SMD恒温晶体测试插座制造技术

技术编号:15610394 阅读:147 留言:0更新日期:2017-06-14 01:52
本实用新型专利技术涉及的是一种SMD恒温晶体测试插座,其特征是包括基座,弹性探针,限位挡块,双面板PCB,其中基座通过焊接固定在双面板PCB的背面,限位挡块焊接固定在双面板PCB的正面,弹性探针卡嵌在限位挡块之中,并通过焊接固定。本实用新型专利技术的优点:1)SMD恒温晶体与探针始终保持弹性接触,保证了在温度变化和震动环境中的电气连接可靠性,2)插座的操作方便,可靠性高。很好的电气连接可靠性,从而优化了SMD恒温晶体的测试过程。3)所用材料成本低,可以大量推广,实用性强。

【技术实现步骤摘要】
SMD恒温晶体测试插座
本技术涉及的是一种SMD恒温晶体测试插座,用于优化SMD恒温晶体的测试过程。
技术介绍
SMD恒温晶体属于高精度电子元件,在SMD恒温晶体的测试过程中,测试工装与SMD恒温晶体的接触不良会造成测试结果的严重失真。特别是在温频特性测试中,测试工装要在高温和低温环境中与石英晶体保持良好的电气接触,对测试工装提出了更高的要求。传统的温频特性测试工装通常是用一个配套的基座,将PIN脚弯曲后与SMD恒温晶体焊盘接触,或者将PIN脚直接有焊盘焊接在一起。这样的安装方式通常会出现以下问题:1)直接与焊盘接触,无法保证良好的接触,在高低温环境或者振动条件下,会出现脱落、接触不良等;2)通过焊接的方式,破坏了焊盘,且切焊盘会留下焊锡,影响美观;3)SMD恒温晶体的外形尺寸越来越小,用基座的方式存在着操作困难,接触不良以及会破坏焊盘等问题,极大的影响了作业效率。以上情况在生产中均有待解决。
技术实现思路
本技术提出的是一种SMD恒温晶体测试插座,其目的旨在克服现有技术所存在的上述缺陷,具有良好的电气连接可靠性。本技术的技术解决方案:SMD恒温晶体测试插座,其结构包括基座1,弹性探针2,限位挡块3,双面板PCB4,其中基座1通过焊接固定在PCB背面,限位挡块3经焊接固定在PCB4正面,弹性探针2卡嵌在限位挡块3之中,并通过焊接固定。本技术的优点:1)SMD恒温晶体与探针始终保持弹性接触,保证了在温度变化和震动环境中的电气连接可靠性;2)对插座的操作方便,可靠性高;3)所用材料成本低,可以大量推广,实用性强。附图说明图1为SMD恒温晶体测试插座的示意图。图中的1是基座,2是弹性探针,3是限位挡板,4是双面PCB。具体实施方式对照附图,SMD恒温晶体测试插座,其结构包括基座1,弹性探针2,限位挡块3,双面板PCB4,其中基座1通过焊接固定在PCB背面,限位挡块3经焊接固定在PCB4正面,弹性探针2卡嵌在限位挡块3之中,并通过焊接固定。弹性探针2之间的距离小于SMD恒温晶体焊盘之间的距离,保证SMD恒温晶体与弹性探针2良好接触。弹性探针2处于与SMD恒温晶体焊盘正对的位置。实施例在PCB背面上有焊接盘,与基座焊接连接。PCB上有限位挡块和弹性探针,限位挡板精确地确限制弹性探针的位置,弹性探针的位置与SMD恒温晶体的焊盘相对应。SMD恒温晶体通过弹性探针,卡在PCB上,保存良好接触。本文档来自技高网...
SMD恒温晶体测试插座

【技术保护点】
SMD恒温晶体测试插座,其特征是包括基座,弹性探针,限位挡块,双面板PCB ,其中基座通过焊接固定在双面板PCB 的背面,限位挡块焊接固定在双面板PCB 的正面,弹性探针卡嵌在限位挡块之中,并通过焊接固定。

【技术特征摘要】
1.SMD恒温晶体测试插座,其特征是包括基座,弹性探针,限位挡块,双面板PCB,其中基座通过焊接固定在双面板PCB的背面,限位挡块焊接固定在双面板PCB的正面,弹性探针卡嵌在限位挡块之中,并通过焊接固定。2.根...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡宝浩金鑫
申请(专利权)人:南京中电熊猫晶体科技有限公司
类型:新型
国别省市:江苏,32

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