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一种四分之一波片快轴方位实时测量装置和方法，该装置由准直光源、起偏器、标准四分之一波片、衍射分束元件、聚焦透镜、检偏器阵列、光电探测器阵列、放大电路和信号处理系统组成。测量方法是准直光源出射的平行光束经过起偏器、标准四分之一波片后形成圆偏振...
该专利属于中国科学院上海光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海光学精密机械研究所授权不得商用。

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