一种共用型双模电性测试电极座制造技术

一种共用型双模电性测试电极座属于电性测试装备技术领域，主要涉及一种电性测试电极座；本实用新型专利技术为了解决现有技术中针对高集成板子的测试装置存在不具备通用性，适用性差的问题；本实用新型专利技术包括两块电极板和两个支撑座，两块电极板分别安装在两个支撑座的上端面上，两块电极板下端通过若干电源线与连接器建立连接，两块电极板分别置于靠近两支撑座相接处的上端面上；本实用新型专利技术可模组化适应数百种不同机种电性测试，也可量身定做单一新型电性测试。

A common type dual mode electrical test electrode holder

A common type of dual-mode electric test electrode holder which belongs to the technical field of electrical testing equipment, mainly relates to an electric test electrode holder; the utility model in order to solve the test device for high integrated board existing in the prior art is not universal, the problem of poor applicability; the utility model comprises two electrode plates and two supporting seat, two electrode plates are respectively installed on the upper end of two supporting seats on the two electrode plate end connector and several power line connection is established through two pieces of electrode plates are respectively connected on the supporting seat is placed near the two end face; the utility model can adapt to hundreds of different types of modular power the test also can be tailored to a single test model of electrical.

【技术实现步骤摘要】
一种共用型双模电性测试电极座
一种电性测试电极座属于电性测试装备
，主要涉及一种共用型双模电性测试电极座。
技术介绍
随着半导体制造技术的高速发展，IC器件集成度迅速提高，安装技术已经从插装技术(THT)过渡到表面安装技术，并已走向芯片级封装技术。同时由于通迅技术的发展需要，要求信号的高速传递，PCB作为传送信号的主要渠道，致使PCB向高密度(HDI)发展成为必然。高密度(HDI)PCB的制程设备发展已经较为成熟。其表现是：第一，激光钻孔技术已经大量应用；第二，高密度(HDI)的主要应用技术，如HDI制造工艺ALIVH、B2IT在国外大量应用。但是关于HDI的测试手段，却没有太多的文献考究，而且由于PCB密度的提高，导致开短路故障比率大幅提升。故绝大部分PCB厂商在投资测试设备时都不具备完善的评估手段。现有技术中针对高集成板子的测试装置由于结构限制，电极部分和测量部分通常集成在一起，不具备通用性，适用性差的问题。
技术实现思路
为了解决上述问题，本技术公开了一种共用型双模典型测试电极座，不仅结构简单、具有良好的适用性和通用性。本技术的目的是这样实现的：一种共用型双模电性测试电极座，包括两块电极板、两块支撑座两块电极板分别安装在两个支撑座的上端面上，两块电极板下端通过若干电源线与连接器建立连接。所述两块电极板分别置于靠近两支撑座相接处的上端面上。所述共用型双模电性测试电极座包括滑动机构和底盘，两块支撑座的下端分别通过滑动机构与底盘建立连接。所述滑动机构两条滑动轨道和连接杆，支撑座下端设有卡块，卡块置于滑动轨道内，两个支撑座之间通过连接杆建立伸缩连接。所述电极板的下端面设有复数个电极孔，电源线一端连接电极孔，电源线的另一端穿出支撑座与连接器建立连接，连接稳固，检测全面。所述电极孔的数目为1000-15000个，与现有技术中几个点相比，测试范围更加全面，适用性更强。所述电极孔为全满格式矩阵均匀排列，可以满足各种板子的电性测试。所述支撑座与连接器之间设有过渡通道，对电源线进行很好的梳理和保护，防止搭接缠绕产生不必要的干扰和断线。所述过渡通道包括导向部分和保护部分，导向部分包括相互连接的第一导向部分和第二导向部分，第一导向部分的开口高度与大于第二导向部分的开口高度。所述保护部分的截面呈矩形，保护部分的高度大于导向部分的开口高度，导向部分对电源线进行疏导，保护部分可以在确保电源线分散插接时部会由于外界原因产生干扰或断线。本技术与现有技术相比，具有如下有益效果，本技术可以通用各式IC载板、PCB板、FPC板、HDL板以及各式精细线路板类短、断路的电性测试，可模组化适应数百种不同机种电性测试，也可量身定做单一新型电性测试，本技术也可用于高端电子、电机设备的功能电性测试、智能手机、OLED电灯的电性测试，本技术的模组为矩阵型全满格式点击框架机构，根据IC载板以及各种告警细线路板的待测点的点位间距、尺寸大小设计，通用性强，适用性更为广泛。附图说明图1是本技术整体结构示意图。图2是图1的右视图。具体实施方式下面结合附图对本技术具体实施方式作进一步详细描述。本实施例的一种共用型双模电性测试电极座，包括两块电极板1、两块支撑座2、滑动机构、底盘3、连接器4和过渡通道，所述电极板1的下端面设有8000个电极孔，所述电极孔为全满格式矩阵均匀排列。两块电极板1分别置于靠近两支撑座2相接处的上端面上，电源线一端连接电极孔，电源线的另一端穿出支撑座2，通过过渡通道后与连接器4建立连接，两块支撑座2的下端分别通过滑动机构与底盘3建立连接。所述滑动机构两条滑动轨道5和连接杆6，支撑座2下端设有卡块，卡块置于滑动轨道5内，两个支撑座2之间通过连接杆6建立伸缩连接。所述过渡通道包括导向部分7和保护部分8，导向部分7包括相互连接的第一导向部分7-1和第二导向部分7-2，第一导向部分7-1的输入端的开口高度与大于第二导向部分7输入端的开口高度，第二导向部分7-2为矩形框状。所述保护部分8的截面呈矩形，保护部分8的高度大于导向部分7的开口高度。因待测试的点位孔位相同或相近而内容物即线路功能设计卻有数百种之多，由此利用相同或相近的点位来测试不同的机种(料号)。需测试的点位通常少于全满格式矩阵电极点位、多余的点位可设定为空点，或以备异样料号使用。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种共用型双模电性测试电极座，其特征在于：包括两块电极板和两个支撑座，两块电极板分别安装在两个支撑座的上端面上，两块电极板下端通过若干电源线与连接器建立连接。

【技术特征摘要】
1.一种共用型双模电性测试电极座，其特征在于：包括两块电极板和两个支撑座，两块电极板分别安装在两个支撑座的上端面上，两块电极板下端通过若干电源线与连接器建立连接。2.根据权利要求1所述一种共用型双模电性测试电极座，其特征在于：所述两块电极板分别置于靠近两支撑座相接处的上端面上。3.根据权利要求1所述一种共用型双模电性测试电极座，其特征在于：所述共用型双模电性测试电极座包括滑动机构和底盘，两块支撑座的下端分别通过滑动机构与底盘建立连接。4.根据权利要求3所述一种共用型双模电性测试电极座，其特征在于：所述滑动机构两条滑动轨道和连接杆，支撑座下端设有卡块，卡块置于滑动轨道内，两个支撑座之间通过连接杆建立伸缩连接。5.根据权利要求1所述一种共用型双模电性测试电极座，其特征在于：所述电极板的下端面设有复数个...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴兆正，
申请(专利权)人：昆山鸿裕电子有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32