【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种静电放电防护,特别涉及一种具有阻抗匹配的静电放电防护电路。
技术介绍
在人体放电模式(human body mode,HBM)静电放电(electrostaticdischarge,ESD)事件中,数百伏特的电压可在约为100纳秒的时间内从操作者传送至电路。这样的高电压传送可能会损坏位于电路的输入级的栅极氧化层,并且可能导致电路故障(circuit malfunction)。当栅极氧化层的厚度减少时,对栅极氧化层提供防护电路或装置是非常重要的。如图1所示,传统ESD防护设计是使用适用于数字集成电路(integratedcircuits,ICs)的两级(two-stage)防护结构。在输入初级ESD箝位(clamp)装置(primary stage)12以及次级(secondary stage)11之间加入电阻R以限制ESD电流流经次级中的短通道NMOS 11。电阻R的阻值取决于设置于初级ESD箝位(clamp)装置12的导通电压以及设置于次级中的短通道NMOS 11的次要崩溃电流。这样的两级ESD防护提供较高的ESD防护等级至数字输入接脚。然 ...
【技术保护点】
一种静电放电防护电路,具有阻抗匹配,包括:至少一条传输线,串接于接合垫与射频内部电路之间,所述传输线的两端都具有节点;电源轨;以及ESD单元,耦接于各节点与上述电源轨之间,包括至少一个静电放电单元;其中接近所 述接合垫的所述静电放电单元可承受较高等级的静电放电应力。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员:柯明道,李健铭,
申请(专利权)人:台湾积体电路制造股份有限公司,
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]
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