一种通用型微细探针测试治具制造技术

一种通用型微细探针测试治具属于电性测试技术领域，主要涉及一种电性测试治具；本实用新型专利技术为了解决现有技术中的电性测试治具由于传统结构的限制，不具有通用性，适用性差，测量精度差的问题；本实用新型专利技术包括若干测试细针和由上至下依次布置的针盘面、至少一块移动板和底座，针盘面、移动板和底座上均设有针孔，针盘面与移动板之间设有导向板，导向板上设有导向孔，测试细针的一端依次穿过移动板和底座的针孔，测试细针的另一端通过导向孔连接针盘面；本实用新型专利技术通用性强，适用性更为广泛。

Universal micro probe testing jig

A common type of micro probe test fixture which belongs to the technical field of electrical testing, mainly relates to an electrical test fixture; the utility model in order to solve the electrical test fixture in the prior art due to the traditional structure, is not universal, poor applicability, measurement accuracy of needle disk, the utility model; the test includes a number of fine needle and top-down arranged sequentially in the at least one moving plate and the base plate and the needle disk, mobile base is provided with a pinhole, the guide plate is arranged between the needle disk and the moving plate, the guide plate is provided with a guide hole, one end of the needle measuring test passes through the mobile plate and the base of the pinhole, the other end test the connection disk by fine needle needle guide hole; the utility model has the advantages of strong versatility, wide applicability.

【技术实现步骤摘要】
一种通用型微细探针测试治具
一种电性测试治具属于电性测试
，主要涉及一种通用型微细探针测试治具。
技术介绍
电性能测试主要是测试基板线路的导通性(Continuity)及绝缘性(Isolation)，导通性测试是指通过测量同一网络内结点间的电阻值是否小于导通阀值从而判断该线路是否有断开现象，即通常所说的开路；绝缘测试是指通过测量不同网络的结点间的电阻值是否大于绝缘阀值从而判断绝缘网络是否有短路现象。随着线路密度的增加，电性能测试的难度也虽之增加，相继产生了新的测试技术以应对PCB行业的发展。导致测试难度增加的主要因素有：基板表面的PAD大小、PAD跨距(Pitch)、导线间距缩小使导通孔径缩小，PAD表面镀层的压痕限制、测量阻值精度要求的提高、测试速度要求的提高等因素。现有技术中的电性测试治具由于传统结构的限制，不具有通用性，适用性差，测量精度差。
技术实现思路
为了解决上述问题，本技术公开了一种通用型微细探针测试治具，不仅结构简单、测量精度高，通用性强。本技术的目的是这样实现的：一种通用型微细探针测试治具，包括若干测试细针和由上至下依次布置的针盘面、至少一块移动板和底座，所述针盘面、移动板和底座上均设有针孔，所述针盘面与移动板之间设有导向板，导向板上设有导向孔，测试细针的一端依次穿过移动板和底座的针孔，测试细针的另一端通过导向孔连接针盘面。所述导向板上的导向孔的排布方式与待测板的待测点位置匹配对应。与待测板的待测点对应的导向孔至少为一个，此为防止线路印刷偏移、钻孔不准、板面不洁、测试针损耗、误判等现象。所述导向孔的中轴线与竖直方向呈一定角度，所述角度的锐角范围为0°-90°，可以根据不同情况与待测板进行接触。所述测试细针的直径范围为0.05mm-0.1mm之间，细针与传统测试治具的探针相比，极为纤细，触点更为全面，检测精细度高。所述针孔和导向孔的孔径为0.2mm，对测试细针起到良好的疏导变向作用；所述移动板和导向板的厚度范围为0.5mm-0.8mm之间，相邻两移动板之间距离与移动板厚度的比值范围为8∶1-10∶1，对于细针的调控效果更为精确。所述移动板与导向板之间的距离与移动板厚度的比值范围为8∶1-10∶1。本技术与现有技术相比，具有如下有益效果：本技术的结构简单，可以通用各式IC载板、PCB板、FPC板、HDL板以及各式精细线路板类短、断路的电性测试，可模组化适应数百种不同机种电性测试，也可量身定做单一新型电性测试，本技术也可用于高端电子、电机设备的功能电性测试、智能手机、OLED电灯的电性测试，本技术通用性强，适用性更为广泛。附图说明图1是本技术的整体结构示意图；图2是图1中A部分的放大示意图。具体实施方式下面结合附图对本技术具体实施方式作进一步详细描述。本实施例的一种通用型微细探针测试治具，包括若干测试细针4和由上至下依次布置的针盘面1、至少一块移动板2和底座7，所述针盘面1、移动板2和底座上均设有针孔6，所述针盘面1与移动板2之间设有导向板3，导向板3上设有导向孔5，测试细针4的一端依次穿过移动板2和底座的针孔，测试细针4的另一端通过导向孔5连接针盘面。所述导向板3上的导向孔5的排布方式与待测板的待测点位置匹配对应。与待测板的待测点对应的导向孔5至少为一个。所述导向孔5的中轴线与竖直方向呈一定角度。所述角度的锐角范围为0°-90°。所述测试细针4的直径范围为0.05mm-0.1mm之间。所述针孔6和导向孔5的孔径为0.2mm。所述移动板2和导向板3的厚度为0.8mm，相邻两移动板2之间距离与移动板2厚度的比值范围为10∶1。所述移动板2与导向板3之间的距离与移动板2厚度的比值范围为10∶1。所述治具组装完成后再与另一模块通用型矩阵式电极通电，完成接触测试程序；针盘面1中心的测试孔位设计是以待测板(物)的测点需要而设计在每一微细测试点上可设计二个以上有不同角度的测试针接触测试，此为防止线路印刷偏移、钻孔不准、板面不洁、测试针损耗、误判现象。移动板2的作用在于限制测试针之间的接触，以及限制测试针移动的方向、尺寸，所述移动板2上的针孔6在针盘面1的电板区域的响应位置处矩形均匀阵列排布；导向板3的作用在于：测试针需对应共享型电极座的点位，防止因盘面的孔位与电极座的点位不相同造成偏差，出现测量偏差，同时，使本技术更具有通用性。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种通用型微细探针测试治具，包括若干测试细针和由上至下依次布置的针盘面、至少一块移动板和底座，所述针盘面、移动板和底座上均设有针孔，其特征在于：所述针盘面与移动板之间设有导向板，导向板上设有导向孔，测试细针的一端依次穿过移动板和底座的针孔，测试细针的另一端通过导向孔连接针盘面。

【技术特征摘要】
1.一种通用型微细探针测试治具，包括若干测试细针和由上至下依次布置的针盘面、至少一块移动板和底座，所述针盘面、移动板和底座上均设有针孔，其特征在于：所述针盘面与移动板之间设有导向板，导向板上设有导向孔，测试细针的一端依次穿过移动板和底座的针孔，测试细针的另一端通过导向孔连接针盘面。2.根据权利要求1所述一种通用型微细探针测试治具，其特征在于：所述导向板上的导向孔的排布方式与待测板的待测点位置匹配对应。3.根据权利要求1所述一种通用型微细探针测试治具，其特征在于：与待测板的待测点对应的导向孔至少为一个。4.根据权利要求1所述一种通用型微细探针测试治具，其特征在于：所述导向孔的中轴线与竖直方向呈一角度。5.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴兆正，
申请(专利权)人：昆山鸿裕电子有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32