一种用于核电非磁性晶间腐蚀试样加工的夹具制造技术

技术编号:6793567 阅读:301 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种用于核电非磁性晶间腐蚀试样加工的夹具,用来加工晶间腐蚀试样,该夹具包含夹具底座、若干台阶槽和若干低位微型侧压组件,若干台阶槽间隔设置在夹具底座的上表面,该台阶槽沿上至下方向依次包含上部槽和下部槽,上部槽内设置晶间腐蚀试样,下部槽内固定设置若干低位微型侧压组件,该低位微型侧压组件压紧和定位晶间腐蚀试样。该夹具快捷、高效、安全可靠、定位精度高,提高了机加工工作效率,保证晶间腐蚀试样加工精度,同时有效地保护了操作者的安全。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种夹具,具体涉及一种用于核电非磁性晶间腐蚀试样加工的夹具
技术介绍
目前核电非磁性材料晶间腐蚀试样的加工在国内外都是一个难题,此类晶间腐蚀试样尺寸精度要求达到3士0. 05mm,表面粗糙度RaO. 8。由于核电不锈钢和镍基材料属于非磁性材料且硬度又高,因此只能采用传统的加工方法。此方法关键点是在磨床上进行单件磨削加工,加工的精度、表面粗糙度都不符合要求,且试样易产生变形,加工效率也低,直接影响核电产品生产的进度。而晶间腐蚀试样的精度又直接影响着晶间腐蚀考核指标,试样的合格与否关系着核岛主设备安全正常运行。由此可见,传统加工方法越来越不满足晶间腐蚀试样的加工要求。
技术实现思路
本专利技术提供了一种用于核电非磁性晶间腐蚀试样加工的夹具,该夹具快捷、高效、 安全可靠、定位精度高,提高了机加工工作效率,保证晶间腐蚀试样加工精度,同时有效地保护了操作者的安全。为了达到上述目的,本专利技术通过以下技术方案实现一种用于核电非磁性晶间腐蚀试样加工的夹具,用来加工晶间腐蚀试样,该夹具包含夹具底座,其特点是,还包含若干台阶槽和若干低位微型侧压组件;所述若干台阶槽间隔设置在夹具底座的上表面,该台阶槽沿上至下方向依次包含上部槽和下部槽;所述的上部槽内设置晶间腐蚀试样;所述的下部槽内固定设置若干低位微型侧压组件,该低位微型侧压组件压紧和定位晶间腐蚀试样。其中,所述的低位微型侧压组件包含低位微型侧压板及连接件;所述的连接件穿过低位微型侧压板与下部槽底部固定连接。本专利技术一种用于核电非磁性晶间腐蚀试样加工的夹具与现有技术相比具有以下优点本专利技术由于设有低位微型侧压组件,该低位微型侧压组件独特的杠杆式设计使用单向挡块,一次夹紧一个工件,设计紧凑,减少了空间浪费。本专利技术可同时平面磨床上一次使用多个该夹具加工试样,提高了加工效率本专利技术在磨床上使用该夹具加工试样,有效地保证了操作者的安全。本专利技术应用范围广,可适用于黑色金属、有色金属等材料的晶间腐蚀试样的机加工。附图说明3图1为本专利技术一种用于核电非磁性晶间腐蚀试样加工的夹具的主视图; 图2为本专利技术一种用于核电非磁性晶间腐蚀试样加工的夹具的俯视图。具体实施例方式下面结合图广图2详细说明本专利技术的一种较佳实施例。如图1所示,一种用于核电非磁性晶间腐蚀试样加工的夹具,用来加工晶间腐蚀试样3,该夹具包含夹具底座1及若干低位微型侧压组件2。在所述的夹具底座1上设有若干个台阶槽11。所述的台阶槽11沿上至下方向依次包含上部槽和下部槽,所述的晶间腐蚀试样3设置在上部槽内,而所述的低位微型侧压组件2则设置在下部槽内,并用来压紧定位晶间腐蚀试样3。所述的低位微型侧压组件2包含低位微型侧压板21及连接件22,所述的连接件22穿过低位微型侧压板21与下部槽固定连接。如图1和图2所示,本实施例中,该用于核电非磁性晶间腐蚀试样加工的夹具在现场应用时,在所述的夹具底座1的上表面间隔设有两个台阶槽11,且每个台阶槽11至上而下方向依次包含上部槽和下部槽。并且在本实施例中,共采用四个低位微型侧压组件2,分别固定设置在每个下部槽的两端。本实施例中,所述的低位微型侧压板21采用钢材料制成,连接件22为内六角螺丝。所述的内六角螺丝穿过低位微型侧压板21与下部槽底部固定连接,使低位微型侧压板组件2固定设置在台阶槽11的下部槽内。进一步,在每个台阶槽11的上部槽内放置1个晶间腐蚀试样3,即本实施例中可同时放置2个晶间腐蚀试样3,并分别通过每个下部槽两端的低位微型侧压板组件2将晶间腐蚀试样3定位。此时,通过旋紧内六角螺丝,使低位微型侧压板21向下压紧,并且该低位微型侧压板21对晶间腐蚀试样3产生压紧力,从而使晶间腐蚀试样3精确地固定在夹具底座 1的台阶槽11的上部槽内。本专利技术具有低位压紧、安全可靠、装拆方便、小巧玲珑等特点,其整体尺寸按照平面磨床磁吸盘大小而定,本实施例中台阶槽11的个数为两个,且每个台阶槽11两侧设有两个低位微型侧压组件2,从而可在夹具上同时布置2个晶间腐蚀试样3,通电后夹具磁吸力大于50kg。本专利技术可单使用,也可根据磨床大小,使用多个夹具同时进行大批量晶间腐蚀试样3加工。综上所述,本专利技术结构设计合理,有效的保证了主要尺寸偏差现象,保证了表面粗糙度,本专利技术可以加工各种厚度规格的晶间腐蚀试样3,使加工的试样质量完全符合GB、 ASME, RCCM、ISO等试验方法要求,从而确保了核电产品的质量;同时,本专利技术还大大改善了员工操作平面磨床加工晶间腐蚀试样3的环境,提高了加工的安全性和加工效率。尽管本专利技术的内容已经通过上述优选实施例作了详细介绍,但应当认识到上述的描述不应被认为是对本专利技术的限制。在本领域技术人员阅读了上述内容后,对于本专利技术的多种修改和替代都将是显而易见的。因此,本专利技术的保护范围应由所附的权利要求来限定。权利要求1.一种用于核电非磁性晶间腐蚀试样加工的夹具,用来加工晶间腐蚀试样(3),该夹具包含夹具底座(1),其特征在于,还包含若干台阶槽(11)和若干低位微型侧压组件(2 );所述若干台阶槽(11)间隔设置在夹具底座(1)的上表面,该台阶槽(11)沿上至下方向依次包含上部槽和下部槽;所述的上部槽内设置晶间腐蚀试样(3);所述的下部槽内固定设置若干低位微型侧压组件(2),该低位微型侧压组件(2)压紧和定位晶间腐蚀试样(3)。2.根据权利要求1所述的用于核电非磁性晶间腐蚀试样加工的夹具,其特征在于,所述的低位微型侧压组件(2)包含低位微型侧压板(21)及连接件(22);所述的连接件(22)穿过低位微型侧压板(21)与下部槽底部固定连接。全文摘要本专利技术公开了一种用于核电非磁性晶间腐蚀试样加工的夹具,用来加工晶间腐蚀试样,该夹具包含夹具底座、若干台阶槽和若干低位微型侧压组件,若干台阶槽间隔设置在夹具底座的上表面,该台阶槽沿上至下方向依次包含上部槽和下部槽,上部槽内设置晶间腐蚀试样,下部槽内固定设置若干低位微型侧压组件,该低位微型侧压组件压紧和定位晶间腐蚀试样。该夹具快捷、高效、安全可靠、定位精度高,提高了机加工工作效率,保证晶间腐蚀试样加工精度,同时有效地保护了操作者的安全。文档编号B24B7/00GK102225532SQ201110152148公开日2011年10月26日 申请日期2011年6月8日 优先权日2011年6月8日专利技术者朱浩军, 李华丽, 林仁军, 汤旭峰 申请人:上海电气核电设备有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于核电非磁性晶间腐蚀试样加工的夹具,用来加工晶间腐蚀试样(3),该夹具包含夹具底座(1),其特征在于,还包含若干台阶槽(11)和若干低位微型侧压组件(2);所述若干台阶槽(11)间隔设置在夹具底座(1)的上表面,该台阶槽(11)沿上至下方向依次包含上部槽和下部槽;所述的上部槽内设置晶间腐蚀试样(3);所述的下部槽内固定设置若干低位微型侧压组件(2),该低位微型侧压组件(2)压紧和定位晶间腐蚀试样(3)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:朱浩军林仁军汤旭峰李华丽
申请(专利权)人:上海电气核电设备有限公司
类型:发明
国别省市:31

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