一种三倍频模块制造技术

本实用新型专利技术涉及倍频设备技术领域，具体涉及一种三倍频模块；包括第一SMA连接器、第一门芯片、滤波模组、泛音晶体、第二SMA连接器、第二门芯片和带通滤波模组，第一门芯片分别与第一SMA连接器和滤波模组电性连接，第二门芯片分别与第二SMA连接器和带通滤波模组电性连接，泛音晶体设置于滤波模组和带通滤波模组之间，通过滤波模组通过泛音晶体形成一个三倍频信号，带通滤波模组对测试仪器的其它频率输出进行过滤，第二门芯片连接第二SMA连接器，输出一个三倍频信号；通过将晶体振荡器的输出频率进行倍频后，再接入测试仪器进行测试，获得便于对频率较低的晶体振荡器进行测试的效果。对频率较低的晶体振荡器进行测试的效果。对频率较低的晶体振荡器进行测试的效果。

【技术实现步骤摘要】
一种三倍频模块


[0001]本技术涉及倍频设备
，尤其涉及一种三倍频模块。

技术介绍

[0002]晶体振荡器属于高精度电子元件，产品的各种参数要求非常精确，需要将晶体振荡器接入到测试仪器对其各种输出参数进行测试，以便及时调试，使参数满足要求。
[0003]但在测试过程中，对于频率较低的晶体振荡器，测试仪器无法对晶体振荡器进行测试。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种三倍频模块，解决了对于频率较低的晶体振荡器，测试仪器无法对其进行测试的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术采用的一种三倍频模块，包括第一SMA连接器、第一门芯片、滤波模组、泛音晶体、第二SMA连接器、第二门芯片和带通滤波模组，所述第一门芯片分别与所述第一SMA连接器和所述滤波模组电性连接，所述第二门芯片分别与所述第二SMA连接器和所述带通滤波模组电性连接，所述泛音晶体设置于所述滤波模组和所述带通滤波模组之间。
[0006]滤波模组通过泛音晶体形成一个三倍频信号，带通滤波模组对测试仪器的其它频率输出进行过滤，第二门芯片连接第二SMA连接器，输出一个三倍频信号；通过将晶体振荡器的输出频率进行倍频后，再接入测试仪器进行测试，获得便于对频率较低的晶体振荡器进行测试的效果。
[0007]其中，所述滤波模组包括第一电容和第一电感，所述第一电容分别与所述第一电感和所述第一门芯片电性连接。
[0008]所述第一电容和所述第一电感连接，并通过所述泛音晶体形成一个三倍频信号，对所述第一SMA连接器的输出信号进行滤波，所述第一电容和所述第一电感形成一个三倍频信号。
[0009]其中，所述带通滤波模组包括第二电容和第二电感，所述第二电容分别与所述第二电感和所述第二门芯片电性连接。
[0010]所述第二电容和所述第二电感连接，所述第二电容和所述第二电感对所述第一门芯片的输出信号进行滤波。
[0011]其中，所述第一门芯片的1引脚悬空，所述第一门芯片的2引脚输入端与所述第一SMA连接器相连，所述第一门芯片的3引脚接地。
[0012]所述第一门芯片具有1引脚、2引脚、3引脚，所述第一门芯片的1引脚悬空，所述第一门芯片的2引脚输入端与所述第一SMA连接器相连，所述第一门芯片的3引脚接地，通过将晶体振荡器的输出频率进行倍频后，再接入测试仪器进行测试，获得便于对频率较低的晶体振荡器进行测试的效果。
[0013]其中，所述第一门芯片的4引脚输出端与所述第一电容相连，所述第一门芯片的5引脚接电源。
[0014]所述第一门芯片还具有4引脚、5引脚，所述第一门芯片的4引脚输出端与所述第一电容相连，所述第一门芯片的5引脚接电源；通过将晶体振荡器的输出频率进行倍频后，再接入测试仪器进行测试，获得便于对频率较低的晶体振荡器进行测试的效果。
[0015]本技术的一种三倍频模块，将晶体振荡器与所述第一SMA连接器的接口连接，将测试仪器与所述第二SMA连接器的接口连接，所述滤波模组通过所述泛音晶体形成一个三倍频信号，所述带通滤波模组对测试仪器的其它频率输出进行过滤，所述第二门芯片连接所述第二SMA连接器，输出一个三倍频信号；通过将晶体振荡器的输出频率进行倍频后，再接入测试仪器进行测试，获得便于对频率较低的晶体振荡器进行测试的效果。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1是本技术的三倍频模块的结构示意图。
[0018]1‑
第一SMA连接器、2
‑
第一门芯片、3
‑
第一电容、4
‑
第一电感、5
‑
泛音晶体、6
‑
第二SMA连接器、7
‑
第二门芯片、8
‑
第二电容、9
‑
第二电感。
具体实施方式
[0019]请参阅图1，其中图1是三倍频模块整体的结构示意图。
[0020]本技术提供了一种三倍频模块，包括第一SMA连接器1、第一门芯片2、滤波模组、泛音晶体5、第二SMA连接器6、第二门芯片7和带通滤波模组，所述第一门芯片2分别与所述第一SMA连接器1和所述滤波模组电性连接，所述第二门芯片7分别与所述第二SMA连接器6和所述带通滤波模组电性连接，所述泛音晶体5设置于所述滤波模组和所述带通滤波模组之间。
[0021]在本实施方式中，将测试仪器与所述第二SMA连接器6的接口连接，所述滤波模组通过所述泛音晶体5形成一个三倍频信号，所述带通滤波模组对测试仪器的其它频率输出进行过滤，所述第二门芯片7连接所述第二SMA连接器6，输出一个三倍频信号；通过将晶体振荡器的输出频率进行倍频后，再接入测试仪器进行测试，获得便于对频率较低的晶体振荡器进行测试的效果。
[0022]进一步地，所述滤波模组包括第一电容3和第一电感4，所述第一电容3分别与所述第一电感4和所述第一门芯片2电性连接。
[0023]在本实施方式中，所述第一电容3和所述第一电感4连接，并通过所述泛音晶体5形成一个三倍频信号，对所述第一SMA连接器1的输出信号进行滤波，所述第一电容3和所述第一电感4形成一个三倍频信号。
[0024]进一步地，所述带通滤波模组包括第二电容8和第二电感9，所述第二电容8分别与所述第二电感9和所述第二门芯片7电性连接。
[0025]在本实施方式中，所述第二电容8和所述第二电感9连接，所述第二电容8和所述第二电感9对所述第一门芯片2的输出信号进行滤波。
[0026]进一步地，所述第一门芯片2的1引脚悬空，所述第一门芯片2的2引脚输入端与所述第一SMA连接器1相连，所述第一门芯片2的3引脚接地；所述第一门芯片2的4引脚输出端与所述第一电容3相连，所述第一门芯片2的5引脚接电源。
[0027]在本实施方式中，所述第一门芯片2具有1引脚、2引脚、3引脚、4引脚、5引脚，所述第一门芯片2的1引脚悬空，所述第一门芯片2的2引脚输入端与所述第一SMA连接器1相连，所述第一门芯片2的3引脚接地，所述第一门芯片2的4引脚输出端与所述第一电容3相连，所述第一门芯片2的5引脚接电源；通过将晶体振荡器的输出频率进行倍频后，再接入测试仪器进行测试，获得便于对频率较低的晶体振荡器进行测试的效果。
[0028]以上所揭露的仅为本技术一种较佳实施例而已，当然不能以此来限定本技术之权利范围，本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分流程，并依本技术权利要求所作的等同变化，仍属于技术所涵盖的范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种三倍频模块，其特征在于，包括第一SMA连接器、第一门芯片、滤波模组、泛音晶体、第二SMA连接器、第二门芯片和带通滤波模组，所述第一门芯片分别与所述第一SMA连接器和所述滤波模组电性连接，所述第二门芯片分别与所述第二SMA连接器和所述带通滤波模组电性连接，所述泛音晶体设置于所述滤波模组和所述带通滤波模组之间。2.如权利要求1所述的三倍频模块，其特征在于，所述滤波模组包括第一电容和第一电感，所述第一电容分别与所述第一电感和所述第一门芯片电...

【专利技术属性】
技术研发人员：高志祥，胡宝浩，李冬强，侯丽，王连生，宗春旭，
申请(专利权)人：南京中电熊猫晶体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：