【技术实现步骤摘要】
本专利技术与探针卡有关,特别是指一种用于探针卡的探针装置。
技术介绍
一般用于测试半导体芯片的探针卡(80)结构,如图15所示,包含有一电路板(81)、一空间转换器(82),以及多数探针(83);空间转换器(82)通常是以陶瓷材料制成,且内部具有多数以预定方式分布的导线(84),电路板(81)由中间插入物(85)电性连通于空间转换器(82)的各导线(84)一端,各探针(83)则接合于空间转换器(82),且电性连通于各导线(84)另一端的端点(86);利用空间转换器(82)中各导线(84)的分布方式,可使原来排列位置较为紧密的各探针(83)在接收到测试芯片用的电性讯号以后,将电性讯号传送至排列位置较为宽松的电路板(81)的各导线(84);同时,由于空间转换器(82)为陶瓷材料,其结构强度较高,可维持该等探针(83)的平面度,以及支撑住各中间插入物(85)。随着半导体芯片技术的进步,探针卡(80)所具有的探针(83)数量越来越多,使得空间转换器(82)与各探针(83)相互接合的导线(84)数量也必须增加,各导线(84)之间的距离亦相对缩小;但是,由于受到陶瓷材料于 ...
【技术保护点】
一种探针卡的探针装置,包含有:一本体,该本体设有多数第一导体;一主电路层,该主电路层设有多数第二导体,该主电路层直接成形于该本体,使各该第二导体电性连通于各该第一导体;以及一转换件,该转换件具有多数第三导体,该转换件 接合于该主电路层,使各该第三导体电性连通于各该第二导体。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:陈志忠,范宏光,
申请(专利权)人:旺矽科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]
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