探针测试治具制造技术

本实用新型专利技术涉及一种探针测试治具，用于测试包括多个屏体端子的屏体，包括绝缘基座及固定于绝缘基座上的若干探针和若干引线，绝缘基座具有两个相背的第一表面及第二表面，若干探针自所述第一表面背离该表面延伸形成，若干引线自所述第二表面背离该表面延伸形成，若干探针与第二表面的若干引线一一对应电性连接，相邻两根探针之间的间距小于相邻两个屏体端子的间距，该探针测试治具上若干探针所占用的面积大于所述屏体上多个屏体端子所占用的面积。本实用新型专利技术探针测试治具，能够满足不同规格屏体点屏测试需求，当某一根或部分探针损坏时，不影响整套治具的正常使用，可节省维修或重做的时间和费用，缩短新产品开发周期，提高新产品开发的效率。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术涉及一种探针测试治具，用于测试包括多个屏体端子的屏体，包括绝缘基座及固定于绝缘基座上的若干探针和若干引线，绝缘基座具有两个相背的第一表面及第二表面，若干探针自所述第一表面背离该表面延伸形成，若干引线自所述第二表面背离该表面延伸形成，若干探针与第二表面的若干引线一一对应电性连接，相邻两根探针之间的间距小于相邻两个屏体端子的间距，该探针测试治具上若干探针所占用的面积大于所述屏体上多个屏体端子所占用的面积。本技术探针测试治具，能够满足不同规格屏体点屏测试需求，当某一根或部分探针损坏时，不影响整套治具的正常使用，可节省维修或重做的时间和费用，缩短新产品开发周期，提高新产品开发的效率。【专利说明】探针测试治具
本技术涉及显示面板的测试治具领域技术，尤其涉及一种适用于不同规格屏体点屏测试的探针测试治具。
技术介绍
目前显示行业在开发新产品时，须先做出屏体样品，然后对屏体样品进行点屏测试，以收集屏体的相关参数再做进一步的工艺调整，为使屏体的各项指标达到新产品的设计要求。而为了实现点屏测试这一动作，针对不同规格屏体，目前所采用的方案有两种，一是先依屏体规格设计定制相应的FPC (柔性电路板)，然后通过绑定实现与屏体的有效可靠连接，最后将FPC连接至相对应测试治具以实现点屏测试；二是针对某一规格屏体，专门设计制作相应的测试治具(一般为探针夹具加信号输入设备)，然后利用该治具来实现点屏测试(测试时须要保证相应探针和相应屏体端子的一一对应)。然而，现有的测试治具不具有通用性，即对于不同的屏体规格，必须设计制作相应规格的测试治具和FPC。另外，现有的探针测试治具一旦其中的某一根探针损坏，整套治具就必须进行维修或者废弃重做，可靠性和寿命都不高。重要的是，测试治具和测试用FPC的设计和制造过程，不仅繁琐耗时，投入很大，而且这一环节严重影响新产品开发周期，对于新产品开发效率造成不良影响。所以有必要设计一种新型的可以满足不同规格屏体的点屏测试要求的通用的探针测试治具，以解决上述技术问题。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种探针测试治具，可以满足不同规格屏体的点屏测试要求。为实现前述目的，本技术采用如下技术方案:一种探针测试治具，用于测试包括多个屏体端子的屏体，所述探针测试治具包括绝缘基座及固定于所述绝缘基座上的若干探针和若干引线，所述绝缘基座具有两个相背的第一表面及第二表面，所述若干探针自所述第一表面背离该表面延伸形成，所述若干引线自所述第二表面背离该表面延伸形成，所述若干探针与第二表面的若干引线一一对应电性连接，相邻两根探针之间的间距小于相邻两个屏体端子的间距，该探针测试治具上若干探针所占用的面积大于所述屏体上多个屏体端子所占用的面积。作为本技术进一步改进的技术方案，探针及引线分别呈矩阵式排布。作为本技术进一步改进的技术方案，每一根探针的直径小于每一个屏体端子的宽度。作为本技术进一步改进的技术方案，探针的直径为20μπι。作为本技术进一步改进的技术方案，探针的间隙为30 μ m。作为本技术进一步改进的技术方案，若干探针所占用区域的形状呈矩形状。作为本技术进一步改进的技术方案，若干探针所占用区域的总长度大于屏体端子长度，所述若干探针所占用区域的宽度大于所述屏体端子的总宽度。作为本技术进一步改进的技术方案，若干引线通过镭射方式贯穿所述绝缘基座以电性连接所述探针。本技术与现有技术相比具有如下有益效果:本技术提供了一种探针测试治具，能够满足不同规格屏体点屏测试需求，当某一根或部分探针损坏时，不影响整套治具的正常使用，可节省维修或重做的时间和费用，缩短新产品开发周期，提高新产品开发的效率，即这种探针测试治具相比普通治具具有更高的可靠性和寿命。【专利附图】【附图说明】图1是本技术屏体端子结构示意图；图2是本技术具体实施例中探针测试治具与屏体端子的配合示意图；图3是本技术具体实施例中探针测试治具的探针及探针引线的立体示意图；图4是本技术具体实施例中探针测试治具的探针及探针引线的截面示意图；图5是本技术具体实施例中探针测试治具的探针与屏体端子接触状态的平面示意图；图6是本技术另一实施例中探针测试治具的探针的排列示意图。【具体实施方式】本实施例中，如图1所示，屏体100的关键部件屏体端子11是由导电材料制作而成，因而具有导电性。屏体端子区域包括屏体端子U、屏体端子间隙112。在测试过程中屏体端子11起到输入或输出信号的作用。屏体端子间隙112的设计是为了防止相邻屏体端子11短路。同一屏体同一端子区域各端子长度13，端子宽度111，端子间隙112是相同的。但是同一屏体不同屏体端子区域总宽度12、屏体端子长度13，端子宽度111及端子间隙112一般是不同的。参见图2所示,本实施例中,测试治具200包括绝缘基座21、及固定于所述绝缘基座21上的若干探针22和若干引线23，所述绝缘基座21具有两个相背的第一表面及第二表面，所述若干探针22自所述第一表面背离该表面延伸形成，所述若干引线23自所述第二表面背离该表面延伸形成。若干探针22与第二表面的若干引线23 —一对应电性连接，相邻两根探针22之间的间距小于相邻两个屏体端子11的间距，该探针测试治具上若干探针22所占用的面积大于所述屏体上多个屏体端子11所占用的面积。探针22及引线23分别呈矩阵式排布。每一根探针的直径221小于每一个屏体端子的宽度111。探针直径221为20 μ m，探针间隙222为30 μ m。若干探针22所占用区域的形状呈矩形状。若干探针22所占用区域的总长度25大于屏体端子长度12，所述若干探针22所占用区域的宽度24大于所述屏体端子的总宽度13。若干引线23通过镭射方式贯穿所述绝缘基座21以电性连接所述探针22。本实施中由于若干探针22的探针直径221和探针间隙222做的很小，已达到微米级，精度需求很高，而普通的焊接方式是无法达到这样的精度的，所以引线23是通过镭射方式穿入绝缘基座21与对应探针22固定连接的,该方式能达到微米(μπι)级的精度。在开始探测前，若干探针22通过夹具(行业内普遍采用的下压式夹具)连接到屏体端子11上。本实施中，如图2所示，四个探针223、探针224、探针225、探针226处于同一个屏体端子11上，假设探针223表示探针是第一排第7列的探针并将其编码为(1，7)，则探针224表示探针是第一排第8列的探针，编码为(1，8)，探针225表示探针是第一排第9列的探针，编码为(I，9)，探针226表示探针是第一排第10列的探针，编码为(1，10)，依次类推，(m，η)则表示第m排第η列那颗探针。利用这样的编码可以实现探针与引线的一一对应。需要说明的是，若干探针22的排列方式可以有很多种方式，不限于图3给出的方式，相应的探针编码可自由选定，甚至如图6所示的若干探针22的另一种可行的排列，只需要保证测试时能满足每一个屏体端子11上至少有一根探针准确定位的测试要求即可。同一个屏体端子11上有可能有很多根探针，如图5所示的有20根探针在同一屏体端子11上。开始检测前，也要确保探针引线23、每一根探针与信号控制系统有效可靠的连接，如图4所示。探针引线2本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种探针测试治具，用于测试包括多个屏体端子的屏体，其特征在于，所述探针测试治具包括绝缘基座及固定于所述绝缘基座上的若干探针和若干引线，所述绝缘基座具有两个相背的第一表面及第二表面，所述若干探针自所述第一表面背离该表面延伸形成，所述若干引线自所述第二表面背离该表面延伸形成，所述若干探针与第二表面的若干引线一一对应电性连接，相邻两根探针之间的间距小于相邻两个屏体端子的间距，该探针测试治具上若干探针所占用的面积大于所述屏体上多个屏体端子所占用的面积。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：徐奎，魏朝刚，张月华，
申请(专利权)人：昆山国显光电有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32