【技术实现步骤摘要】
本专利技术相关于 一 种包含栅极电压提升的静电放电防护电 路,尤指用于一大尺寸开放式漏极电路的静电放电防护电路。
技术介绍
在一般电路设计中,由于需要避免因为环境或人体静电对 电路造成的伤害,通常会在电路中设置一个电路组,以使整个 电路避免因为静电的伤害破坏或是减损电路的寿命。这样的电路通常称为静电放电(ESD ; Electrostatic Discharge)防护电路,在已知技术中,考虑ESD电路设计通常有 两种方法1. 在电路中装设镇流电阻器(Ballastresistor),可避免因为 电路中的寄生(parasitic)NMOS,因为不正常的导通,因而降低 静电保护的等级,在电路中装设镇流电阻器可改善NM()S不正 常导通的问题。2. 在电源线间加上ESD箝制电路,以引导部分或全部的电 流。请参阅图1,其为传统具有ESD箝制电路的输出电路电路图, 如图1所示,输出电^各1中包含ESD箝制电路ll,连接于电压源 VCC以及接地端12之间,输出电路l另夕卜包含PMOS13, PMOS13 的源极耦接于电压源VCC 、漏极耦接于输出端16 ,以及 NMOS14 ...
【技术保护点】
一种包含栅极电压提升的静电放电防护电路,其特征在于,用于一大尺寸开放式漏极电路的静电放电防护电路,该包含栅极电压提升的静电放电防护电路包含: 一电压源,用以提供一电压; 一第一P型金属氧化物半导体,耦接至该电压源; 一第一 N型金属氧化物半导体,耦接至该P型金属氧化物半导体; 一寄生二极管,耦接至该P型金属氧化物半导体; 一第二N型金属氧化物半导体,耦接至该P型金属氧化物半导体的漏极; 一第一寄生电容,耦接至该第二N型金属氧化物半导体; 一第二寄生电容,耦接至该第一寄生电容与该第二N型金属氧化物 ...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:郭荣彦,
申请(专利权)人:普诚科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]
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