【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体器件,特别是一种半导体多芯片封装堆叠结构。二
技术介绍
近年来,随着产业的发展,集成电路的封装技术也在不断的提高,其发展方向主要 向轻、薄、小的多元化发展,而且对集成度要求却越来越高。传统的封装技术,其封装形式多 为单个集成电路封装,在有限的电路板面积上,无法将集成电路的数量及功能有效的提升, 且会浪费封装材料,加大封装的成本。后来,直到BGA、 CSP封装技术的出现,大大降低了封 装尺寸,但它的芯片面积及封装面积的比值仍很低,且BGA封装的成本较高,基于成本考虑 的多功能的小的集成电路就不适合BGA的封装。目前,很多的封装堆叠技术的也得到了较 好的发展,通过由堆叠带来的封装体积优势保持甚至减小母板的尺寸,高效的堆叠还可以 提供灵活性方面的诸多优点,而且由于堆栈中的单个封装层可以在堆叠之前做完整测试, 因此可以确保更高的整体封装良品率。 较为常见的是多芯片直接堆叠封装,包括基板、接合剂1、第一芯片2a、第二芯片 2b、连接导线3a 3b、塑封体4及管脚6。第一芯片2a通过接合剂1固定与基板上,然后将 第二芯片2b通过接合剂焊接于第一芯片2a,多个 ...
【技术保护点】
一种半导体多芯片封装堆叠结构,包括有芯片、连接导线和基板,其特征在于,第一基板(5a)上经第一结合剂层(1a)装有第一芯片(2a),第一芯片(2a)上经第一连接导线(3a)接在伸出塑封体外的第一管脚(6a)上,在第一基板(5a)上面装有对称的第二基板(5b),第二基板(5b)上经第二结合剂层(1b)装有第二芯片(2b),第二芯片(2b)经第二连接导线(3b)接在伸出塑封体外的第二管脚(6b)上,由塑封体封(4)装构成一体的半导体封装堆叠结构。
【技术特征摘要】
一种半导体多芯片封装堆叠结构,包括有芯片、连接导线和基板,其特征在于,第一基板(5a)上经第一结合剂层(1a)装有第一芯片(2a),第一芯片(2a)上经第一连接导线(3a)接在伸出塑封体外的第一管脚(6a)上,在第一基板(5a)上面装有对称的第二基板(5b),第二基板(5b)上经第二结合剂层(1b)装有第二芯片(2b),第二芯片(2b)经第二连接导线(3b)接在伸出塑封体外的第二管脚(6b)上,由塑封体封(4)装构...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈泽亚,郑香舜,张长明,
申请(专利权)人:晶诚郑州科技有限公司,
类型:实用新型
国别省市:41[中国|河南]
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