【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及驱动IC封装领域,特别是涉及一种IC封装凸块的制造工艺。
技术介绍
目前业界在驱动IC封装上是使用纯金凸块,为节省成本也有业者推出铜、镍金等组合来取代金。在IC封装过程中,随着封装密度的提高,原本的传统封装形态已经难以满足键合工艺要求,为使其能达到工艺控制要求,我们开发出一些相应的封装技术,提高了产品的可靠性,其中金/钯凸块因其价格及金属本身相对于其他金属的稳定性,使其更具优势。金/钯凸块的制造一般采用电镀方法,将金属沉积后形成。但是,传统的制造过程难以保证凸块的可靠性,其寿命也不佳,不能满足客户的需求。
技术实现思路
本专利技术主要解决的技术问题是提供一种IC封装凸块的制造工艺,能够制造出金加钯的双层凸块,作用于结合晶片和面板,能够降低材料成本,产品寿命更长,可靠度更加,增强了市场竞争性。为解决上述技术问题,本专利技术采用的一个技术方案是提供一种IC封装凸块的制造工艺,包括如下步骤 a、提供一硅片,其中所述硅片上至少形成有一铝垫及一硅片护层,在所述硅片上至少形成一双层凸块,所述双层凸块覆盖铝垫及硅片护层; b、在硅片上还至少形成一保护层,在所述保 ...
【技术保护点】
一种IC封装凸块的制造工艺,其特征在于,包括如下步骤:a、提供一硅片,其中所述硅片上至少形成有一铝垫及一硅片护层,在所述硅片上至少形成一双层凸块,所述双层凸块覆盖铝垫及硅片护层;b、在硅片上还至少形成一保护层,在所述保护层上至少形成一导电层;c、在硅片表面上至少形成一层厚度均一的光阻层,所述光阻层完全覆盖保护层和导电层;d、在硅片上对需要形成双层凸块的地方进行曝光和显影;e、在硅片表面沉积双层凸块;f、移除硅片表面的光阻层;g、采用化学蚀刻将多余的金属区域去除。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:余家良,
申请(专利权)人:江苏汇成光电有限公司,
类型:发明
国别省市:
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