一种发光元件测试系统及其方法技术方案

本发明专利技术揭示一种发光元件测试系统及其方法，该系统用于同时对多个待测物的光学特性进行测量，各个待测物分别接收一电能并输出一初始光线，各个初始光线具有一第一波长区间，该系统包含一过滤装置以及一感光装置。上述的过滤装置包含一第一过滤部，第一过滤部用以同时滤除这些初始光线的一第三波长区间并输出多个第一过滤后光线，这些第一过滤后光线分别具有一第二波长区间；而上述的感光装置则用以接收由过滤装置输出的光线并据以产生一相对应的光学数据。本发明专利技术让以往每测试所能支持的测试上限，由一颗提升至数十甚至数百颗，让发光元件的测试系统的效率提升数十至数百倍。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种发光元件测试系统，特别地，涉及一种利用过滤装置以同时对多个发光元件所发出的光线进行过滤及分析，借以得知发光元件的光学特性的发光元件测试系统。
技术介绍
由于发光元件的产能提高，发光元件的检测需求也随之增加。请参阅图1，图I为绘述了现有技术的系统示意图。现存的技术对发光元件进行光学测试时需利用积分球90配合光谱仪92以及亮度计94来测试其总光通量以及其他如色温、色坐标、演色系数等光学特性。 公知积分球为具有高反射性内表面的空心球体，其用于对球体内部或置放于球体外并靠近某个视窗处的待测物，对光的散射或发射进行收集的一种高效率器件。其原理为让光源在一个反射率接近100%的球体内作反射，在进行多次反射后，得假设在球体表面上的每一个区域所受到的光亮度是一样的，据此再测量其中一指定面积的亮度，再乘上该面积与积分球90内部的面积比，便可得知发光元件的总发光量。再者，光谱仪92以是在特定波长范围来测量来源光线的设备。公知光谱仪92包括一个色散元件，色散元件用来改变通过系统的光强度。色散元件如光栅、棱镜。其原理为利用当一束复合光线进入光谱仪的入射狭缝，首先由光学准直镜使其调成平行光，再通过衍射光栅色散为分开的波长。简而言之，光谱仪通过光栅分光以进行后续的分析效果。故此，理论上每个积分球每次只能对一颗发光元件进行测试。另外，光谱仪价格高昂且必需配搭积分球使用，因而造成测试单位的成本大幅增加。据此，现有技术也有发展出利用太阳能发电板为感测元件的相关技术，然而其只能对光强度进行分析，尚未能分析发光元件的色温以及其他的光学特性。有鉴于现有的技术中存在上述的问题，因此，如何研发出一种便宜、效率高且可全自动测量发光元件的光强度、色温以及其他光学特性的测试装置及方法，实为相关业界再加以思索并为突破的目标及方向。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的一范畴在于提供一种发光元件测试系统，用于对一待测物的光学特性进行测量，该待测物接收一电能并输出一具有一第一波长区间的初始光线，本专利技术发光元件测试系统包含过滤装置以及感光装置。过滤装置包含一第一过滤部，该第一过滤部用以滤除该初始光线的第三波长区间并输出一具有一第二波长区间的第一过滤后光线；另外，感光装置用以接收由该第一过滤部输出的该第一过滤后光线并据以产生一第一数据。其中，于实际应用时，其进一步包含一光学装置，该光学装置设置于该待测物及该过滤装置之间，用以调整该初始光线的焦距使之聚焦在该感光装置上。再者，该光学装置也得设置于该过滤装置及该感光装置之间，用以调整该初始光线的焦距使之聚焦在该感光装置上。其中，于实际应用时，过滤装置进一步包含有一第二过滤部，该第二过滤部用以滤除该初始光线的一第五波长区间并输出一相对应的具有一第四波长区间的第二过滤后光线，该第四波长区间与该第二波长区间相异。此外，过滤装置包含有一旋转装置，该旋转装置用于旋转该过滤装置以切换该第一过滤部及该第二过滤部的位置。其中，该感光装置用以接收由该第二过滤部输出的该第二过滤后光线并据以产生一第二数据。再者，本专利技术可进一步包含一运算装置，用以根据该第一数据及该第二数据产生该初始光线的相对强度-波长图；滤除该初始光线的一第三波长区间并输出一具有一第二波长区间的第一过滤后光线；对该第一过滤后光线进行测量以产生一第一数据；滤除该初始光线的一第五波长区间并输出一具有一第四波长区间的第二过滤后光线；对该第二过滤后光线进行测量以产生一第二数据；以及根据该第一数据以及该第二数据以产生该初始光线的相对强度-波长图。 于实际应用中，其进一步包含根据该初始光线的相对强度-波长图计算该待测物的照度、光通量、色温、演色系数或色坐标。再者，于实际应用时，感光装置包含一黑白型电荷率禹合模块(Charge-coupled Device module)或一黑白互补型金属氧化物半导体模块(Complementary Metal-Oxide-Semiconductormodule)。另外，本专利技术的另一范畴在于提供另一种发光元件测试方法，其包含准备一待测物，该待测物接收一电能并输出一具有一第一波长的初始光线；滤除该初始光线的一第三波长区间并输出一具有一第二波长区间的第一过滤后光线；对该第一过滤后光线进行测量以产生一第一数据；滤除该初始光线的一第五波长区间并输出一具有一第四波长区间的第二过滤后光线；对该第二过滤后光线进行测量以产生一第二数据；以及根据该第一数据以及该第二数据以产生该初始光线的相对强度-波长图。再者，于实际应用时，上述的方法进一步包含以下步骤调整该初始光线、该第一过滤后光线或该第二过滤后光线的焦距。相对于现有技术，本专利技术提出了一种可同时对多颗发光元件进行测试的系统与方法。另外，本专利技术也开创性的在测试系统中整合了一过滤装置，用以利用不同的过滤条件对待测物所发出的光线进行过滤处理后，整合各种过滤所得的光线进行分析处理以得一测试结果。本专利技术让以往每测试所能支持的测试上限，由一颗提升至数十甚至数百颗，让发光元件的测试系统的效率提升数十至数百倍。关于本专利技术的优点与精神可以通过以下的专利技术详述及附图得到进一步的了解。附图说明图I为绘述了现有技术的系统示意图。图2A为绘述了本专利技术发光元件测试系统的一具体实施例的示意图。图2B为绘述了本专利技术的一具体实施例的初始光线的相对强度-波长图。图2C为绘述了本专利技术的一具体实施例的第一过滤后光线的相对强度-波长图。图3A为绘述了本专利技术发光元件测试系统的一具体实施例的示意图。图3B为绘述了本专利技术的一具体实施例的初始光线的相对强度-波长图。图3C为绘述了本专利技术的一具体实施例的第一过滤后光线的相对强度-波长图。图3D为绘述了本专利技术的一具体实施例的过滤装置的俯视图。图4为绘述了本专利技术系统的另一具体实施例的示意图。图5为绘述了本专利技术系统的另一具体实施例的示意图。图6为绘述了本专利技术系统的另一具体实施例的示意图。图7为绘述了本专利技术发光元件测试方法的具体实施例的流程图。图8为绘述了本专利技术的一具体实施例的分析数据的示意图。上述附图中的附图标记说明如下 I:发光元件测试系统 12:光学装置14 :过滤装置142 :第一过滤部144 :第二过滤部16 :感光装置18 :运算装置2 :待测物22 :初始光线222 :第一波长区间224 :第二波长区间 226 :第三波长区间228:第四波长区间 229:第五波长区间24 :第一过滤后光线 26 :第二过滤后光线SI S6 :流程步骤2242 :第一数据2282 :第二数据90 :积分球92:光谱仪94:亮度计具体实施例方式为使本专利技术能更清楚的被说明，请参照以下本专利技术详细说明及其中所包括的实例，以更容易地理解本专利技术。本说明书仅对本专利技术的必要元件作出陈述，且仅用于说明本专利技术其中的可能的实施例，然而说明书的记述应不局限本专利技术所主张的技术本质的权利范围。除非于说明书有明确地排除其可能，否则本专利技术并不局限于特定方法、流程、功能或手段。也应了解的是，目前所述仅本专利技术可能的实施例，在本专利技术的实施或测试中，可使用与本说明书所述装置或系统相类似或等效的任何方法、流程、功能或手段。除非有另外定义，否则本说明书所用的所有技术及科学术语，都具有与本领域技术人员通常所了解的意义相同的意义。尽管在本专利技术的实施或测试中，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种发光元件的测试系统，用于对一待测物的光学特性进行测量，该待测物接收一电能并输出一具有一第一波长区间的初始光线，该测试系统包含：一过滤装置，包含一第一过滤部，该第一过滤部用以滤除该初始光线的一第三波长区间并输出一具有一第二波长区间的第一过滤后光线；以及一感光装置，用以接收由该第一过滤部输出的该第一过滤后光线并据以产生一第一数据。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：郑勗廷，曾一士，王遵义，
申请(专利权)人：致茂电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：