的探针无法极微细化，导致目前市场现有测试治具对于细微线路板的测试误测率高达40%，以至于形成中国相关产业被外界给予低质量、低单价粗制滥造的评价。
技术实现思路
本技术的目的在于提供ー种结构简单、装配快捷且测试精准度高的微细探针 测试治具。为实现上述技术目的，本技术采用了如下技术方案一种微细探针测试治具，包括测试针、针盘面和底座，它还包括至少ニ块移动板，所述移动板中心、所述针盘面中心和所述底座中心均设有复数个测试针孔，所述测试针ー端与针盘面中心测试针孔连接，另一端穿过移动板中心测试针孔后与底座中心测试针孔连接。优选的，所述移动板中心上设置的复数个测试针孔与所述针盘面中心设置的复数个测试针孔和所述底座中心设置的复数个测试针孔均一一对应。优选的，所述治具还包括至少四根鉄柱，且针盘面上、底座上和移动板上均设有至少四个铁柱孔与所述铁柱配合。优选的，所述治具还包括至少六根支柱，且针盘面上和底座上均设有至少六个支柱孔与所述支柱配合。优选的，所述移动板四周设有至少六个凹ロ与所述支柱配合。尤为优选的，所述凹ロ具有弧形截面。移动板中心复数个测试针孔，是让测试针穿过其中，对测试针起到绝缘的效果，同时也对测试针起到保护的作用，使其不会出现因为挤压扭曲过度而断开的现象；其中鉄柱是起支撑针盘面和底座的作用，让治具不会变形；而其中的支柱是限制移动板扭曲的范围，让移动板在摆动后能及时的复位，同时也给移动板有固定的着力点。与现有技术相比，本技术的有益效果在于结构简单，装配快捷，测试过程中不再出现测试针断路现象，且可使整体相互协カ运作，从而大大提高了测试精准度。附图说明图I是本技术一较佳实施例中微细探针测试治具的结构示意图。具体实施方式參阅图1，该微细探针测试治具包括针盘面1，测试针2，移动板3，底座4，铁柱5和支柱6 ;针盘面I中心、移动板3中心和底座4中心均设有复数个测试针孔，且移动板3中心设置的复数个测试针孔与针盘面I中心设置的复数个测试针孔和底座4中心设置的复数个测试针孔均一一对应，其中移动板3有三块，测试针2有复数个，且每个测试针2 —端与针盘面I中心测试针孔连接，另一端穿过三块移动板3中心测试针孔后与底座4中心测试针孔连接；移动板3中心设置的复数个测试针孔对测试针2起到绝缘的效果，同时也对测试针2起到保护的作用，使其不会出现因为挤压扭曲过度而断开的现象。其中鉄柱5有四根，且针盘面I上、底座4上和三个移动板3上均设有四个铁柱孔与四根鉄柱5配合，用来支撑针盘面和底座使治具不会变形；其中支柱6有六根，且针盘面I上和底座4上均设有六个支柱孔与六根支柱6配合，而三块移动板3周围均设有六个具有弧形截面的凹ロ与六个支柱6配合，来限制移动板3扭曲的范围，让移动板3在摆动后能及时的复位，同时也给移动板3有固定的着力点。以上仅是本技术的具体应用范例，对本技术的保护范围不构成任何限 制。凡采用等同变换或者等效替换而形成的技术方案，均落在本技术权利保护范围之内权利要求1.一种微细探针测试治具，包括测试针、针盘面和底座，其特征在于，它还包括至少二块移动板，所述移动板中心、所述针盘面中心和所述底座中心均设有复数个测试针孔，所述测试针一端与针盘面中心测试针孔连接，另一端穿过移动板中心测试针孔后与底座中心测试针孔连接。2.根据权利要求I所述的微细探针测试治具，其特征在于所述移动板中心上设置的复数个测试针孔与所述针盘面中心设置的复数个测试针孔和所述底座中心设置的复数个测试 针孔均——对应。3.根据权利要求I所述的微细探针测试治具，其特征在于所述治具还包括至少四根铁柱，且针盘面上、底座上和移动板上均设有至少四个铁柱孔与所述铁柱配合。4.根据权利要求I所述的微细探针测试治具，其特征在于所述治具还包括至少六根支柱，且针盘面上和底座上均设有至少六个支柱孔与所述支柱配合。5.根据权利要求I或4所述的微细探针测试治具，其特征在于所述移动板四周设有至少六个凹口与所述支柱配合。6.根据权利要求5所述的微细探针测试治具，其特征在于所述凹口具有弧形截面。专利摘要本技术公开了一种微细探针测试治具，包括测试针、针盘面、底座以及至少二块移动板，所述移动板中心、所述针盘面中心和所述底座中心均设有复数个测试针孔，所述测试针一端与针盘面中心测试针孔连接，另一端穿过移动板中心测试针孔后与底座中心测试针孔连接。本技术结构简单、装配快捷且测试精准度高。文档编号G01R1/04GK202649242SQ20122014710公开日2013年1月2日 申请日期2012年4月10日 优先权日2012年4月10日专利技术者吴兆正 申请人:昆山鸿裕电子有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种微细探针测试治具，包括测试针、针盘面和底座，其特征在于，它还包括至少二块移动板，所述移动板中心、所述针盘面中心和所述底座中心均设有复数个测试针孔，所述测试针一端与针盘面中心测试针孔连接，另一端穿过移动板中心测试针孔后与底座中心测试针孔连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：吴兆正，
申请(专利权)人：昆山鸿裕电子有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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