电子部件安装装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种电子部件安装装置，其能够迅速准确地进行关于电子部件的吸附的各种判定。该电子部件安装装置用吸附嘴（１０）吸附／保持电子部件（Ｅ），并且具有能够将该电子部件（Ｅ）放置在基板上的预定位置的移载头，当将电子部件（Ｅ）正常吸附在吸附嘴（１０）上时（图１（Ａ）），将吸附嘴（１０）定位于可使该电子部件仅遮蔽光电传感器的检测范围（１４Ｃ）的一部分的预定检测高度（Ｚ１），此时，根据光电传感器按照其受光量在正常吸附时输出的基准（Ｆａ）和实际检测到的输出值（Ｆ１）的关系，来判定电子部件（Ｅ）的吸附的有无、吸附姿势的异常或者放置错误等。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种电子部件安装装置，其能够判定电子部件的吸附状态。
技术介绍
以往，例如在专利文献1中，公开了能够判定电子部件的吸附状态好坏的电子部件安装装置。专利文献1中所记载的安装装置具有上下位置检测器，其检测吸附嘴的驱动机构的上下移动量，并间接地检测吸附嘴的位置；真空检测器，其检测吸附嘴的真空状态；以及利用光电传感器的有无检测器等。该安装装置根据来自这些检测器的检测信号，来判定电子部件的吸附姿势的好坏。换句话说，如图14所示，在有无检测器102的输出为关闭的状态下，使吸附嘴104上升，通过吸附嘴104的上下位置检测器(图示略)检测有无传感器102的输出变为打开的位置(例如相当于图14的线L0或L1的位置)。在该检测位置与电子部件E被正常吸附时的基准嘴位置(相当于图14(A)中的线L0的位置)一致或基本一致的情况下，则将该结果判定为电子部件E被正常吸附。另一方面，如图14(B)所示，在该检测位置是从该基准嘴位置L0较大偏移A1后的L1的情况下，则判定为异常的竖立状态。另外，在该专利文献1中，虽然也公开了判定吸附嘴104的磨损程度的技术，但是其判定原理与判定上述电子部件E的吸附好坏的原理是相同的。即，如图15所示，正常的吸附嘴104预先存储有无检测器102的输出值从关闭变为打开时的上下位置检测器的基准嘴位置Lr，在使作为测定对象的吸附嘴104C上升时，由上下位置检测器实际测出有无检测器102的输出值实际上从关闭变为打开时的嘴位置L2。其结果，在吸附嘴104C从基准嘴位置Lr向下移动B的位置L2时，在有无检测器102的输出值从关闭变为打开的情况下，能够确认磨损量为B。因此，如果该磨损量B在容许值限度以内，则判定为作为测定对象的吸附嘴104C不需要更换，若该磨损量B在容许值限度以外，则判定为该吸附嘴104C需要更换。专利文献1日本特许第2790694号公报在使用专利文献1所记载的安装装置对电子部件的吸附异常等进行判定时，如图14(B)或图15(B)所示，将有无检测器102的输出从关闭变为打开时的位置，与基准嘴位置L0或Lr进行比较，从而，在明确变化了例如A1或B的位置的情况下，能够进行检测、判定。但是，例如在如图16(C)所示，由于某种原因而电子部件E被不适当地吸附，其结果，在有无检测器102的用○表示的光轴被开放的嘴的下端位置与正常吸附时的位置L0几乎没有变化的情况下，则不能够对电子部件E的吸附状态进行正确地检测或判定。另外，在该安装装置中，为了检测所吸附的电子部件E的底面，要在使吸附嘴104上升的同时读取有无检测器102的输出值，并且，由于需要将该输出值作为触发信号(trigger)来读取上下位置检测器的输出值，因而难以兼顾检测精度的提高和装置节拍时间(tact time)的缩短。即，为了缩短装置的节拍时间，在以较快的速度使吸附嘴104的高度变化的情况下，检测精度显著降低。例如，在以1m/sec的速度使吸附嘴104上升，并使用响应时间为1msec的有无检测器102进行检测的情况下，电子部件E的底面使有无检测器102的光轴开放，通过该开放使有无检测器102的输出实际上从关闭变为打开最多用1msec，其间吸附嘴104的实际高度也变化了1mm。另一方面，为了提高检测精度，可以使吸附嘴104的移动速度减慢，但在该情况下，必然使装置的节拍时间增大，与其相应导致生产率降低。此外，该不良情形也同样地发生在根据相同的检测原理而进行的嘴末端的相关检测、判定时。
技术实现思路
本专利技术就是为了解决这种现有问题而提出的，其目的在于提供一种能够迅速准确地进行关于电子部件的吸附的各种判定的安装装置。本专利技术的电子部件安装装置，其用吸附嘴吸附、保持电子部件，并且具有能够将该电子部件放置在基板上的预定位置的移载头，该电子部件的安装装置包括光电传感器，其具有光束的投光部和受光部，并且能够输出与受光部的检测范围内的受光量对应的值；嘴定位单元(手段)，其当将所述电子部件正常吸附在所述移载头的吸附嘴上时，使所述吸附嘴定位于预先设定的预定高度，以使该电子部件仅遮蔽所述光电传感器的检测范围的一部分；以及判定单元，其根据基准输出值和输出值，来判定电子部件吸附的有无或者电子部件吸附姿势的异常或者电子部件的放置错误这三项中的至少一项，该基准输出值是预先设定成在该预定高度在正常吸附时所述光电传感器按照其受光量进行输出的值，该输出值是在该预定高度进行判定时实际检测到的值。根据本专利技术，电子零件被正常吸附时，吸附嘴定位于该电子部件仅可遮蔽光电传感器的检测范围的一部分的预定高度。本专利技术的光电传感器，根据检测范围内的受光量而变化，因此，如后所述，如果电子部件不是在正常状态下被吸附的，(即使在某一个为异常吸附的情况下)则由光电传感器检测出与正常吸附时所获得的基准输出值不同的输出值。因此，能够准确地判定各种状态的异常吸附。另外，检测本身能够通过在所述预定高度上的一次检测而完成，因此能够缩短节拍时间。另外，本专利技术可以使所述预定高度根据吸附的电子部件的种类而变化。另外，在本专利技术中，使所述判定单元进行判定时的阈值，根据没有吸附电子部件的状态下的所述光电传感器的输出值而变化。另外，本专利技术还具有嘴旋转、定位单元，用于当在所述预定高度定位吸附嘴并判定时，使该吸附嘴在轴中心上旋转、定位于多个嘴基准角度，该嘴旋转、定位单元能够在各嘴基准角度分别检测所述光电传感器的输出值。另外，本专利技术的电子部件的安装装置，其用吸附嘴吸附、保持电子部件，并且具有能够将该电子部件放置在基板上的预定位置的移载头，该电子部件的安装装置包括光电传感器，其具有光束的投光部和受光部，并且能够输出与受光部的检测范围内的受光量对应的值；嘴定位单元，其在正常的吸附嘴被正常安装在所述移载头上时，使所述吸附嘴定位于预先设定的预定高度，以使该吸附嘴仅遮蔽所述光电传感器的检测范围的一部分；以及判定单元，其根据基准输出值和输出值，来判定吸附嘴的实际高度或者吸附嘴的安装异常或者吸附嘴的磨损状态这三项中的至少一项，该基准输出值是预先设定成在该预定高度在正常时所述光电传感器按照其受光量进行输出的值，该输出值是在该预定高度进行判定时实际检测到的值。由此，根据相同的判定原理，也能够适用于关于吸附嘴自身的各种判定。另外，如果使所述预定高度根据通过该结构而得出的吸附嘴的实际高度而变化，则能够进行更加准确的电子部件的吸附判定。根据本专利技术，能够迅速准确地进行关于电子部件的吸附的各种判定。附图说明图1是示意地表示要使用本专利技术第一实施方式的电子部件的安装装置进行判定的电子部件的吸附状态的例子的剖面图。图2是示意地表示要使用该安装装置进行判定的电子部件的吸附状态的其他例子的剖面图。图3是表示该安装装置的外观的立体图。图4是表示该安装装置所具有的移载头的立体图。图5是表示该安装装置所具有的光电传感器的立体图。图6是表示该光电传感器的受光级别与传感器输出的关系的图表。图7是表示该实施方式的作用的流程图。图8是说明光电传感器的输出值的检测原理的线图。图9表示可适用于本实施方式的附设于移载头的其他的光电传感器的例子，是与图4相当的立体图。图10是示意地表示将本专利技术适用于检测喷嘴顶端状态的实施方式的例子的剖面图。图11是对表示本专利技术第二实施方式的特征的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子部件安装装置，其用吸附嘴吸附、保持电子部件，并且具有能够将该电子部件放置在基板上的预定位置的移载头，其特征在于，包括：光电传感器，其具有光束的投光部和受光部，并且能够输出与受光部的检测范围的受光量对应的值；嘴定位单元，其在将所述电子部件正常吸附在所述移载头的吸附嘴上时，使所述吸附嘴定位于预先设定的预定高度，以使该电子部件仅遮蔽所述光电传感器的检测范围的一部分；以及判定单元，其根据基准输出值和输出值，来判定电子部件吸附的有无或者电子部件的吸附姿势的异常或者电子部件的放置错误这三项中的至少一项，该基准输出值是预先设定成在该预定高度在正常吸附时所述光电传感器按照其受光量进行输出的值，该输出值是在该预定高度进行判定时实际检测到的值。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：齐藤胜，八幡直幸，
申请(专利权)人：重机公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]