【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及偏振测量领域，特别是涉及一种四分之一波片快轴方位实时测量装 置和方法。
技术介绍
四分之一波片是一种常用的偏振光学元件，在现代光学测量技术和偏振光应用 技术等领域有着广泛的应用。快轴方位是四分之一波片的重要光学参数之一，通常 情况下四分之一波片的快轴方位并未标明，在其使用过程中需要精确地测量四分之 一波片的快轴方位并在此基础上进行调整。在先技术(参见王伟，李国华，吴福全等.测量波片延迟量和快轴方位的新方 法.中国激光，Vol.30, 1121-1123， 2003)描述了一种可以测量四分之一波片快轴方 位的装置，该装置主要由光源、起偏器、检偏器和光电探测器组成。在测量过程中， 匀速转动被测四分之一波片并对出射光强进行连续测量，获得出射光强随时间变化 的曲线，利用变化曲线中第一个最大值出现的时间与被测四分之一波片的转动速度 来计算出被测四分之一波片的快轴方位。由于需要连续转动被测四分之一波片，该 装置无法实现快轴方位的实时测量，且需要能够连续稳定地旋转四分之一波片的精 密旋转机构，同时光源的光强波动会改变出射光强随时间变化的曲线，而引入较大 的测量误...
【技术保护点】
一种四分之一波片快轴方位实时测量装置，其特征在于该装置由准直光源（１），起偏器（２）、标准四分之一波片（３）、衍射分束元件（５）、聚焦透镜（６）、检偏器阵列（７）、光电探测器阵列（８）、放大电路（９）和信号处理系统（１０）组成，其位置关系是：沿所述的准直光源（１）的光束前进方向上，依次是所述的起偏器（２）、标准四分之一波片（３）、衍射分束元件（５）、聚焦透镜（６）、检偏器阵列（７）、光电探测器阵列（８），在所述的标准四分之一波片（３）和所述的衍射分束元件（５）之间设置待测四分之一波片（４），所述的光电探测器阵列（８）探测的信号经所述的放大电路（９）放大后输入所述的信号处理系...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：曾爱军，杨坤，郭小娴，谢承科，黄惠杰，王向朝，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]
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