半导体发光装置制造方法及图纸

技术编号:3314783 阅读:153 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种半导体发光装置。尽管常规使用的ITO电极膜提供了发射光的高透射率,但是在ITO电极膜和p型GaN系统半导体层之间却产生了肖特基型接触的形成,这使得不能形成任何电流的统一流动。本发明专利技术的目的是提供一种通过形成透明电极构成的半导体发光装置,取代ITO电极膜的该透明电极在GaN系统半导体光发射装置的光提取或光退出侧易于获取欧姆特性,以提高GaN系统半导体光发射装置光发射效率和光提取效率。为了实现上述目的,本发明专利技术提供了一种由GaN系统半导体组成的、包括光发射层的半导体光发射装置,将该光发射层插入于n型GaN系统半导体层或p型GaN系统半导体层之间,其中提供了Ga掺杂Mg↓[z]Zn↓[1-z]O(0≤Z<1)电极膜。(*该技术在2024年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种由GaN系统半导体组成的、包括光发射层的GaN系统半导体发光装置,更具体地,是一种具有优异光发射效率和光提取效率的GaN系统半导体发光设备。
技术介绍
由于包括GaN系统半导体层的GaN系统半导体发光设备使得可以实现白光LED,存在着考虑将其用于应用于背光的电子设备的可能性。GaN系统半导体发光装置具有作为其基本结构的pn结二极管,其中将光发射层插入n型GaN系统半导体层和p型GaN系统半导体层之间。将光发射层电子从n型GaN系统半导体层注入,而将空穴从p型GaN系统半导体层注入,由此在光发射层将其重新结合以发射光。不过,特别是基于高电阻率(几欧姆·厘米)的p型GaN系统半导体层,只能直接将用于粘接垫片提供电流的金属电极依附于n型GaN系统半导体层或p型GaN系统半导体层会不方便地导致限制单独流过围绕金属电极的电流。结果在间隔金属电极外围较远的光发射层中发射变弱。另一方面,金属电极使任何围绕金属电极的发射光不能被提取到该半导体发光装置之外。常规地,为了获得电流的统一分布,构思了形成金属薄膜用于电流传播。与Ni/Au层压电极、Pt等类似,需要将这种金属薄膜材料在氧本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种由GaN系统半导体组成的、包括光发射层的半导体光发射装置,将该光发射层插入于n型GaN系统半导体层或p型GaN系统半导体层之间,其中提供了Ga掺杂Mg↓[Z]Zn↓[1-Z]O(0≤Z<1)电极膜。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:中原健
申请(专利权)人:罗姆股份有限公司
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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