波片相位延迟量与快轴方位角的实时测量装置和方法制造方法及图纸

一种波片相位延迟量与快轴方位角的实时测量装置和方法，该装置由准直激光器、圆起偏器、一维光栅、标准四分之一波片、第一渥拉斯顿棱镜、第二渥拉斯顿棱镜、第三渥拉斯顿棱镜、第一准直透镜、第二准直透镜、第三准直透镜、第一双象限探测器、第二双象限探测器、第三双象限探测器、衰减器和信号处理系统组成，本发明专利技术能同时且实时地测量波片的相位延迟量和快轴方位角，测量范围大且测量结果不受初始光强波动、衍射效率差异和子光束电路常数差异的影响。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及波片测量，特别是一种波片相位延迟量和快轴方位角的实时测量装置和方法。
技术介绍
波片在偏振光学系统中被广泛地应用，是一种重要的产生相移的光学兀件。波片通常被用来改变光的偏振态或偏振方向。相位延迟量和快轴方位角是波片的两个重要参数，其误差严重影响了波片的使用效果，故需要精确测量波片的相位延迟量和快轴方位角。在先技术(参见Zheng Ping Wang, Qing Bo Li, Qiao Tan 等 Method of measuring the practical retardance and judging the fast or slow axis of aquarter-wave plate. Measurement, Vol. 39, 729-735, 2006)描述了一种测量波片相位延迟量的装置，该装置主要由激光器、起偏器、待测波片、直角棱镜、检偏器和光电探测器组成。在测量过程中，首先运用其他方法确定待测波片的主轴(快轴或慢轴)，然后将待测波片的主轴分别调节到水平位置和垂直位置，记录下主轴在这两个位置处而检偏器透振轴与水平方向成±45°夹角时的四个光强值，最本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：曾爱军，朱玲琳，李凡月，袁乔，黄惠杰，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：