非晶态碲化镉薄膜的磁控溅射生长法制造技术

技术编号:6863892 阅读:287 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
非晶态碲化镉薄膜的磁控溅射生长法,其特征在于在具有六工位磁控溅射靶位的超高真空磁控溅射生长室,本底真空度优于3.0×10-4Pa,温度为25℃±10℃,用纯度为7N的高纯圆块状CdTe单晶靶为靶材,用纯度为5N的高纯Ar气为溅射工作气体,用载玻片为衬底材料,采用单靶常规溅射技术、三靶间歇式溅射技术或者二靶连续间歇式溅射技术,分别实现非晶态CdTe薄膜的制备。本发明专利技术具有工艺可控性强,生产成本低,易于工业化规模生产的优点,能在较低的室温条件下实现非晶态CdTe薄膜的制备,制备的非晶态CdTe薄膜粘附性好,膜质均匀致密。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及非晶态碲化镉(CdTe)薄膜的室温磁控溅射方法。
技术介绍
碲化镉(CdTe)是重要的II-VI族化合物半导体材料。经过适当的组分配比调节, CdTe可具有η型和ρ型两种导电类型,η型CdTe和ρ型CdTe载流子的迁移率都较好,其光吸收系数(对波长小于吸收边的光)极大,厚度为1 μ m的CdTe薄膜,能吸收大于CdTe禁带能量99%的辐射能量,因此,CdTe薄膜已成为制备高效率、低成本太阳电池的理想吸收层材料,也适用于制备透射波段为1 30 μ m的红外光学元件。随着第二代碲镉汞(HgCdTe)红外焦平面(FPA)热成像系统的发展,CdTe薄膜被认为是一种理想的HgCdTe薄膜表面钝化材料。由于HgCdTe器件工艺兼容性的要求,为防止 HgCdTe薄膜层中Hg的扩散和损失,CdTe薄膜的生长必须在低于70°C的条件下进行,这给 CdTe薄膜的制备带来了较大的困难。目前,CdTe薄膜主要采用电沉积方法、近距离升华法、 近距离蒸气输运法、真空热蒸发法等方法来制备,所制备的薄膜其致密性不好,特别在室温沉积条件下,CdTe薄膜与衬底表面的粘附性有待提高。与多晶、单晶CdTe本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.非晶态碲化镉薄膜的磁控溅射生长法,其特征在于:在具有六工位磁控溅射靶位的超高真空磁控溅射生长室,本底真空度优于3.0×10-4Pa,温度为25℃±10℃,用纯度为7N的高纯圆块状CdTe单晶靶为靶材,用纯度为5N的高纯Ar气为溅射工作气体,用载玻片为衬底材料,放入溅射生长室,其步骤是:(1)向磁控溅射生长室充入Ar气至真空度为1.0Pa~10Pa;(2)开启溅射源,起辉稳定后,调节溅射功率8W~15W(相当于功率密度0.28W/cm2~0.53W/cm2);(3)将作为衬底的处于非溅射靶位正上方的载玻片移至溅射靶位正上方,溅射沉积CdTe膜层,沉积时间为0.2~2小时;(4)溅射沉积结束时...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:孔令德庄继胜孔金丞赵俊李雄军李竑志王光华杨丽丽姬荣斌
申请(专利权)人:昆明物理研究所
类型:发明
国别省市:53

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