探针测试治具制造技术

技术编号:10301903 阅读:206 留言:0更新日期:2014-08-07 08:39
本实用新型专利技术涉及一种探针测试治具,用于测试包括多个屏体端子的屏体,包括绝缘基座及固定于绝缘基座上的若干探针和若干引线,绝缘基座具有两个相背的第一表面及第二表面,若干探针自所述第一表面背离该表面延伸形成,若干引线自所述第二表面背离该表面延伸形成,若干探针与第二表面的若干引线一一对应电性连接,相邻两根探针之间的间距小于相邻两个屏体端子的间距,该探针测试治具上若干探针所占用的面积大于所述屏体上多个屏体端子所占用的面积。本实用新型专利技术探针测试治具,能够满足不同规格屏体点屏测试需求,当某一根或部分探针损坏时,不影响整套治具的正常使用,可节省维修或重做的时间和费用,缩短新产品开发周期,提高新产品开发的效率。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术涉及一种探针测试治具,用于测试包括多个屏体端子的屏体,包括绝缘基座及固定于绝缘基座上的若干探针和若干引线,绝缘基座具有两个相背的第一表面及第二表面,若干探针自所述第一表面背离该表面延伸形成,若干引线自所述第二表面背离该表面延伸形成,若干探针与第二表面的若干引线一一对应电性连接,相邻两根探针之间的间距小于相邻两个屏体端子的间距,该探针测试治具上若干探针所占用的面积大于所述屏体上多个屏体端子所占用的面积。本技术探针测试治具,能够满足不同规格屏体点屏测试需求,当某一根或部分探针损坏时,不影响整套治具的正常使用,可节省维修或重做的时间和费用,缩短新产品开发周期,提高新产品开发的效率。【专利说明】探针测试治具
本技术涉及显示面板的测试治具领域技术,尤其涉及一种适用于不同规格屏体点屏测试的探针测试治具。
技术介绍
目前显示行业在开发新产品时,须先做出屏体样品,然后对屏体样品进行点屏测试,以收集屏体的相关参数再做进一步的工艺调整,为使屏体的各项指标达到新产品的设计要求。而为了实现点屏测试这一动作,针对不同规格屏体,目前所采用的方案有两种,一是先依屏体规格设计定制相应的FP本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种探针测试治具,用于测试包括多个屏体端子的屏体,其特征在于,所述探针测试治具包括绝缘基座及固定于所述绝缘基座上的若干探针和若干引线,所述绝缘基座具有两个相背的第一表面及第二表面,所述若干探针自所述第一表面背离该表面延伸形成,所述若干引线自所述第二表面背离该表面延伸形成,所述若干探针与第二表面的若干引线一一对应电性连接,相邻两根探针之间的间距小于相邻两个屏体端子的间距,该探针测试治具上若干探针所占用的面积大于所述屏体上多个屏体端子所占用的面积。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:徐奎魏朝刚张月华
申请(专利权)人:昆山国显光电有限公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

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