一种三段式测试探针制造技术

本实用新型专利技术公开了一种三段式测试探针，包括有探测头、针套、针体以及设置于针套内的压簧，所述针体包括有第一针体和第二针体，所述第二针体的一端套设于所述针套内且抵压所述压簧，所述第二针体的另一端与所述第一针体的一端固定连接，所述探测头与所述第一针体的另一端固定连接，所述针套、第一针体及第二针体一体成型。本实用新型专利技术的测试探针能有效结合复合式治具解决测试单面PCB板的问题，其测试稳定性好，具有结构简单，使用方便的优点。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及PCB测试装置
，特别涉及一种三段式测试探针。
技术介绍
随着电子技术的迅猛发展，印制线路板(PCB)的制作层数越来越高、线路密度越来越密、焊盘尺寸越做越小。通常，PCB板及芯片在完成布线后，为确定每一条线路皆可正常导通，须通过探针作为测试媒介。图1所示，现有的测试探针由针套1和针体2组成，针体2套设于针套1的前端，外露的部分形成探测头3。测试PCB板时，由于PCB板上有多个测试点，需将多个测试探针根据测试点的高低位置安装在测试探针的针盘上，然后针体的探测头与测试点相接触，针套的尾部通过导线连接测试机，从而完成PCB板的测试。对于高密度的PCB板，因密度太大， 使用的探针尺寸非常精细，其硬度无法保证，增大了测试难度。现有的测试探针其针体和针套是分开生产的，即先生产一支针体然后通过压接的方式加上针套，这种两段式分体结构的探针具有以下缺陷1.压接后的针套以及探测头使用时容易发生脱落；2.两段式的测试探针只能采用一种型号的探测头，故只能用于测试双面或四层及以上的PCB板，而对于单面PCB板，因焊盘孔是冲掉的，孔内无铜，需采用不同角度面的探测头进行测孔边，因此，两段式测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种三段式测试探针，包括有探测头、针套、针体以及设置于针套内的压簧，其特征在于：所述针体包括有第一针体和第二针体，所述第二针体的一端套设于所述针套内且抵压所述压簧，所述第二针体的另一端与所述第一针体的一端固定连接，所述探测头与所述第一针体的另一端固定连接，所述针套、第一针体及第二针体一体成型。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：苏宝军，
申请(专利权)人：东莞市连威电子有限公司，
类型：实用新型
国别省市：44